【技术实现步骤摘要】
本专利技术提供一种，属于材料微观结构表 征和晶体结构解析的
技术介绍
现有测定未知晶体布拉菲点阵的方法主要有x射线衍射法和电子衍射法，前者使用X 射线衍射仪对样品作扫描，典型的x射线衍射谱包含有晶面间距和衍射强度的信息，但是丢失了晶面间夹角等三维的晶体学信息，该方法适用于分析块状和粉末试样，晶面间距的测量 精度相对较高，但衍射强度受材料织构等因素的影响，对于未知结构的样品，需要事先知道样品的化学成分，其主要缺点是x射线衍射谱反映了试样内部所有相的结构信息，如果试样 含有多个组成相，则x射线衍射方法本身无法分离每个相的衍射峰，此外这种方法也无法将材料内部组织的微观形貌与结构信息联系起来；后者使用透射电子显微镜中的选区电子衍射， 选区电子衍射在给出晶面间距和衍射强度信息的同时，提供了晶面间夹角等晶体学信息，因 此利用多张单晶的选区电子衍射谱可以重构其三维倒易点阵，进而确定未知晶体的布拉菲点 阵，该方法能够在观察材料组织形貌的同时，研究晶体的结构信息，但缺点是样品制备较为 困难，要求样品必须是电子束透明的薄膜，然而严格意义上来说，薄膜试样内的结构信息并 不能...
【技术保护点】
一种电子背散射衍射确定未知晶体布拉菲点阵的方法，其特征在于包括以下步骤：１）获得电子背散射衍射谱，并测量衍射谱中的晶体衍射信息；２）获得晶体的二维倒易面；３）由二维倒易面重构三维倒易初基胞；４）利用菊池带宽度以及同一菊池极中菊池带之间的夹角求解三维倒易初基胞的晶胞参数；５）求解晶体的倒易约化胞；６）在倒易空间中确定晶体的布拉菲点阵；７）确定晶体的布拉菲点阵。
【技术特征摘要】
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