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一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托制造技术
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文档序号:2616874
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一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托,涉及用于x-射线荧光分析技术中难以压制成型的固体物料样片制备的样品托。其特征在于其样品托的结构为外壁与压片模具内腔壁相配合的、上端敞口的盒状样品托。本实用新型的盒状样品托可由价格低廉的易拉罐等废铝片...
该专利属于中国铝业股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中国铝业股份有限公司授权不得商用。
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