【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术属于超声波探伤
，涉及一种用于薄层双介质粘接面探伤的专用探头。在本技术以前的国内外现有技术中，属于超声波探伤方面的技术非常之多。大多数的探伤仪及探头所探伤的对象，一般都是单一均匀的金属，或单一均匀介质的非金属，且产品都具有一定的厚度，或方体或园体，或产品所具有的特定形状。但对于薄层双介质粘接面被测物的探伤问题，却很少见有专门的报导。这是因为薄层双介质粘接面的探伤质量问题的解决，具有相当的难度。若根据现有的超声波探伤方法，直接测量薄层结构，由于不能剔除伪信号，很难得到正确的结果。薄层结构的超声波信号分辨程度很低，加之超声波在金属与非金属材料之中的声阻抗相差很大，使得探头与被测物表面因藕合质量所造成的误差影响程度加大，因而给这一类物体的探伤问题带来一定的困难。针对上述现有技术中存在的问题，本技术的目的在于，提供一种可及时判断藕合质量，消除界面反射的伪信号的薄层双介质粘接面超声波自动探伤仪探头。现将本技术技术解决方案叙述如下附图说明图1是本技术探头安装在探头座的剖视图。本技术由电缆插座(12)，匹配线圈(11)，铜壳体(6)，阻尼块(8)，晶片(5)，延迟块(4)构成。晶片(5)安装在阻尼块(8)与延迟块(4)之间，采用锆钛酸铅陶瓷材料，直径为10～20mm，延迟(4)为有机玻璃，安装在铜壳体(6)的最下部，直接与被测物体表面接触；为使探头与被测物体的表面保持垂直且具有恒定压力，将探头安装在探头座③上，且在铜壳体(6)与探头座(3)之间装有弹簧(9)；为保持探头与探头座(3)之间不产生任何周向运动，在铜壳体(6)的凸台上开有1个轴向限位槽，通过...
【技术保护点】
一种薄层双介质粘接面超声波自动探伤仪探头，具有电缆插座、匹配线圈、阻尼块、晶片、其特征在于：晶片安装在阻尼块与延迟块之间；延迟块安装在铜壳体的最下面，探头安装在探头座上，且铜壳体与探头座之间装有弹簧；延迟块的厚度取值范围为５０ｍｍ≥Ｄ≥５ｍｍ，在此范围内，还应满足关系式： Ｃ１ Ｄ≠ｎ——ｄ Ｃ２。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员：赵庆武，艾春安，常新龙，赵武，马春泰，谢正强，
申请(专利权)人：中国人民解放军第二炮兵工程学院，
类型：实用新型
国别省市：87[中国|西安]
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