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本公开的实施例提供了一种芯片采样准位确定方法、装置、计算机可读介质及电子设备。该芯片采样准位确定方法包括：获取待测芯片的多个并行通道的数据信号，各数据信号波形相同；按照第一间隔给各通道的数据信号设置第一测试采样点；根据各数据信号的第一测试采...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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