【技术实现步骤摘要】
检测电路故障的方法及其装置
本专利技术涉及一种检测电路故障的方法及相关装置，尤指一种基于正规方法，用来在缓存器传输层级设计时间，检测数字集成电路故障的方法及相关装置。
技术介绍
集成电路(integratedcircuit，IC)通常通过缓存器传输层级(RegisterTransferLevel，RTL)进行逻辑设计，即以硬件描述语言如Verilog-HDL来描述集成电路。在RTL设计时间完成后，需经过相当繁琐的测试流程，方能定案电路。若在电路定案时才发现RTL设计错误，而导致电路故障(Malfunction)，则须回头修改RTL设计并重新进行测试流程，或试着读懂电路并进行高困难度的直接修改(通常称为ECO，EngineeringChangeOrder)，但无论哪一种方式，都大量损耗资源(重新设计的时间和资金的浪费)。目前确保RTL设计正确性的方式，主要以仿真(simulation)和语法检测(lintcheck)为主。简而言之，模拟检测为先推测在特定场景下电路的行为，再使用软件处理RTL设计，得到该场景实际的电路行...
【技术保护点】
1.一种检测电路故障的方法，用于一缓存器传输层级设计时间，该方法包含有：/n从基于该缓存器传输层级设计时间的一电路模型中，取得每个缓存器的各个信号点；/n根据每个缓存器的各个信号点，产生一属性列表，其中该属性列表包含各个信号点欲验证的一属性；/n根据该电路模型及该属性列表，进行一正规验证操作，用来决定在该电路模型中，该属性列表中的各个信号点的该属性是否成立；以及/n根据属性不成立的信号点，产生一电路故障原因。/n
【技术特征摘要】
1.一种检测电路故障的方法，用于一缓存器传输层级设计时间，该方法包含有：
从基于该缓存器传输层级设计时间的一电路模型中，取得每个缓存器的各个信号点；
根据每个缓存器的各个信号点，产生一属性列表，其中该属性列表包含各个信号点欲验证的一属性；
根据该电路模型及该属性列表，进行一正规验证操作，用来决定在该电路模型中，该属性列表中的各个信号点的该属性是否成立；以及
根据属性不成立的信号点，产生一电路故障原因。
2.如权利要求1所述的方法，其中该属性为一信号点的一切换能力，以及该属性列表包含缓存器的一频率、一重置、一输出及一输入的信号点的切换能力。
3.如权利要求2所述的方法，还包含有：
当该频率、重置、输入及输出的信号点的至少其中之一的该属性不成立时，判断该频率、重置、输入及输出的信号点的至少其中之一不具切换能力。
4.如权利要求3所述的方法，其中根据属性不成立的信号点，产生该电路故障原因的步骤包含有：
对不具切换能力的信号点所对应的缓存器中的各个信号点，进行检视，以产生该电路故障原因。
5.如权利要求2所述的方法，还包含有：
当决定一信号点的该属性不成立时，判断该信号点不具切换能力；
产生不具切换能力之信号点的一信号列表；以及
根据该信号列表，产生该电路故障原因，以修正该电路模型。
6.一种电子装置，用于一缓存器传输层...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗翊修，陈勇仁，罗幼岚，高淑怡，
申请(专利权)人：瑞昱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71
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