一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托制造技术

一种压制ｘ－射线荧光分析测试样片的样品托，涉及用于ｘ－射线荧光分析技术中难以压制成型的固体物料样片制备的样品托。其特征在于其样品托的结构为外壁与压片模具内腔壁相配合的、上端敞口的盒状样品托。本实用新型专利技术的盒状样品托可由价格低廉的易拉罐等废铝片压制而成，代替了成本较高的化学试剂，减少了压制样品片被污染的可能性，减少了测量的误差，减少了样片表面的花面、表面跑料、表面不均匀、提高样片表面的光滑度、解决样片高度不够和内部不均匀、减少操作难度、降低分析成本、提高了分析速度。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托
一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托，涉及用于x-射线荧光分析技术中难以压制成型的固体物料样片制备的样品托。技术背景目前，x-射线荧光分析技术已经成为碳素、冶金、地质、食品、医药、钢铁等领域固体物料分析中主要的检验方法，特别是对疑难杂样的半定量分析检验、 判断有独特的优势。在粉状样品分析检验过程中，需要将样品压制成片状后， 再进行测量。在测量成分分布不均匀的固体样品时，通常也需要将样固体样品破碎成粉状，再压制成分布均匀品片，才能在X-射线荧光光谱仪仪器上进行检验。传统的制样方法，是将测试样品粉状物料放入压片模具内，再加入硼酸等 等化学试剂，进行压制；将测试样品粉状物料压制成片，并在成片的测试样片 一形成环状或倒扣的盒状硼酸等化学试剂层；利用这种方法制得的样品片经常 会出现测试样品样片与硼酸等化学试剂层间偏心、跑料、花面现象，或使样品 的高度不够，或硼酸等化学试剂层坏损现象，导致分析测量数据不准；由于样 片表面、外观不合格，样品的实际厚度没有达到仪器分析的要求，会严重影响 分析质量和分析结果的判定。专利技术内容本技术的目的就是针本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种压制ｘ－射线荧光分析测试样片的样品托，其特征在于其样品托的结构为外壁与压片模具内腔壁相配合的、上端敞口的盒状样品托。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：梁倩，石勇，孙洪斌，
申请(专利权)人：中国铝业股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：11[中国|北京]