一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，其包括机体，所述机体的一侧开设有用以熔样的熔样室，所述熔样室底壁上设置若干放置台，所述放置台内部开设有放置槽，所述放置槽内放置有用以熔样的坩埚，且所述放置槽内设置有用以对坩埚进行加热高频加热线圈，所述机体上设置有用以带走熔样室热量的换热器，所述换热器内流通有制冷剂。本实用新型专利技术的优点是：可提高坩埚的冷却速率，进而提升制样效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置
本技术涉及检测设备的
，尤其是涉及一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置。
技术介绍
X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用，是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手段之一，用以对材料中的各种成分进行快速定性和定量分析。现有的用X射线荧光光谱分析检测杂质元素时，需要对待检测杂质进行高温熔融，使待检测杂质成为一种非晶态共熔体后制成一定大小的样片，从而消除待检测杂质的矿物效应和粒度效应。如申请号为CN200920078561.8的中国技术专利公开了一种智能高频埚模分离熔样系统，包括坩埚、坩埚辅助装置、旋转筒和旋转电机，旋转电机一端设有皮带轮，并通过皮带与旋转筒相连，坩埚辅助装置设置于旋转筒上端，坩埚设置于在坩埚辅助装置的上端中心，所述智能高频埚模分离熔样系统还设有成型模，成型模设置于旋转筒的上端。上述中的现有技术方案存在以下缺陷：上述熔样系统中仅仅通过自然冷却的方式进行坩埚和成型模的降温，使得熔融后的样品冷却速率较慢，进而使本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，包括机体(1)，所述机体(1)的一侧开设有用以熔样的熔样室(11)，所述熔样室(11)底壁上设置若干放置台(112)，所述放置台(112)内部开设有放置槽(1121)，所述放置槽(1121)内放置有用以熔样的坩埚(2)，且所述放置槽(1121)内设置有用以对坩埚(2)进行加热高频加热线圈(1123)，其特征在于：所述机体(1)上设置有用以带走熔样室(11)热量的换热器(3)，所述换热器(3)内流通有制冷剂。/n

【技术特征摘要】
1.一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，包括机体(1)，所述机体(1)的一侧开设有用以熔样的熔样室(11)，所述熔样室(11)底壁上设置若干放置台(112)，所述放置台(112)内部开设有放置槽(1121)，所述放置槽(1121)内放置有用以熔样的坩埚(2)，且所述放置槽(1121)内设置有用以对坩埚(2)进行加热高频加热线圈(1123)，其特征在于：所述机体(1)上设置有用以带走熔样室(11)热量的换热器(3)，所述换热器(3)内流通有制冷剂。


2.根据权利要求1所述的一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，其特征在于：所述换热器(3)包括设置在熔样室(11)内的若干冷却管(31)，所述冷却管(31)沿熔样室(11)的侧壁排布为弓形，所述冷却管(31)的一端伸出机体(1)的侧壁并连通有进水管(33)，所述冷却管(31)的另一端伸出机体(1)的侧壁连通有出水管(34)。


3.根据权利要求2所述的一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，其特征在于：所述制冷剂为冷却水，所述机体(1)的一侧设置有供水组件(4)，所述供水组件(4)包括设置机体(1)一侧的水箱(41)，所述进水管(33)和出水管(34)皆与水箱(41)的内部相互连通，且在进水管(33)与水箱(41)之间设置有提供动力的水冷泵(42)。


4.根据权利要求3所述的一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素...

【专利技术属性】
技术研发人员：尹戈，王清乐，唐开尧，罗莹，曾明龙，
申请(专利权)人：重庆地之源地质工程检测有限公司，
类型：新型
国别省市：重庆;50