【技术实现步骤摘要】
向心的凸起布局和方法相关申请的交叉引用本申请要求于2019年4月18日提交的法国专利申请号1904169的优先权,并要求于2019年12月9日提交的法国专利申请号1913917的优先权,其全部内容在法律允许的最大范围内通过引用并入本文。
本公开总体上涉及集成电路芯片领域,并且具体地涉及使用凸块来形成与芯片的电连接的倒装芯片组件和衬底,并且涉及用于生成凸块布局的电路构思的方法。
技术介绍
凸起基体通常用于将集成电路芯片电连接至衬底(例如,PCB(印刷电路板))。凸起基体包括规则间隔的焊料凸块的阵列,该焊料凸块的阵列电连接集成电路芯片上和衬底上的经对准的输入/输出(I/O)焊盘。在集成电路芯片中,I/O焊盘通常形成在芯片的金属互连层之上,并且因此在将芯片安装到衬底之前将芯片倒装。这样的组件因此通常被称为倒装芯片组件。为了改进电性能和热性能,期望增加凸起基体的凸块密度。然而,减小凸块之间的节距可能导致相邻凸块之间发生高短路率,这是不期望的。此外,减小凸块尺寸可能导致与每个凸块中和每个凸块下(换言之,集成电路芯片的硅内)的较高应力有关的所谓的“时间零”或“可靠性故障”的较高风险。因此,在本领域中需要改进类型的凸起基体和这样的凸起基体的构思方法。
技术实现思路
根据一个方面,凸起基体包括凸块,每个凸块在凸起基体的平面中旋转不对称,凸块以向心布置定向,其中凸起基体的第一部分中的凸块在第一轴线上具有第一节距并且凸起基体的第二部分中的凸块在第一轴线上具有第二节距,第二节距不同于第一 ...
【技术保护点】
1.一种凸起基体,包括:/n多个凸块;/n其中每个凸块在所述凸起基体的平面中旋转不对称;/n所述凸块以向心布置定向;/n其中所述凸起基体的第一部分中的凸块在第一轴线上具有第一节距,并且所述凸起基体的第二部分中的凸块在所述第一轴线上具有第二节距,所述第二节距不同于所述第一节距。/n
【技术特征摘要】
20190418 FR 1904169;20191209 FR 19139171.一种凸起基体,包括:
多个凸块;
其中每个凸块在所述凸起基体的平面中旋转不对称;
所述凸块以向心布置定向;
其中所述凸起基体的第一部分中的凸块在第一轴线上具有第一节距,并且所述凸起基体的第二部分中的凸块在所述第一轴线上具有第二节距,所述第二节距不同于所述第一节距。
2.根据权利要求1所述的凸起基体,其中所述凸块形成在多个同心环中。
3.根据权利要求2所述的凸起基体,其中所述凸块位于局部同心环中。
4.根据权利要求2所述的凸起基体,其中每个凸块具有包括较长直径和较短直径的椭圆形形状,并且其中位于给定同心环中的所有凸块均在所述较长直径在径向方向上远离所述凸起基体的中心延伸的情况下被定向。
5.根据权利要求1所述的凸起基体,其中所述多个凸块中的第一凸块位于第一环形区域中,并且其中所述多个凸块中的第二凸块位于第二环形区域中,所述第一环形区域和所述第二环形区域是同心的。
6.根据权利要求5所述的凸起基体,其中所述第一环形区域和所述第二环形区域中的每个环形区域包括多个环。
7.根据权利要求6所述的凸起基体,其中所述凸块位于局部同心环中。
8.根据权利要求5所述的凸起基体,其中每个凸块具有包括较长直径和较短直径的椭圆形形状,并且其中位于给定环形区域中的所有凸块均在所述较长直径在径向方向上远离所述凸起基体的中心延伸的情况下被定向。
9.根据权利要求1所述的凸起基体,其中每个凸块具有包括较长直径和较短直径的椭圆形形状,并且其中所述多个凸块中的所有凸块均在所述较长直径在径向方向上远离所述凸起基体的中心延伸的情况下被定向。
10.一种电路,包括:
接触表面;
其中所述接触表面包括待耦合到凸起基体的多个连接焊盘,
其中每个连接焊盘具有在所述接触表面的平面中旋转不对称的经暴露的表面面积;
所述连接焊盘以向心布置定向;
其中所述接触表面的第一部分中的连接焊盘在第一轴线上具有第一节距,并且所述接触表面的第二部分中的连接焊盘在所述第一轴线上具有第二节距,所述第二节距不同于所述第一节距。
11.根据权利要求10所述的电路,其中所述接触表面是集成电路芯片的表面。
12.根据权利要求10所述的电路,其中所述接触表面是配置有集成电路芯片的衬底的表面。
13.根据权利要求10所述的电路,其中所述连接焊盘形成在多个同心环中。
14.根据权利要求13所述的电路,其中所述连接焊盘位于局部同心环中。
15.根据权利要求13所述的电路,其中每个连接焊盘具有...
【专利技术属性】
技术研发人员:L·施瓦茨,D·凯雷,J·洛佩,
申请(专利权)人:意法半导体格勒诺布尔二公司,意法半导体ALPS有限公司,
类型:发明
国别省市:法国;FR
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