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本实用新型涉及一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，其包括机体，所述机体的一侧开设有用以熔样的熔样室，所述熔样室底壁上设置若干放置台，所述放置台内部开设有放置槽，所述放置槽内放置有用以熔样的坩埚，且所述放置槽内设置有用以对坩埚进...
该专利属于重庆地之源地质工程检测有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过重庆地之源地质工程检测有限公司授权不得商用。

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