荧光粉相对亮度检测仪制造技术

本实用新型专利技术是一种利用光学手段对荧光粉相对亮度进行检测的装置。现有亮度计在有限的立体角范围取出荧光信号，随机误差大、精度低。本装置在激发光源和试样盘间设置中空球状且内壁涂覆有漫反射材料的光度球，被测荧光粉试样受激发后，经光度球内壁的多次漫反射后，形成一均匀的荧光信号，，由探测器接收，信号经处理后输出。本实用新型专利技术结构简单、使用方便，尤其是检测精度较高，可以广泛应用于照明器具和显象管荧光屏生产行业对荧光粉的亮度检测。（*该技术在2000年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种利用光学手段、即利用紫外光或电子束作为激发源激光被测发光材料，尤其是荧光粉，进行相对亮度检测的装置，主要应用于照明器具和显象管荧光屏生产领域对荧光粉的相对发光亮度进行检测。现有公开使用的对荧光粉相对亮度的测试，主要根据国家标准(GB4071－83，GB4072－83)即利用国标对应的两种检测装置。其技术构成分别是1、一与垂直方向成一夹角(一般为45°)的柱状筒体，在筒体的上端安置激发光源一紫外灯，经滤光片滤光后，激发光束与垂直方向成一夹角照射被测荧光粉试样，激发荧光粉试样发光，在垂直方向上一定立体角内的荧光由光电池探测，光电信号由指示仪表读出。2、电子束激发源与荧光粉试样共置于一密封的真空容器内。电子束激发源垂直作用于被测荧光粉试样，光电池与垂直的电子束成一定夹角(一般也为45°)设置，取出荧光粉受电子束激发后产生的光亮度信号，然后在指示仪表读出。上述两种技术构成的荧光粉检测装置虽然激发源有区别，但共同存在的不足之处是由于光电池仅取出荧光粉试样在一定立体角内反射荧光信号，而被测荧光粉试样实际上在粒度、粉粒形状、试样表面状态等方面存在差异，势必使发出的荧光在各方向的分布上存在差别，其中包括荧光亮度、荧光偏振度、荧光光谱等。因此在一立体角取出的荧光光亮度信号具有较大的随机性，并不能真实地体现被测荧光粉试样的相对亮度值。又如西川泰治、平木敬三著的《光·yh光分析法》1984.11.P52。公开的一种荧光计也是由激发光源激发被测荧光粉试样发光，在一个方向上由光电探测器取出荧光粉光亮度信号，其不足之处与前述的相同，也是随机性大，精确度不高。本技术的目的就在于克服现有技术中存在的上述不足，而提供一种使用方便，测量精度高的荧光粉相对亮度检测仪。本技术的目的是通过下列技术手段来实现的。本技术仍采用紫外光源或电子束作为激发源，将被测荧光粉试样置于试样盘内，该试样盘位于激发源的垂直正下方，在试样盘与激发源的之间设置了一中空球形的内壁涂覆有漫反射材料的光度球，激发源激发被测荧光粉试样，经光度球内壁的多次漫反射后，由光亮度信号探测器采集均匀的荧光信号，通过比较被测试样与标准试样的荧光信号值，得出被测荧光粉的相对亮度值。 附图说明如下图1是本技术基本结构示意图。图2是带有导光管的相对亮度检测仪结构示意图。图3是阴极射线作为激发源的相对亮度检测仪结构示意图。图4是附有聚光透镜的相对亮度检测仪结构示意图。图5是带有聚光反射镜的相对亮度检测仪结构示意图。图6是本技术最佳实施例结构示意图。本技术将结合附图作进一步的详述。如图1所示的本技术相对亮度检测仪基本结构示意图。主要构成为激发光源1、试样盘2、光度球3、探测器4和信号处理与输出装置5。激发光源1采用波长为253.7nm或365.0nm的紫外光，试样盘2置于激发光源1的正下方，并且与激发光束垂直。激发光源1和试样盘2之间是一中空薄壁球形的且内壁涂覆有漫反射材料(如MgO、BaSO粉末)的光度球3，该光度球3过圆心的垂直方向两端开孔，一孔与激发光源1联接，一孔与试样盘2对中。试样盘2中的被测荧光粉经激发光源1激发，经过光度球3内壁的多次漫反射后，使探测器4接收到一均匀的无偏振的荧光信号并转换成电信号，由信号处理和输出装置5显示或打印。探测器4的安装位置与检测精度有影响，应避免激发光源或荧光粉试样的直接照射或反射，所以本实施例中将探测器4安装在与激发光束垂直的位置。图1中的探测器4和信号处理与输出装置5与现有技术中的光电探测器，无本质差异，故不再累述。如图2所示的带有导光管的相对亮度检测仪，与图1所示基本结构不同的是在光度球内装有一截只能透可见光，不能透紫外激发光的玻璃导光管6。使紫外激发光只能沿导光管照射试样，避免紫外线直射到球壁引起杂散荧光或直接照射探测器4上引起随机误差。导光管6的直径应与激发光束相适应，也即是导光管6应包含激发光束。同时导光管6的轴线应与激发光束平行。如图3所示以阴极射线作为激发源的相对亮度检测仪。图3中7为阴极射线激发源，8为偏转线圈，9为真空箱，考虑到7、8、9均为现有技术，其构成不再累述。如图4－－图5所示的带有聚光透镜或聚光反射镜的相对亮度检测仪。激发光源1产生的激发信号经过会聚元件聚光透镜10或聚光反射镜11的会聚，使激发荧光粉试样的激发信号集中，能量增强，而且能避免激发信号照射到球壁和探测器引起误差。如图6所示的是本技术的最佳实施例结构示意图。从工作要求和经济性综合考虑，在光度球3内采用导光管6，使激发光束通过导光管6，激发试样盘内的荧光粉试样。为了避免荧光粉试样被激发后直接反射到探测器4，在试样盘2和探测器4两者连线上设置一挡光屏12，挡光屏12面积大小与试样盘2和探测器4的面积大小相适，试样盘2可分成若干格，并可绕轴转动。以便同时可检测几种荧光粉试样，提高检测效率。本技术与现有技术相比所具有的优点是很显然的，在非理想状态检测中，由于荧光粉的精度、粉粒形状、试样的表面状态(如温度、湿度等因素)以及偏振情况都会存在一定的差别，因此从一定立体角范围内测量荧光信号的大小来确定荧光粉的相对亮度，显然随机误差较大。采用光度球后，被测荧光粉向空间各方向发出的荧光全部收集，并由探测器4接收均匀的荧光信号，当荧光粉发光带有部分偏振时，经过光度球3的混光后，也将变为完全非偏振光，与实际使用中的荧光粉发光情况接近，因此测得的荧光粉相对亮度较为真实，随机误差较小。其次本技术结构简单，使用也很方便，易于推广使用。权利要求1.一种荧光粉相对亮度检测仪，主要包括有激发源(1)、试样盘(2)、信号处理与输出装置(5)，其特征在于在激发源(1)和试样盘(2)之间有一中空球形的且内壁涂覆有漫反射材料的光度球(3)，激发源(1)激发被测荧光粉试样，经光度球(3)内壁的多次漫光射后，由信号处理与输出装置(5)的探测器(4)采集均匀的荧光信号。2.如权利要求1所述的检测仪，其特征在于在光度球(3)内过球心垂直设置有与激发源(1)光束平行的导光管(6)。3.如权利要求1所述的检测仪，其特征在于激发源(1)内设置有聚光元件(7)。4.如权利要求1或2所述的检测仪，其特征在于在试样盘(2)与探测器(4)连线之间安装有防止试样直接反射到探测器4上的挡光屏(12)。专利摘要本技术是一种利用光学手段对荧光粉相对亮度进行检测的装置。现有亮度计在有限的立体角范围取出荧光信号，随机误差大、精度低。本装置在激发光源和试样盘间设置中空球状且内壁涂覆有漫反射材料的光度球，被测荧光粉试样受激发后，经光度球内壁的多次漫反射后，形成一均匀的荧光信号，，由探测器接收，信号经处理后输出。本技术结构简单、使用方便，尤其是检测精度较高，可以广泛应用于照明器具和显象管荧光屏生产行业对荧光粉的亮度检测。文档编号G01J1/10GK2064883SQ90200628公开日1990年10月31日 申请日期1990年1月13日 优先权日1990年1月13日专利技术者李呈华, 张大庆 申请人:李呈华本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种荧光粉相对亮度检测仪，主要包括有激发源（１）、试样盘（２）、信号处理与输出装置（５），其特征在于：在激发源（１）和试样盘（２）之间有一中空球形的且内壁涂覆有漫反射材料的光度球（３），激发源（１）激发被测荧光粉试样，经光度球（３）内壁的多次漫光射后，由信号处理与输出装置（５）的探测器（４）采集均匀的荧光信号。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李呈华，张大庆，
申请(专利权)人：李呈华，
类型：实用新型
国别省市：33[中国|浙江]