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本公开涉及一种检测电路故障的方法及其装置，该方法用于一缓存器传输层级设计时间，该方法包含有：从基于该RTL设计时间的一电路模型中，取得每个缓存器的各个信号点；根据每个缓存器的各个信号点，产生一属性列表，其中该属性列表包含各个信号点欲验证的一...
该专利属于瑞昱半导体股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过瑞昱半导体股份有限公司授权不得商用。

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