【技术实现步骤摘要】
半固化片挥发物含量测试方法
本专利技术涉及印刷电路板设计生产检测领域，特别涉及针对半固化片挥发物含量的检测。
技术介绍
在印刷电路板制造领域中，需要采用半固化片作为其原材料之一。半固化片其中一种制造方法是在将玻纤布浸入到胶水中，胶水是一种包含填料的胶体，最后胶水就附着在玻纤布的表面形成了半固化片。半固化片的特性诸如挥发物含量影响后续工艺的产品良率。半固化片可以是外购，则需要对重要的特性进行出厂检验和收货验收。半固化片如果是自己生产并用于后续工艺中，也需要对半固化成品的特性进行检验，以确保后续工艺的技术参数条件，也可以反馈至半固化片生产部门，对相关的胶水配比进行调整。现有技术中，半固化挥发物含量的检测采用的国际电子工业联接协会（IPC）标准方法是烘箱测试法（IPC-TM-6502.3.19）。烘箱测试法的原理是根据烘烤前的半固化片重量，和烘烤后半固化片的重量，来计数出挥发物重量。烘箱测试法的主要步骤包括：1.选取三块半固化片试样；2.称取夹具重量为W1；3.试样在测试前干燥24H去除水分（刚生产完10min内的...
【技术保护点】
1.一种半固化片挥发物含量测试方法，其特征在于，/n所述挥发物包含成分，/n所述方法包括以下步骤：/n半固化片取样步骤，在准备测试的半固化片中取样，称取样品质量为W1；/n半固化片萃取步骤，采用萃取剂对半固化片的所述样品进行溶解和萃取，形成样品溶液；/n气相色谱分析步骤，将所述样品溶液加入气相色谱仪的测试瓶中，将测试瓶放入气相色谱仪中进行测试，生成滞留时间-物质质量数据；/n读取成分重量步骤，根据所述成分的标准滞留时间换算出在W1样品重量下该成分的质量为W2i。/n
【技术特征摘要】
1.一种半固化片挥发物含量测试方法，其特征在于，
所述挥发物包含成分，
所述方法包括以下步骤：
半固化片取样步骤，在准备测试的半固化片中取样，称取样品质量为W1；
半固化片萃取步骤，采用萃取剂对半固化片的所述样品进行溶解和萃取，形成样品溶液；
气相色谱分析步骤，将所述样品溶液加入气相色谱仪的测试瓶中，将测试瓶放入气相色谱仪中进行测试，生成滞留时间-物质质量数据；
读取成分重量步骤，根据所述成分的标准滞留时间换算出在W1样品重量下该成分的质量为W2i。
2.根据权利要求1所述的半固化片挥发物含量测试方法，其特征在于，所述成分的标准滞留时间采用以下方法来测定：
如果单一所述成分常温下是液态，
成分气相色谱分析，通过注射器将单一所述成分加入气相色谱仪的测试瓶中，将测试瓶放入气相色谱仪中进行测试，生成滞留时间-物质质量数据，此数据只有一个物质质量峰值，该峰值处对应的滞留时间即为所述成分的标准滞留时间；
或者，如果所述成分常温下是固态或半固态且溶于萃取剂，则采用以下步骤，
萃取剂标准滞留时间标定，液体萃取剂通过注射器加入到气相色谱仪的测试瓶中，将测试瓶放入气相色谱仪中进行测试，生成滞留时间-物质质量数据，此数据只有一个物质质量峰值，该峰值处对应的滞留时间即为所述萃取剂的标准滞留时间，
再将单一的所述成分溶于萃取剂中，将单一成分-萃取剂溶液通过注射器加入到气相色谱仪的测试瓶中，将测试瓶放入气相色谱仪中进行测试，生成滞留时间-物质质量数据，此数据只有两个物质质量峰值，排除萃取剂的标准滞留时间的峰值，另外一个峰值处对应的滞留时间即为所述成分的标准滞留时间。
3.根据权利要求1或2所述的半固化片挥发物含量测试方法，其特征在于，所述成分为甲基乙基酮、环己酮、或二甲基甲酰胺。
4.根据权利要求1所述的半固化片挥发物含量测试方法，其特征在于，
在半固化片萃取步骤，采用V1份体积的萃取剂对样品进行溶解，获得V2份体积的样品溶液；在气相色谱分析步骤中，将其中V3份体积的样品溶液进入气相色谱仪中进行测试；在读取成分重量步骤中，根据所述成分的标准滞留时间从滞留时间-物质质量数据中读出该成分的测出质量W’2i，换算出W2i=W’2i*V2/V3。<...
【专利技术属性】
技术研发人员：洪丹红，张玮，
申请(专利权)人：宁波甬强科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33
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