一种形式验证比较点匹配方法、系统、处理器及存储器技术方案

本发明专利技术公开了一种形式验证比较点匹配方法、系统、处理器及存储器，该方法包括：接收待验证的时序电路的参考电路模型和实现电路模型；控制参考电路模型和实现电路模型待匹配的比较点的测试向量随机生成，使得参考电路模型和实现电路模型的比较点的输出值可进行二叉树匹配；基于二叉树匹配对参考电路模型的待匹配的各比较点的输出值与实现电路模型的待匹配的各比较点的输出值进行匹配，直至参考电路模型和实现电路模型所有比较点全部一一匹配成功，则验证成功；若存在参考电路模型和实现电路模型待匹配的比较点匹配失败，则验证失败。本发明专利技术降低了时序电路等价检验过程中对应比较点的匹配复杂度，降低了匹配时间，降低了内存的消耗。

【技术实现步骤摘要】
一种形式验证比较点匹配方法、系统、处理器及存储器
本专利技术涉及时序电路的等价性验证
，特别是涉及识别和匹配两个时序电路的对应比较点的一种形式验证比较点匹配方法、系统、处理器及存储器。
技术介绍
组合等价检验是证明或反驳两个电路设计的功能等价性的验证方法。这种验证方法特别适用于仅使用组合综合技术进行优化的情况。两个电路设计（一个称为参考电路，另一个称为实现电路）的对应组合块可以使用组合形式技术进行比较和验证。随着电路设计的规模越来越大和越来越复杂，利用组合等价检验的验证方法，从而提供快速的周转验证时间和完整的验证，正迅速地在传统的基于仿真的验证方法上取得进展。对于时序电路，应用组合等价检验的一个重要步骤是识别和匹配待验证的两个电路设计中的对应比较点。电路设计中的比较点是验证期间的组合逻辑端点。比较点可以是输出端口、寄存器、锁存器或黑盒输入引脚。商业验证工具中的比较点匹配方法大致可分为两类：非功能匹配的方法和功能匹配的方法。非功能匹配的方法使用名称或结构比较来匹配电路设计中的比较点。在大多数生产验证流程中，比较点的很大一部分通常使用非功能匹配的方法进行匹配。由于设计转换不保留信号名称或显著修改部分设计的电路结构，大量比较点通常不匹配。功能匹配的方法是唯一可行的自动方法，用于匹配剩余的比较点。目前，大部分功能匹配的方法基于定点计算的精确方法，在每个时序电路的设计中给定N个存储元件（锁存器，寄存器等），就有N!个可能的组合来匹配它们。在最坏的情况下，所有这些精确地方法可能都必须枚举所有的组合，这就使得比较点匹配的复杂度很高，致使计算时间长，内存占用大。还有基于功能匹配的启发式方法，通过在比较点之间建立不等价关系，然后通过使用不等价信息将最有可能等价的点分组成对，假设给定N个比较点，采用这种方法的计算复杂度是N-1，比精确计算的复杂度减小。但是，当比较点较多时，计算时间依旧会很长，同时存储不等价信息占用的内存也会很大。因此，如何设计一种能够快速的识别和匹配待验证的两个电路设计中的对应比较点的匹配方法是业界亟待解决的技术问题。
技术实现思路
为了解决上述现有技术中识别和匹配待验证的两个电路设计中的对应比较点的时间长的技术问题，本专利技术提出一种形式验证比较点匹配方法、系统、处理器及存储器。本专利技术首先提出一种形式验证比较点匹配方法，包括：步骤S1:接收待验证的时序电路的参考电路模型和实现电路模型，还包括：步骤S2:控制参考电路模型和实现电路模型待匹配的比较点的测试向量随机生成，使得参考电路模型和实现电路模型的比较点的输出值可进行二叉树匹配；步骤S3：基于二叉树匹配对参考电路模型的待匹配的各比较点的输出值与实现电路模型的待匹配的各比较点的输出值进行匹配，直至参考电路模型和实现电路模型所有比较点全部一一匹配成功，则验证成功；若存在参考电路模型和实现电路模型待匹配的比较点匹配失败，则验证失败。在一实施方式中，控制参考电路模型和实现电路模型待匹配的比较点的测试向量随机生成采用ATPG方法进行控制，使参考电路模型的待匹配的比较点的输出值之和或者实现电路模型的待匹配的比较点的输出值之和等于待匹配的比较点的数量的一半或待匹配的比较点的数量加一或减一后的一半。在一实施方式中，所述步骤S2包括：步骤S21，随机生成参考电路模型和实现电路模型待匹配的比较点的测试向量；步骤S22，将对应的测试向量分别输入至参考电路模型和实现电路模型，得到参考电路模型和实现电路模型待匹配的比较点的输出值；步骤S23，计算参考电路模型的待匹配的比较点的输出值之和以及实现电路模型的待匹配的比较点的输出值之和；步骤S24，判断参考电路模型的待匹配的比较点的输出值之和或者实现电路模型的待匹配的比较点的输出值之和是否等于待匹配的比较点的数量的一半或待匹配的比较点的数量加一或减一后的一半；若否，则返回步骤S21直至参考电路模型和实现电路模型的比较点的输出值可进行二叉树匹配。在一实施方式中，所述参考电路模型或实现电路模型第一次待匹配的比较点的数量为所述参考电路模型或实现电路模型的总数的一半或者为总数加一或减一后的一半；所述参考电路模型或实现电路模型第n次待匹配的比较点的数量为上一次待匹配的比较点的数量的一半或者为上一次待匹配的比较点的数量加一或减一后的一半；直至当前次待匹配的比较点的数量小于2，所述n＞1。在一实施方式中，所述参考电路模型或实现电路模型待匹配的比较点的测试向量包括由外界输入的基本输入向量、和/或由各比较点的上一级比较点产生的伪主输入向量，所述参考电路模型及实现电路模型的基本输入向量相同，所述参考电路模型及实现电路模型的伪主输入向量相同或不相同。本专利技术其次提出一种时序电路形式验证的比较点匹配系统，其采用上述形式验证比较点匹配方法对时序电路进行验证。在一实施方式中，包括：输入模块，用于接收所述参考电路模型和实现电路模型的输入模块；测试向量搜索模块，控制参考电路模型和实现电路模型待匹配的比较点的测试向量随机生成，使得参考电路模型和实现电路模型的比较点的输出值可进行二叉树匹配；匹配模块，基于二叉树匹配对参考电路模型的待匹配的各比较点的输出值与实现电路模型的待匹配的各比较点的输出值进行匹配，直至参考电路模型和实现电路模型所有比较点全部一一匹配成功。本专利技术还提出一种处理器，用于运行计算机程序，所述处理器运行所述计算机程序时执行上述形式验证比较点匹配方法。本专利技术还提出一种存储器，用于存储计算机程序，所述计算机程序时执行上述的形式验证比较点匹配方法。与现有技术比较，本专利技术具有如下优点。本专利技术基于二叉树匹配方法对实现电路模型Cimp的比较点与参考电路模型Cref的比较点进行匹配，每一次输入测试向量进行匹配后，还剩下的待匹配的比较点的数量减少一半左右，经过有限次匹配之后即可实现所有比较点的匹配。设需要匹配的比较点的数量为n，则约经过次后即可实现所有比较点的匹配，即比较点匹配的复杂度约为，相比于传统匹配方法中最小的复杂度为n-1,本专利技术显著的降低了时序电路组合等价检验过程中对应比较点的匹配复杂度，降低了对应比较点匹配的计算匹配时间，降低了内存的消耗。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以如这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例中形式验证比较点匹配方法的流程示意图；图2为本专利技术实施例中形式验证比较点匹配方法的具体流程示意图；图3为传统技术中基于功能的启发式比较点匹配方法的电路模型示意图；图4为本专利技术实施例中形式验证比较点匹配方法的参考电路模型示意图；图5为本专利技术实施例中形式验证比较点匹配方法的实现电路模型示意图；图6为图3的传统技术中基于功能的启发式比较点匹配方法的实施例的第一组测试向量及其匹配结果的示意表；本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种形式验证比较点匹配方法，包括：步骤S1:接收待验证的时序电路的参考电路模型和实现电路模型，其特征是，还包括：/n步骤S2:控制参考电路模型和实现电路模型待匹配的比较点的测试向量随机生成，使得参考电路模型和实现电路模型的比较点的输出值可进行二叉树匹配；/n步骤S3：基于二叉树匹配对参考电路模型的待匹配的各比较点的输出值与实现电路模型的待匹配的各比较点的输出值进行匹配，直至参考电路模型和实现电路模型所有比较点全部一一匹配成功，则验证成功；若存在参考电路模型和实现电路模型待匹配的比较点匹配失败，则验证失败。/n

【技术特征摘要】
1.一种形式验证比较点匹配方法，包括：步骤S1:接收待验证的时序电路的参考电路模型和实现电路模型，其特征是，还包括：
步骤S2:控制参考电路模型和实现电路模型待匹配的比较点的测试向量随机生成，使得参考电路模型和实现电路模型的比较点的输出值可进行二叉树匹配；
步骤S3：基于二叉树匹配对参考电路模型的待匹配的各比较点的输出值与实现电路模型的待匹配的各比较点的输出值进行匹配，直至参考电路模型和实现电路模型所有比较点全部一一匹配成功，则验证成功；若存在参考电路模型和实现电路模型待匹配的比较点匹配失败，则验证失败。


2.如权利要求1所述的形式验证比较点匹配方法，其特征是，控制参考电路模型和实现电路模型待匹配的比较点的测试向量随机生成采用ATPG方法进行控制，使参考电路模型的待匹配的比较点的输出值之和或者实现电路模型的待匹配的比较点的输出值之和等于待匹配的比较点的数量的一半或待匹配的比较点的数量加一或减一后的一半。


3.如权利要求1所述的形式验证比较点匹配方法，其特征是，所述步骤S2包括：
步骤S21，随机生成参考电路模型和实现电路模型待匹配的比较点的测试向量；
步骤S22，将对应的测试向量分别输入至参考电路模型和实现电路模型，得到参考电路模型和实现电路模型待匹配的比较点的输出值；
步骤S23，计算参考电路模型的待匹配的比较点的输出值之和以及实现电路模型的待匹配的比较点的输出值之和；
步骤S24，判断参考电路模型的待匹配的比较点的输出值之和或者实现电路模型的待匹配的比较点的输出值之和是否等于待匹配的比较点的数量的一半或待匹配的比较点的数量加一或减一后的一半；
若否，则返回步骤S21直至参考电路模型和实现电路模型的比较点的输出值可进行二叉树匹配。


4.如权利要求1所述的形式验证比较点匹配方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：张岩，刘美华，黄国勇，金玉丰，
申请(专利权)人：国微集团深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44