一种双权重的空间插值方法技术

本发明专利技术公开了一种双权重的空间插值方法。该方法包括如下步骤：S1，确定插值分辨率、空间插值范围与插值属性字段，划分格网单元；S2，计算每一个待插值格网中心点二维坐标，并依据距离最近原则筛选满足插值要求数量的采样点；S3，计算采样点的距离权重和局部空间位置插值属性变异权重，利用距离和差异性系数作为双权重，对待插值格网点进行插值；S4，将得到的插值结果以栅格形式输出。本发明专利技术在经典插值方法考虑空间自相似原理的基础上，结合用来插值的采样点属性值在空间中的变异特征，设计了一种采样点变异性的定量表达公式，并将其作为第二权重应用在插值计算中，能够有效减弱采样点异常值对插值结果的不利影响。

【技术实现步骤摘要】
一种双权重的空间插值方法
本专利技术属于空间插值模型构建的
，涉及在空间插值过程中考虑距离和局部采样点插值属性变异性作为权重计算因子，以提高插值结果精度。
技术介绍
空间插值是在一定区域内，基于有限采样点数据来计算区域内任意位置对应变量值的一项地理空间分析技术。借助空间插值技术可以将某种空间变量由点扩展面，得到空间变量的空间分布，因此在地理、环境、生态等领域都有非常广泛的应用。插值精度是决定空间插值技术应用价值的重要因素，因此许多学者针对不同空间插值技术的精度特征展开讨论，同时也不断提出、优化新的空间插值技术。特别地，考虑到数据采样的成本，如何基于有限的采样点获取精度较高的插值结果，已经成为空间分析
的重要课题。空间内插是构建DEM的重要方法，而DEM构建也成为分析空间插值方法精度特征的重要方式。传统的DEM构建是在离散采样点的基础上，通过空间内插技术对未知高程点的属性值进行估计，从而实现对地形的连续表面建模。空间内插技术作为DEM构建的关键技术，许多学者不但对各种传统方法(如多项式、趋势面拟合、样条函数、傅里叶级书)在地形本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种双权重的空间插值方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS1，确定插值分辨率、空间插值范围与插值属性字段，划分格网单元；/nS2，计算格网点二维坐标，筛选近邻采样点；/nS3，计算采样点的距离权重和局部空间位置插值属性变异权重，利用距离和差异性系数作为双权重，对待插值格网点进行插值；/nS4，将得到的插值属性值以栅格形式输出。/n

【技术特征摘要】
1.一种双权重的空间插值方法，其特征在于，包括如下步骤：
S1，确定插值分辨率、空间插值范围与插值属性字段，划分格网单元；
S2，计算格网点二维坐标，筛选近邻采样点；
S3，计算采样点的距离权重和局部空间位置插值属性变异权重，利用距离和差异性系数作为双权重，对待插值格网点进行插值；
S4，将得到的插值属性值以栅格形式输出。


2.根据权利要求1所述的一种双权重的空间插值方法，其特征在于，所述步骤S2的具体过程如下：
S21，以插值格网点为中心缓冲一定距离搜索近邻采样点，判断寻找的近邻采样点是否大于12，是则执行步骤S22，否则缓冲半径扩大一倍，寻找近邻采样点；
S22，计算步骤S21搜索到的采样点与插值格网点的距离，根据距离对所筛选采样点进行冒泡排序，选取距离最小的12个采样点作为插值格网的近邻采样点。

【专利技术属性】
技术研发人员：赵明伟，居肖肖，江岭，王春，杨灿灿，徐燕，
申请(专利权)人：滁州学院，
类型：发明
国别省市：安徽;34