【技术实现步骤摘要】
一种晶圆传动机械臂校准用测试片
本技术涉及半导体
,特别是涉及一种用于晶圆传送机械臂校准的测试片。
技术介绍
在对光学显微镜(OM)机台中各个晶圆传送机械臂的位置进行调整时,由于缺少规范的流程,无法对各个机械壁进行位置上的精确校正,往往导致校准无效。例如型号为AL320的机台中包括五个形状不尽相同的传送机械臂(CR、FS、BS、FA、平台),目前对各传送臂进行相对位置的调整时,一般需要多个操作人员采用直尺进行测量,但是由于直尺和人工操作的精确度有限,导致测量数值有偏差,并且由于机台设有多个晶圆传送位置,需要对不同位置的机械臂进行分别测量,目前只能通过人眼辨别,精确度低又费时费力,在进行多次不连续的测量和调试之后,会产生不同程度上的误差,最终导致校正不精确,甚至会造成晶圆或机台零件的损伤,并且操作时间过长会增加机台被污染的概率。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种晶圆传送机台校准用测试片,可有效解决传送机台校准时准确度不高又费时费力的问题。为实现上述目的及其他相关目的,本技术提供了一种晶圆传送 ...
【技术保护点】
1.一种晶圆传动机械臂校准用测试片,用于机台中若干机械臂的相对位置关系的校准,所述若干机械臂标准的相对位置关系能够根据所述机台型号确定,其特征在于:/n所述测试片为板状结构,规格与传送晶圆一致,且由透明材料制成;/n所述测试片上标记有若干标准圆,所述标准圆位于所述测试片的顶面和/或底面;/n所述标准圆与所述机械臂相对应,用于确定所述机械臂与所述测试片的相对位置;/n所述若干标准圆的相对位置关系与所述若干机械臂标准的相对位置关系相对应。/n
【技术特征摘要】
1.一种晶圆传动机械臂校准用测试片,用于机台中若干机械臂的相对位置关系的校准,所述若干机械臂标准的相对位置关系能够根据所述机台型号确定,其特征在于:
所述测试片为板状结构,规格与传送晶圆一致,且由透明材料制成;
所述测试片上标记有若干标准圆,所述标准圆位于所述测试片的顶面和/或底面;
所述标准圆与所述机械臂相对应,用于确定所述机械臂与所述测试片的相对位置;
所述若干标准圆的相对位置关系与所述若干机械臂标准的相对位置关系相对应。
2.根据权利要求1所述的测试片,其特征在于:
还包括标记在所述测试片上的刻度线,所述刻度线位于所述测试片的顶面和/或底面。
3.根据权利要求2所述的测试片,其特征在于:
还包括若干中线;
所述刻度线沿所述中线标记,标记所述中线上的点到所述测试片圆心的距离。
4.根据权利要求2所述的测试片,其特征在于:
所述刻度线为圆形...
【专利技术属性】
技术研发人员:田晓玲,
申请(专利权)人:芯恩青岛集成电路有限公司,
类型:新型
国别省市:山东;37
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