对液晶生产中灰尘检查装置的测定数据自动处理的方法制造方法及图纸

本发明专利技术针对液晶显示屏制造中的灰尘检查装置，揭示了一种能自动实时采集制品的测定数据的方法，通过该方法能够实现实时获取制品的灰尘检查数据，并通过数据处理模块加以分解处理，从而能够运用于数据分析系统中，便于技术人员及时对于制品及装置的状况进行分析，从而解决以前手工输入数据的效率低下、数据精度差的问题，为技术、品质人员进行数据分析，降低产品的不良率，提高产品的质量提供了很大的帮助。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种对灰尘检查装置的测定数据进行自动数据收集加以处理的 方法，特别涉及运用于液晶屏的制造业中测定数据进行自动数据收集加以处理 的方法。
技术介绍
对于生产或检查装置的数据整理方法很多，如图1所示，现有的灰尘检查装置产生测定数据(步骤l)，该些测定数据显示在主机上(步骤2)，技术人员 手工从主机加工整理数据(步骤3)，然后是人工输入至数据分析软件中的(步 骤4)，该数据整理方法效率低，精度差。由于液晶屏制造是不间断的流水线作业，产量高，所以生产线上产生的数 据是实时传送的，而且数据量非常大，人工进行数据的加工整理和输入效率低、 准确性差，而灰尘检查装置的测定数据对于产品质量和生产装置状况来说又是 极为重要的判定依据，所以需要对数据的处理方法加以改善。现有的技术存在以下不足1. 测定数据通过手工加工整理，数据的精度低，可靠性差，效率很低；2. 整理后的数据也是人工发送至数据分析软件，花费了大量的人工；3. 由于是手工发送,数据的实时性差；4. 灰尘检查装置的一个重要判断数据由二次测定的差值无法直接获得，需通 过人工计算后得到。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种对液晶生产中灰尘检查装置的实时传送测 定数据进行自动加工处理的方法，通过该方法提高测定数据的精度、实时性及 工作效率。为达到上述目的，本专利技术提供一种液晶生产中灰尘检查装置的实对传送测定数据进行自动加工处理的方法，其包括以下步骤 步骤ll，灰尘检查装置产生测定数据； 步骤12,主机显示并存储灰尘检查装置产生的测定数据； 步骤13,数据处理模块从主机获取测定数据后自动加工处理、自动发送测定数据；步骤14,上述被数据处理模块处理后的测定数据被运用于数据分析和报表 系统中。本专利技术由于采用了上述的技术方案，使之与现有技术相比，具有以下的优 点和积相j丈果1. 测定数据通过数据处理模块实时加工整理，数据的精度高，可靠性高， 效率大大提高；2. 加工整理后的数据自动发送至数据分析软件，节省了大量的人工；3. 由于是自动发送数据，数据的实时性强；4. 灰尘检查装置的一个重要判断数据二次测定的差值能够通过程序自动 运算出来后发送至数据分析软件，便于技术人员及时作出分析、判断。附图说明图1为现有灰尘检查装置处理测定数据方法的流程图； 图2为本专利技术灰尘检查装置的实时传送测定数据进行自动加工处理方法的 流程图3为本专利技术数据处理;漠块和数据分析软件流程图。 具体实施例方式以下将结合附图对本专利技术的液晶生产中灰尘检查装置的测定数据自动处理 的方法作进一 步的详细描述。如图2所示，为本专利技术灰尘检查装置的实时传送测定数据进行自动加工处 理方法的流程图。首先，灰尘检查装置产生测定数据(步骤ll),主机显示并存 储灰尘检查装置产生的测定数据(步骤12 ),数据处理模块从主机获取测定数据 后自动加工处理、自动发送测定数据(步骤13)，最后，上述被数据处理模块处理后的测定数据被运用于数据分析和报表系统中(步骤14 )。如图3所示，为本专利技术数据处理模块和数据分析软件流程图。数据处理模 块从主机获取测定数据(步骤21)，判断数据的总长度是否和规格相符(步骤 22),如果相符则继续下一步骤；如果不相符，则报错并返回到步骤21;根据该 灰尘检查装置的规格，解吸电文取出每个项目的数据(步骤23),判断该流水号 (Lot号)是否是第一次测定值(步骤24),如果是第一次测定值，将第一次测 定值取出，并保存数据(包括Lot号、测定次数)(步骤25 );如果不是第一次 测定值，则将第二次测定值取出并保存数据(包括Lot号、测定次数)(步骤26); 然后按Lot号计算两次测定的差值(步骤27 );按Lot号将差值、第一次测定值、 第二次测定值发送至数据分析软件接口 (步骤28 );数据分析软件中实时显示出 差值、第一次测定值、第二次测定值的图形趋势线，供技术人员作判断分析(步 骤29);最后查看是否处理成功(步骤30)，如果处理成功，则发出反馈信息并 返回到步骤21;如果不成功，则将处理失败电文存放于固定目录下(步骤31)， 最后发出反馈信息并返回到步骤21。以上数据处理模块实时处理装置传来的测定数据，并把两次测定值以及差 值保存，并传送至数据分析软件，得到图形趋势线，由于差值是体现装置状况 良好的重要依据，所以技术人员可以通过分析该数值的变化状况作出判断。 本专利技术由于与现有技术相比，具有以下的优点和积极效果1. 测定数据通过数据处理模块实时加工整理，数据的精度高，可靠性高， 效率大大提高；2. 加工整理后的数据自动发送至数据分析软件，节省了大量的人工；3. 由于是自动发送数据，数据的实时性强；4. 灰尘检查装置的一个重要判断数据由二次测定的差值能够通过程序自动 运算出来后发送至数据分析软件，便于技术人员及时作出分析、判断。以上介绍的仅仅是基于本专利技术的较佳实施例，并不能以此来限定本专利技术的 范围。任何对本专利技术的测量装置作本
内熟知的步骤的替换、组合、分 立，以及对本专利技术实施步骤作本
内熟知的等同改变或替换均不超出本 专利技术的揭露以及保护范围。权利要求1. 一种，其特征在于，其包括以下步骤步骤11，灰尘检查装置产生测定数据；步骤12，主机显示并存储灰尘检查装置产生的测定数据；步骤13，数据处理模块从主机获取测定数据后自动加工处理、自动发送测定数据；步骤14，上述被数据处理模块处理后的测定数据被运用于数据分析和报表系统中。2. 如权利要求1所述的液晶生产中灰尘检查装置的测定数据自动处理的方 法，其特征在于，所述测定数据从数据处理模块到数据分析包括以下步骤步骤21，数据处理模块从主机获取测定数据；步骤22,判断数据的总长度是否和规格相符，如果相符则继续下一步骤； 如果不相符，则报错并返回到步骤21;步骤23,根据该灰尘检查装置的规格，解吸电文取出每个项目的数据； 步骤24，判断该流水号是否是第一次测定值；步骤25，如果是第一次测定值，将第一次测定值取出，并保存数据(包括 Lot号、测定次数)；步骤26,如果不是第一次测定值，则将第二次测定值取出并保存数据(包 括Lot号、测定次数)；步骤27，然后按流水号计算两次测定的差值；步骤28,按流水号将差值、第一次测定值、第二次测定值发送至数据分析 软件接口；步骤29,数据分析软件中实时显示出差值、第一次测定值、第二次测定值 的图形趋势线，供技术人员作判断分析；步骤30，查看是否处理成功，如果处理成功，则发出反馈信息并返回到步骤21;步骤31，如果不成功，则将处理失败电文存放于固定目录下，最后发出反 馈信息并返回到步骤21。全文摘要本专利技术针对液晶显示屏制造中的灰尘检查装置，揭示了一种能自动实时采集制品的测定数据的方法，通过该方法能够实现实时获取制品的灰尘检查数据，并通过数据处理模块加以分解处理，从而能够运用于数据分析系统中，便于技术人员及时对于制品及装置的状况进行分析，从而解决以前手工输入数据的效率低下、数据精度差的问题，为技术、品质人员进行数据分析，降低产品的不良率，提高产品的质量提供了很大的帮助。文档编号G01N35/00GK101393106SQ20071004608公开日2009年3月25日 申请日期2007年9月18日 优先权本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对液晶生产中灰尘检查装置的测定数据自动处理的方法，其特征在于，其包括以下步骤：　步骤１１，灰尘检查装置产生测定数据；　步骤１２，主机显示并存储灰尘检查装置产生的测定数据；　步骤１３，数据处理模块从主机获取测定数据后自动加工处理、自动发送测定数据；　步骤１４，上述被数据处理模块处理后的测定数据被运用于数据分析和报表系统中。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张培培，
申请(专利权)人：上海广电NEC液晶显示器有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]