探针、检查夹具及检查组件制造技术

本发明专利技术提供一种探针、检查夹具及检查组件，探针接触可靠性高，检查夹具具备探针，检查组件具备检查夹具。探针具备：弹性部，其可沿着第一方向弹性变形；第一接触部，其设置于弹性部的第一方向的一端；第二接触部，其设置于弹性部的第一方向的另一端。弹性部具有多个横向带部及至少一个弯曲带部。第一接触部及第二接触部各自相对于穿过弹性部的第二方向的中心且沿着第一方向延伸的第一中心线配置于同一侧。从第二方向观察，至少第一接触部的侧面具有相对于穿过第三方向的中心且沿着第一方向延伸的第二中心线不对称的形状。

Probe, inspection fixture and inspection assembly

【技术实现步骤摘要】
探针、检查夹具及检查组件
本专利技术涉及一种探针、检查夹具及检查组件。
技术介绍
通常，在照相机或液晶面板等电子部件模块中，通常，在其制造工序中，进行导通检查及动作特性检查等。这些检查通过使用探针将用于与设置于电子部件模块的主体基板连接的端子和检查装置的端子连接来进行。作为这样的探针，专利文献1中记载了一种探针。该探针具备能够分别与电子部件的电极端子及被连接电子部件的电极端子接触的一对触头和介于一对触头之间并连接一对触头的曲折部。专利文献专利文献1：日本特开2002－134202号公报专利技术所要解决的问题在所述探针中，各触头构成为与电极端子在一个点接触，因此，例如，在各触头的前端附着有非导体的异物的情况下，因该异物而在所述探针与电极端子之间发生导通不良，有时接触可靠性降低。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提供一种接触可靠性高的探针、具备该探针的检查夹具及具备该检查夹具的检查组件。用于解决问题的技术方案本专利技术的一例的探针具备：弹性部，其可沿第一方向弹性变形；第一接触部，其设置于所述弹性部的所述第一方向的一端；第二接触部，其设置于所述弹性部的所述第一方向的另一端，所述弹性部具有：沿与所述第一方向交叉的第二方向延伸并且在所述第一方向隔开间隔配置的多个横向带部、与相邻的所述横向带部连接的至少一个弯曲带部，所述第一接触部及所述第二接触部各自相对于穿过所述弹性部的所述第二方向的中心且沿着所述第一方向延伸的第一中心线配置于同一侧，并具有在与所述第一方向及所述第二方向交叉的第三方向相对的一对板面和与所述一对板面交叉的侧面，从所述第二方向观察，至少所述第一接触部的所述侧面具有相对于穿过所述第三方向的中心且沿着所述第一方向延伸的第二中心线不对称的形状。另外，本专利技术的一例的检查夹具具备：所述探针；壳体，其内部收纳有所述探针。另外，本专利技术的一例的检查组件具备至少一个所述检查夹具。专利技术效果根据所述探针，第一接触部及第二接触部各自相对于穿过弹性部的第二方向的中心且沿着第一方向延伸的第一中心线配置于同一侧。另外，从第二方向观察，至少第一接触部的侧面具有相对于穿过第三方向的中心且沿着第一方向延伸的第二中心线不对称的形状。通过这种结构，例如，若使检查对象物或检查装置的连接端子在与第一接触部接触的状态下，沿着第一方向朝着第二接触部移动，则第一接触部在与检查对象物或检查装置的连接端子接触的状态下，在包括第一方向及第二方向的第一平面上相对于第二接触部旋转，同时在包括第一方向及第三方向的与第一平面交叉的第二平面上相对于第二接触部旋转。即，能够对检查对象物或检查装置的连接端子同时进行两个不同方向的擦拭动作。其结果，例如，即使第一接触部的与连接端子接触的部分附着有非导体的异物，也能够容易地除去该异物，因此，能够实现接触可靠性高的探针。根据所述检查夹具，利用所述探针能够实现接触可靠性高的检查夹具。根据所述检查组件，利用所述检查夹具能够实现接触可靠性高的检查组件。附图说明图1是表示本专利技术的一实施方式的探针的立体图。图2具备图1的探针的检查夹具的剖面图。图3是表示图1的探针的第一接触部的放大侧面图。图4是表示图1的探针的第一变形例的放大侧面图。图5是表示图1的探针的第二变形例的放大侧面图。图6是表示图1的探针的第三变形例的放大侧面图。附图标记说明1检查组件2检查夹具10探针20弹性部21、22带状弹性片23间隙24横向带部241接触面242肋25弯曲带部30第一接触部31触点部32贯通孔33、34板面35侧面351顶点40第二接触部41主体部411接触面42连接部43触点部100壳体101收纳部110连接端子具体实施方式下面，参照附图说明本专利技术的一例。此外，在下面的说明中，根据需要将使用表示特定方向或位置的术语(例如，包括“上”、“下”、“右”、“左”的术语)，但这些术语用于便于参照附图理解本专利技术，本专利技术的技术范围不受这些术语的意思限定。另外，下面的说明只不过是示例，并不意味着限制本专利技术、其适用对象或其用途。进而，附图仅为示意性的，各尺寸的比率等并不一定与实际尺寸一致。作为一例，如图1所示，本专利技术的一实施方式的探针为细长薄板状，具有导电性。如图2所示，该探针10在收纳于绝缘性壳体100的状态下使用，与壳体100一起构成检查夹具2。作为一例，在检查夹具2收纳有多个探针10。另外，检查夹具2能够构成检查组件1的一部分。例如，如图2所示，在由一对检查夹具2构成检查组件1的情况下，各检查夹具2配置为后述的探针10的各触点部在与探针10延伸的第一方向X交叉(例如，正交)的第二方向Y上相邻。如图2所示，各壳体100在其内部具有多个收纳部101(图2中仅示出一个)。各收纳部101具有狭缝形状，以分别能够电独立地收纳并保持一个探针10的方式构成。另外，各收纳部101沿着与第一方向X及第二方向Y交叉(例如，正交)的第三方向Z(如图3所示)排成一排且等间隔配置。如图1及图2所示，各探针10具备可沿着第一方向X弹性变形的弹性部20、分别设置于该弹性部20的第一方向X的两端的第一接触部30及第二接触部40。作为一例，各探针10通过电铸法形成，弹性部20、第一接触部30及第二接触部40沿着第一方向X串联配置且一体构成。如图2所示，作为一例，弹性部20由相互隔开间隙23配置的多个带状弹性片(在该实施方式中为两个带状弹性片)21、22构成。各带状弹性片21、22具有分别沿着第二方向Y延伸且在第一方向X上隔开间隔配置的多个横向带部24(在该实施方式中为七个横向带部24)和两端与相邻的横向带部24连接的至少一个弯曲带部25(在该实施方式中为六个弯曲带部25)沿着第一方向X交替连接而成的曲折形状。各带状弹性片21、22的第一方向X的两端的横向带部24分别与第一接触部30及第二接触部40连接。在第一方向X上远离第二接触部40的带状弹性片21的与第一接触部30连接的横向带部24设置有接触面241。该接触面24构成为在探针10收纳于壳体100的收纳部101时，与构成收纳部101的壳体100的内表面接触。在与第一接触部30连接的横向带部24设置有连接各带状弹性片21、22的肋242，避免各带状弹性片21、22间的接触。如图2所示，第一接触部30及第二接触部40各自相对于弹性部20的第二方向Y的第一中心线CL1配置于同一侧。此外，在该实施方式中，如图2所示，将穿过与第一接触部30连接的横向带部24和与该横向带部24连接的弯曲带部25组合而成的部分的第二方向Y上的最大距离L的中心，且沿着第一方向X延伸的直线作为弹性部20的第二方向Y的第一中心线CL1。作为一例，第一接触部30具有沿着本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探针，其特征在于，具备：/n弹性部，其可沿第一方向弹性变形；/n第一接触部，其设置于所述弹性部的所述第一方向的一端；/n第二接触部，其设置于所述弹性部的所述第一方向的另一端，/n所述弹性部具有：沿与所述第一方向交叉的第二方向延伸并且在所述第一方向隔开间隔配置的多个横向带部、与相邻的所述横向带部连接的至少一个弯曲带部，/n所述第一接触部及所述第二接触部各自相对于穿过所述弹性部的所述第二方向的中心且沿着所述第一方向延伸的第一中心线配置于同一侧，并具有在与所述第一方向及所述第二方向交叉的第三方向相对的一对板面和与所述一对板面交叉的侧面，/n从所述第二方向观察，至少所述第一接触部的所述侧面具有相对于穿过所述第三方向的中心且沿着所述第一方向延伸的第二中心线不对称的形状。/n

【技术特征摘要】
20190425 JP 2019-0845721.一种探针，其特征在于，具备：
弹性部，其可沿第一方向弹性变形；
第一接触部，其设置于所述弹性部的所述第一方向的一端；
第二接触部，其设置于所述弹性部的所述第一方向的另一端，
所述弹性部具有：沿与所述第一方向交叉的第二方向延伸并且在所述第一方向隔开间隔配置的多个横向带部、与相邻的所述横向带部连接的至少一个弯曲带部，
所述第一接触部及所述第二接触部各自相对于穿过所述弹性部的所述第二方向的中心且沿着所述第一方向延伸的第一中心线配置于同一侧，并具有在与所述第一方向及所述第二方向交叉的第三方向相对的一对板面和与所述一对板面交叉的侧面，
从所述第二方向观察，至少所述第一接触部的所述侧面具有相对于穿过所述第三方向的中心且沿着所述第一方向延伸的第二中心...

【专利技术属性】
技术研发人员：笹野直哉，寺西宏真，酒井贵浩，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP