超快时间分辨X射线谱仪制造技术

技术编号:2610015 阅读:218 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种超快时间分辨X射线谱仪,包括飞秒激光器,其特征是在所述的飞秒激光器的激光输出光路上安置一分束器,该分束器的反射光经由光学延迟线到达样品,构成对样品的作用光束,在该分束器的透射光经全反射镜入射在光阴极X射线二极管上,该光阴极X射线二极管产生的X射线入射到样品上,探测作用光束产生瞬态结构变化的过程,然后入射在硅单晶上,产生的光谱色散被探测器接收,显示在计算机上。本实用新型专利技术可用来研究待测样品的瞬态结构变化导致的光谱变化。(*该技术在2015年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
超快时间分辨X射线谱仪
本技术有关X射线谱仪,特别是涉及一种超快时间分辨X射线谱仪,它在材料科学、信息光学、生物化学等领域有着广泛的应用,时间分辨率可以达到皮秒量级。
技术介绍
X射线光谱的探测和通常可见光谱探测一样,都是在谱仪上进行的,是基于X射线所固有的波动特性,根据所采用的不同色散元件,把它分成光栅谱仪和晶体谱仪两大类,光栅谱仪又可分为透射式和反射式两类,晶体谱仪主要用在硬X射线区域。晶体谱仪利用晶体中的原子点阵进行光谱分析,其工作原理是基于晶体对X射线的衍射布喇格公式:2dsinθ=nλ                                      (1)d为晶体的晶面间距,θ为晶面的衍射角,n为衍射级次,λ为波长。晶体谱仪的重要参数是谱分辨率、角色散和线色散。将(1)式两端微分,即得角色散率:Dθ=dλdθ=2dncosθ=λctgθ----(2)]]>线色散率:Dx=dλdθdθdx=Dθdθdx----(3)]]>式中,本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种超快时间分辨X射线谱仪,包括飞秒激光器(1),其特征是在所述的飞秒激光器(1)的激光输出光路上安置一分束器(2),该分束器(2)的反射光经由光学延迟线到达样品(9),构成对样品(9)的作用光束(A),在该分束器(2)的透射光(B)经全反射镜(3)入射在光阴极X射线二极管(8)上,该光阴极X射线二极管(8)产生的X射线入射到样品(9)上,探测作用光束(A)产生瞬态结构变化的过程,然后入射在硅单晶(10)上,所产生的光谱色散被探测器(11)接收,显示在计算机(12)上。

【技术特征摘要】
1、一种超快时间分辨X射线谱仪,包括飞秒激光器(1),其特征是在所述的飞秒激光器(1)的激光输出光路上安置一分束器(2),该分束器(2)的反射光经由光学延迟线到达样品(9),构成对样品(9)的作用光束(A),在该分束器(2)的透射光(B)经全反射镜(3)入射在光阴极X射线二极管(8)上,该光阴极X射线二极管(8)产生的X射线入射到样品(9)上,探测作用光束(A)产生瞬态结构变化的过程,然后入射在硅单晶(10)上,所产生的光谱色散被探测器(11)接收,显示在计算机(12)上。2、根据权利要求1所述的超快时间分辨X射线谱仪,其特征在于所述的飞秒激光器(1)是一台辐射波长为800nm的钛宝石激光器,脉宽为100~1500飞秒、输出能量为0.8~8毫焦耳,1/10...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈建文高鸿奕李儒新朱化凤干慧倩徐至展
申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
类型:实用新型
国别省市:31[中国|上海]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1