一种基于库单元的时钟树健壮度检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于库单元的时钟树健壮度检测方法及装置，包括：扫描待检测时钟树的工艺库单元，选取满足第一预设条件的特定时钟树单元；扫描特定时钟树单元，检测所有特定时钟树单元是否满足第二预设条件的特定阈值电压单元；在检测到所有特定时钟树单元中存在不满足第二预设条件的特定阈值电压单元时，判断待检测时钟树的健壮度较低；在检测到所有特定时钟树单元均满足第二预设条件的特定阈值电压单元时，判断待检测时钟树的健壮度较高。本发明专利技术实施例准确得到时钟树健壮度的检测结果。

A clock tree robustness detection method and device based on library unit

【技术实现步骤摘要】
一种基于库单元的时钟树健壮度检测方法及装置
本专利技术涉及芯片设计
，尤其是涉及一种基于库单元的时钟树健壮度检测方法及装置。
技术介绍
目前集成电路事业蓬勃发展，随着芯片集成度越来越高，芯片面积越来越大，芯片时序收敛也变得越来越有难度。而时序收敛的重中之重时钟树的建立也成为业界重点研究和发展的对象。主要的电子设计自动化工具供应商都针对时钟树发展了很多算法来提升和改进时钟树的质量。但是在不同的工艺和芯片应用方向上，时钟树的建立要求和实现方式还是多种多样的，并且与使用工具的工程师的想法和经验有很大相关性。因此针对时钟树质量的检测显得极为重要。本专利技术的专利技术人在研究中发现，现有技术在时钟树建立过程中的相关实现作为依据，来保证时钟树的健壮度，但是由于现有技术在时钟树建立后没有任何的检测机制，导致无法保证检测时钟树的健壮度，造成芯片的时序收敛效率较差。
技术实现思路
本专利技术提供一种基于库单元的时钟树健壮度检测方法及装置，以解决现有技术无法保证检测时钟树的健壮度，造成芯片的时序收敛效率较差的技术问题。本专利技术的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于库单元的时钟树健壮度检测方法，其特征在于，包括：/n扫描待检测时钟树的工艺库单元，选取满足第一预设条件的特定时钟树单元；/n扫描所述特定时钟树单元，检测所有所述特定时钟树单元是否满足第二预设条件的特定阈值电压单元；/n在检测到所有所述特定时钟树单元中存在不满足所述第二预设条件的特定阈值电压单元时，判断所述待检测时钟树的健壮度较低；/n在检测到所有所述特定时钟树单元均满足所述第二预设条件的特定阈值电压单元时，判断所述待检测时钟树的健壮度较高。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于库单元的时钟树健壮度检测方法，其特征在于，包括：
扫描待检测时钟树的工艺库单元，选取满足第一预设条件的特定时钟树单元；
扫描所述特定时钟树单元，检测所有所述特定时钟树单元是否满足第二预设条件的特定阈值电压单元；
在检测到所有所述特定时钟树单元中存在不满足所述第二预设条件的特定阈值电压单元时，判断所述待检测时钟树的健壮度较低；
在检测到所有所述特定时钟树单元均满足所述第二预设条件的特定阈值电压单元时，判断所述待检测时钟树的健壮度较高。


2.如权利要求1所述的基于库单元的时钟树健壮度检测方法，其特征在于，在判断所述待检测时钟树的健壮度较低后，将所述不满足所述第二预设条件的特定阈值电压单元更换为同时满足所述第一预设条件和所述第二预设条件的时钟树单元。


3.如权利要求1-2任一项所述的基于库单元的时钟树健壮度检测方法，其特征在于，所述第一预设条件为时钟树单元名称中特定位置为特定样式；所述第二预设条件为时钟树单元名称中特定位置为特定样式。


4.如权利要求3所述的基于库单元的时钟树健壮度检测方法，其特征在于，所述第一预设条件为时钟树单元名称中前缀名为CLK*；所述第二预设条件为时钟树单元名称中后缀名为CLK*。


5.一种基于库...

【专利技术属性】
技术研发人员：王锐，刘一杰，莫军，李建军，王亚波，
申请(专利权)人：广芯微电子广州股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44