【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种气体传感器,特别涉及一种气体折射率传感器。
技术介绍
气体的折射率可以直接反映和衡量气体的压力、密度、组成以及温度, 因此精确的测量气体的折射率可以观测气体的上述指标。现有技术中通常采 用的气体折射率传感器通过光纤腔干涉的方法测量气体折射率。但是这种气 体传感器体积比较大,不适合于气体的样本非常少的测量条件,并且也不适 合于与其他光学设备的集成。光子晶体是一种人造的介电系数周期性变化(光波长尺度)的介质结构。 与晶体中电子受周期势场的作用而形成电子能带相类似,在这种周期介质结 构中允许传播的光子能量呈带状分布,即形成所谓的光子能带,故称为光子 晶体。光子晶体能禁止处于光子带隙频域内的光传播,即禁带效应,因此在 光子晶体中引进缺陷形成带隙限制的"光子局域",具有带隙限制导波和微 腔谐振的独特功能,会影响(或改变)光子晶体中原子和分子的发光过程及 光的传播特性。光子晶体的这些特点为设计微型折射率敏感的传感器件提供 了新的平台。近几年,基于光子晶体设计的微型折射率敏感的传感器相继问世。由于这种传感器有较高的微腔谐振品质因素和很小的传感面积(每10 ...
【技术保护点】
一种气体折射率传感器,包括: 一光子晶体模块,该光子晶体模块进一步包括: 一基体,该基体包括第一平面及与第一平面相对的第二平面; 大量气孔,该气孔设置于上述基体上,垂直贯穿于第一平面和第二平面; 一谐振腔,该谐振腔为位于基体中心位置的气孔,其直径小于其它气孔的直径; 一第一波导与一第二波导,该第一波导与第二波导设置于上述谐振腔的两端,分别与上述谐振腔之间相隔多个气孔; 一光源,该光源设置于晶体模块的一端,对应第一波导设置; 一探测器,该探测器设置于晶体模块的另一端,对应第二波导设置; 其特征在于,所述第一波导与第二波导为该光子晶体模块上的两个线缺陷,由未设置气孔的部分基体构成。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:王晓玲,金国藩,朱钧,
申请(专利权)人:清华大学,鸿富锦精密工业深圳有限公司,
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]
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