【技术实现步骤摘要】
芯片采样准位确定方法及装置
本公开涉及芯片测试
，具体而言，涉及一种芯片采样准位确定方法、装置、计算机可读介质及电子设备。
技术介绍
通过测试机对内存芯片进行读取数据的测试时，需要首先确定测试机的信号采样点。由于每一颗内存芯片输出数据信号的时间起始点都不尽相同，若采用不准确的信号采样点对内存芯片输出的数据信号进行采样，测试机可能采样到错误的信号，导致读取的数据不准确，从而影响测试结果。因此，如何能够实现内存芯片的采样准位的准确定位是目前亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本公开实施例的目的在于提供一种芯片采样准位确定方法、装置、计算机可读介质及电子设备，进而至少在一定程度上实现内存芯片的采样准位的准确定位。本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。根据本公开实施例的一个方面，提供了一种芯片采样准位确定方法，包括：获取待测芯片的多个并行通道的数据信号，各数据信号波形相同；按照第一间隔给各通道的数据信号设置第一测试采样点；根据各数据信号的...
【技术保护点】
1.一种芯片采样准位确定方法，其特征在于，包括：/n获取待测芯片的多个并行通道的数据信号，各数据信号波形相同；/n按照第一间隔给各通道的数据信号设置第一测试采样点；/n根据各数据信号的第一测试采样点，获取各数据信号的第一采样电压；/n根据各第一采样电压确定所述待测芯片的采样准位。/n
【技术特征摘要】
1.一种芯片采样准位确定方法，其特征在于，包括：
获取待测芯片的多个并行通道的数据信号，各数据信号波形相同；
按照第一间隔给各通道的数据信号设置第一测试采样点；
根据各数据信号的第一测试采样点，获取各数据信号的第一采样电压；
根据各第一采样电压确定所述待测芯片的采样准位。
2.根据权利要求1所述的芯片采样准位确定方法，其特征在于，获取待测芯片的多个并行通道的数据信号，包括：
向所述待测芯片发送写控制信号，以使所述待测芯片中写入模拟数据；
向所述待测芯片发送读控制信号，以从所述待测芯片读取所述模拟数据；
接收所述待测芯片的各通道并行输出的与所述模拟数据对应的数据信号。
3.根据权利要求1所述的芯片采样准位确定方法，其特征在于，所述第一间隔小于所述数据信号的四分之一周期。
4.根据权利要求1所述的芯片采样准位确定方法，其特征在于，根据各第一采样电压确定所述待测芯片的采样准位，包括：
将各第一采样电压与准位电压的差值绝对值，分别与所述数据信号的幅值进行比较，获得差值结果；
根据所述差值结果确定所述采样准位。
5.根据权利要求4所述的芯片采样准位确定方法，其特征在于，根据所述差值结果确定所述采样准位，包括：
选取所述差值结果中的最小值对应的第一测试采样点作为所述采样准位。
6.根据权利要求4所述的芯片采样准位确定方法，其特征在于，根据所述差值结果确定所述采样准位，包括：
选取所述差值结果中的最大值对应的第一测试采样点作为信号切换位置；
将相邻两个所述信号切换位置的中间值作为所述待测芯片的采样准位。
7.根据权利要求1所述的芯片采样准位确定方法，其特征在于，根据各第一采样电压确定所述待测芯片的采样准位，包括：
将各第一采样电压分别与准位电压比较，获得第一比较结果；
若所述第一比较结果为所述第一采样电压大于所述准位电压，则将相应的第一测试采样点标记为第一信号；
若所述第一比较结果为所述第一采样电压小于所述准位电压，则将相应的第一测试采样点标记为第二信号；
按照各第一测试采样点对应的采样位置的顺序，对相应的第一信号或者第二信号进行排序；
根据排序后的第一信号和第二信号，确定所述待测芯片的采样准位。
8.根据权利要求7所述的芯片采样准位确定方法，其特征在于，根据排序后的第一信号和第二信号，确定所述待测芯片的采样准位，包括：
若排序后的第一信号和第二信号中，一段连续的第一信号或者一段连续的第二信号的中间位置对应一个第一测试采样点，则将所述中间位置对应的第一测试采样点作为所述待测芯片的采样准位。
9.根据权利要求7所述的芯片采样准位确定方法，其特征在于，根据排序后的第一信号和第二信号，确定所述待测芯片的采样准位，包括：
若排序后的第一信号和第二信号中，一段连续的第一信号或者一段连续的第二信号的中间位置对应两个第一测试采样点，则随机选择所述两个第一测试采样点中的任意一个作为所述待测芯片的采样准位；或者
将所述两个第一测试采样点的中间值作为所述待测芯片的采样准位。
10.根据权利要求7所述的芯片采样准位确定方法，其特征在于，根据排序后的第一信号和第二信号...
【专利技术属性】
技术研发人员：陆天辰，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34
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