本发明专利技术涉及一种可灵活配置的控制盒电路,包括设置于控制盒内的通道板和底板;所述的通道板上设置有输入连接器、测试通道以及输出连接座;单机设备的输出或测量端子通过通道板的输入连接器接入控制盒内;所述的通道板通过输出连接座与底板连接;所述的底板设置有与通道板的输出连接座相配合的输入端口,所述的输入端口与四方排针座电路相通,底板将通道板上的测试通道引至四方排针座上;所述的四方排针座通过排线与底板输出座相连。本发明专利技术适用于大多数的测试系统集成的控制单元,可以控制任意多台单机组合成测试系统,使得各单机配合完成测试任务,解决了系统集成厂家为每台集成的系统都需要单独设计其控制电路的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种可灵活配置的控制盒电路
本专利技术涉及电子测量测试
,尤其是一种可灵活配置的控制盒电路。
技术介绍
如今成品的性能测试要求越来越高,测试项目也越来越全面。以往的单机测试只能实现单一的测试项目,集成的测试系统可以一次完成多项测试任务,大大的减少了测试所花费的人力与时间,所以集成测试系统在测试领域具有显著的优势。但是,由于成品的测试项目会因厂家要求与成品类型差异而不同,所以集成测试系统往往会根据客户要求使用不同的单机设备进行集成。那么其中的关键问题是:为了实现多个单机之间配合一起测试,系统集成设计师必须根据要求更改控制单元,非常的耗时耗力。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是:提供一种可灵活配置的控制盒电路。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种可灵活配置的控制盒电路,包括设置于控制盒内的通道板和底板;所述的通道板上设置有输入连接器、测试通道以及输出连接座;单机设备的输出或测量端子通过通道板的输入连接器接入控制盒内;所述的通道板通过输出连接座与底板连接;所述的底板设置有与通道板的输出连接座相配合的输入端口,所述的输入端口与四方排针座电路相通,底板将通道板上的测试通道引至四方排针座上;所述的四方排针座通过排线与底板输出座相连。进一步的说,本专利技术所述的通道板上具有多个测试通道,每个测试通道都包括继电器以及继电器驱动电路,外部的开关信号连接至继电器驱动电路的PMOS管的栅极;通过对外部信号的接通或断开控制继电器的吸合或打开进而进行测试通道的通断控制。<br>再进一步的说,本专利技术当一个测试通道的外部信号接通时,PMOS管栅极通过电阻对地得到一个稳定的驱动电压,控制继电器线圈接通,继电器吸合后此条测试通道即导通;当断开该外部信号时,PMOS管栅极与地相连,漏极与源极断开,继电器线圈失去电压,线圈产生的感生电流也通过并联在线圈端的反向二极管释放,继电器触点失去吸力断开则此测试通道断开。再进一步的说,本专利技术所述的测试通道的触发信号通过TrigSourceByBaseboard连接座引脚接入通道板,引至第一二极管正端,第一二极管负端接至PMOS管的G极和第一电阻的一端,第一电阻的另一端接地;继电器线圈控制的电源正端接入PMOS管的S极;PMOS管的D极连接继电器线圈的一端与第二二极管的负端;第二二极管的正端与继电器线圈的另一端一起接入继电器线圈控制电源的负端;继电器触点的2个公共点连接通道板后端的Input转接座上,继电器的所有常开常闭点都接在OutputToBaseboard转接座上。本专利技术的有益效果是,解决了
技术介绍
中存在的缺陷,适用于大多数的测试系统集成的控制单元,可以控制任意多台单机组合成测试系统,使得各单机配合完成测试任务,解决了系统集成厂家为每台集成的系统都需要单独设计其控制电路的问题。附图说明图1是本专利技术通道板原理图;图2是本专利技术30通道底板原理图。具体实施方式现在结合附图和优选实施例对本专利技术作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本专利技术的基本结构,因此其仅显示与本专利技术有关的构成。本控制盒电路主要依靠通道板与底板配合实现,单机设备的输出或测量端子通过通道板的Input连接器接入控制盒内。通道板原理图如图1所示。触发信号通过TrigSourceByBaseboard转接座引入通道板。每条通路触发信号从TrigSourceByBaseboard转接座引脚接入,如第一通道通过K1_Trg接入,引至二极管D1正端,D1负端接至PMOS管Q1的G极和R1A电阻的右端。R1A电阻左端接地。24V电源正端接入PMOS管Q1的S极。PMOS管Q1的D极接继电器线圈的左端与二极管D2的负端。二极管D2的正端与继电器线圈的右端一起接入24V电源负端。继电器触点的2个公共点接在通道板后端转接座(Input)上。继电器的所有常开常闭点都接在转接至底座的转接座(OutputToBaseboard)上。其他各通路与第一通道一致。通道板与底板通过OutputToBaseboard与TrigSourceByBaseboard连接座与底板连接,底板原理图如图2所示。图1所示通道板具有5通道,图2所示为30通道底板的原理图,可以同时插入6块通道板。每块通道板的OutputToBaseboard与TrigSourceByBaseboard连接口与此底板左边的Input_CH与Input_Trig端口相连。通道板的OutputToBaseboard与TrigSourceByBaseboard连接口插入底板的Input_CH与Input_Trig座,底板将通道板上的继电器的触点都引至CHSwitch四方排针座上;当某一通道被使用时,可用排线将四方排座上使用的引脚引至底板的Output座上。每个通道板上的继电器由底板的8V电压通过外部的开关信号连接至通道板继电器驱动电路的PMOS管的基端,当外部将某条通路8V接通时,PMOS管基极通过电阻对地得到一个稳定的驱动电压,控制继电器线圈24V接通,继电器吸合后此条通路即导通。如果想断开某一条通路,则断开8V,PMOS管基极将与地相连,D极与S极断开,继电器线圈失去电压,线圈产生的感生电流也将通过并联在线圈端的反向二极管释放。继电器触点失去吸力将断开则此通路断开。以搭建一个简单的电池测试系统为例,单机设备为DC电源、万用表、电子负载、放电电阻。将DC电源、放电电阻、电子负载、万用表分别接入通道板上Input端的K1_PIN1,K1_PIN2,K2_PIN1,K3_PIN1。在底板上将CH1_PIN1_NO,CH1_PIN2_NC,CH2_PIN1_NO,CH3_PIN1_NO连接到底板OutputCH1的1,2,3,4脚,然后OutputCH1的1脚连接外部电池输入端;OutputCH1的2,3,4连接到电池输出端。在测试时,可以在控制盒外部给CH1,CH2,CH3通断信号,来控制单机设备接入的通路是否接通。当测试开始时需要给电池供电,则控制CH1线圈吸合,当需要电池拉载时,通过控制CH2来使电子负载接入电池输出端,当测试完成时控制CH1触点断开,则接在CH1常闭点的放电电阻会将电池包内电量消耗完,以便后面的流入后面的生产线。此时若需要再多添加一台示波器来检测电池输出端纹波,则仅需要将示波器测量端接入通道板K4_PIN1_NO脚,并将底板的CH4_PIN1_NO接入OutputCH1的5脚,即可控制CH4通道的通断信号来控制示波器接入与断开。即可实现灵活添加、更换单机设备不用修改控制电路。以上例表示,大部分想组成的综合测试系统,都只要将所有单机设备接入控制盒后端的通道板Input端,然后将控制盒前端与产品连接的连接器的引脚与底板四方排针所使用的通道相连即可实现单机控制。不再需要为不同的测试系统定制不同的控制盒板。以上说明书中描述的只是本专利技术的具体实施方式,各种举例说明不对本专利技术的实质内容构成限制,所属
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【技术保护点】
1.一种可灵活配置的控制盒电路,其特征在于:包括设置于控制盒内的通道板和底板;所述的通道板上设置有输入连接器、测试通道以及输出连接座;单机设备的输出或测量端子通过通道板的输入连接器接入控制盒内;所述的通道板通过输出连接座与底板连接;所述的底板设置有与通道板的输出连接座相配合的输入端口,所述的输入端口与四方排针座电路相通,底板将通道板上的测试通道引至四方排针座上;所述的四方排针座通过排线与底板输出座相连。/n
【技术特征摘要】
1.一种可灵活配置的控制盒电路,其特征在于:包括设置于控制盒内的通道板和底板;所述的通道板上设置有输入连接器、测试通道以及输出连接座;单机设备的输出或测量端子通过通道板的输入连接器接入控制盒内;所述的通道板通过输出连接座与底板连接;所述的底板设置有与通道板的输出连接座相配合的输入端口,所述的输入端口与四方排针座电路相通,底板将通道板上的测试通道引至四方排针座上;所述的四方排针座通过排线与底板输出座相连。
2.如权利要求1所述的一种可灵活配置的控制盒电路,其特征在于:所述的通道板上具有多个测试通道,每个测试通道都包括继电器以及继电器驱动电路,外部的开关信号连接至继电器驱动电路的PMOS管的栅极;通过对外部信号的接通或断开控制继电器的吸合或打开进而进行测试通道的通断控制。
3.如权利要求2所述的一种可灵活配置的控制盒电路,其特征在于:当一个测试通道的外部信号接通时,PMOS管栅极通...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴新建,朱亦正,王鹏,
申请(专利权)人:同创立常州智能装备有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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