一种具有集束式光源单色器的比色装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种具有集束式光源单色器的比色装置，包括下部器体和螺纹连接在器体上的固定环两部分，所述器体为底端封闭的中空对称柱体，所述柱体壁面嵌装一组超高亮发光二极管，同时在柱体相对壁面相对位置嵌装一光电检测器。本实用新型专利技术将多组不同波长的高强发光二极管构成多个光源，并且，每组超高亮发光二极管为单一固定波长并以集束方式组合发射单色光构成单色器，这种集束式超高亮发光二极管既做光源又做单色器，寿命长、稳定性好、精密度高，是光源与单色器两部分更新的替代产品，提高了仪器中光源的稳定性、可靠性、和测量精度，可广泛应用于光度法的分析仪器中。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种应用于光度法的分析仪器中的比色装置，具体涉及使用寿命长、稳定性好、精密度高的集束式超高亮发光二极管光源/单色器比色装置。
技术介绍
分光光度法是基于物质对光的选择性吸收而建立起来的一种分析方法，也是目前广泛采用的仪器分析方法之一。分光光度法的理论依据是Lamber-Beer定律。而灵敏度和精密度是其中的两个重要技术参数，光源的稳定性和使用寿命以及单色器能否发出高纯度的单色光，是影响仪器灵敏度和精密度的原因之一。采用光度法的仪器大体上都是由光源、单色器、比色池、检测器和显示系统组成，多波长光源经过单色器后以单一波长穿过比色池中放置的待测液体样品，由检测器接收光信号并转换成电信号通过显示系统输出。这类仪器中，光源就是发光体，理想的光源应是能提供连续的辐射，也就是说它的辐射应包括所用光谱区内所有波长的光，光的强度必须足够大，并且在所用光谱区内其强度不应随波长有明显地变化。实际上这种理想的光源并不存在，所有光源的强度都随波长变化。现在仪器上常用的光源，如钨灯、卤钨灯等，由于种种原因，都存在一定的缺陷。单色器是用来把混合光分解为单色光并能随意改变波长的装置，一般单色器都是由入射狭缝、出射狭缝、准直镜光栅等基本元件组成。在光栅分辨率一定的情况下，出射狭缝的缝宽确定光谱带宽。入射狭缝越窄，色散出来的光谱线单色性越好，出射狭缝越窄，从出射狭缝出来的光谱带越小，仪器的分辨率越好。由于很多条件的限制，单色器出来的光的纯度受到影响，从而影响仪器测定的灵敏度、选择性及校正曲线的线性范围。比色池用于放置装有待测液体的比色皿，而检测器置于比色池之后检测透过比色池后的光信号。原有仪器中光源、单色器、比色池和检测器分件放置，并需要精细调配才能使用，不能适应当前快速、现场分析测定的要求。
技术实现思路
针对上述问题，本技术的目的在于提供一种能将光源、单色器、比色池和检测器四个分件组合在一起适用于现场分析仪器的具有集束式光源单色器的集成式比色装置。为实现上述目的，本技术提供的具有集束式光源单色器的比色装置，包括下部器体和螺纹连接在器体上的固定环两部分，所述器体为底端封闭的中空对称柱体，所述柱体壁面嵌装一组超高亮发光二极管，同时在柱体相对壁面相对位置嵌装一光电检测器。其中，所述柱体为正方体、长方体、圆柱体或多棱体。其中，所述柱体中空部分内壁为圆柱面或方柱面。上述比色装置中，所述超高亮发光二极管和光电检测器置于柱体同一壁面上。上述比色装置中，所述一组超高亮发光二极管由多个分布排列的同一波长的发光二极管组成。上述比色装置中，所述器体上部设与固定环连接的螺纹段，螺纹段的最上端设有卡口。具体的，本技术的比色装置，所述器体为立方体结构，内面为圆柱腔体，在立方体的两个相邻面上，嵌装一组超高亮发光二极管，在与该两面相对的面上分别嵌装光电检测器。或者，所述器体为六棱柱体，内面为圆柱腔体，在该六棱柱体每一棱面嵌装一组超高亮发光二极管和一个光电检测器，并且每一相邻棱面发光二极管和光电检测器装嵌的位置上下错开。或者，所述器体为长方体结构，内面为长方体内槽，在长方体的两个相邻面上，嵌装一组超高亮发光二极管，在与该两面相对的面上分别嵌装光电检测器。采用上述方案，本技术将多组不同波长的高强发光二极管集成在一个装置中构成多个光源，并且，超高亮发光二极管为单一固定波长以集束方式组合发射单色光构成单色器，这种集束式超高亮发光二极管既做光源又做单色器，寿命长、稳定性好、精密度高，是光源与单色器两部分更新的替代产品，提高了仪器中光源的稳定性、可靠性、和测量精度，可广泛应用于光度法的专用分析仪器中。本技术显著特点是1、用超高亮发光二极管即做光源又做单色器，稳定性好、精密度高，是光源与单色器两部分更新的替代产品。提高了仪器的可靠性和测量精度。2、将超高亮发光二极管用集束式整合，体积小，可以多颗任意组合。3、采用集束式超高亮发光二极管作为光源，光源强度稳定、纯净、耗电量小、发热量低、无热辐射，工作时反应速度快、寿命长、环保无污染。4、集束式超高亮发光二极管发出的为单色光谱，作为单色器使用，光谱纯度高。而且随环境的温度及湿度的变化小。5、集束式超高亮发光二极管作为单色器，使分光仪中去掉了光栅和透镜等繁杂的光学系统，使仪器可以做到体积小、耐用。附图说明图1为本技术一种结构示意图；图2为本技术比色装置中上部固定环结构示意图；图3为图1所示比色装置中下部结构示意图；图4为本技术另一种结构示意图；图5为图4所示比色装置下部结构示意图；图6本技术器再一种结构示意图；图7为图6所示比色装置中下部结构示意图；具体实施方式以下结合附图，说明本技术的具体实施方式本技术是在分光光度法的理论基础上设计出的专用分析器件。实施例一如图1所示为其中一种实施方式，该比色装置包括器体1和固定环2上下两部分，固定环2螺纹连接在器体1上。如图3所示，器体1主体31外面为立方体结构，内面为底端封闭的圆柱腔体，柱体直径与将来放在其中的比色瓶配合；在立方体结构主体31的两个相邻面上，嵌装有一组超高亮发光二极管35，而在与该两面相对的面上，分别嵌装光电检测器32，也就是说，光电检测器32安装在超高亮发光二极管光源对应面上，用于接收来自光源的光信号；在立方体结构主体31的上部设螺纹段33，用于与固定环2的连接，螺纹段33的最上端，设有卡口34，用于与使用时放置在器体1中间的比色瓶卡锁定位，该实施方式中，比色瓶需设成圆柱状以与器体1内面的圆柱腔体相对应。该实施方式中，每组超高亮发光二极管35可设有多个，在器体1上的数量和排列方式可以任意组合，每一组发光二极管35可以选用相同波长的发光二极管集束成为增强的单色光源，不同组的超高亮发光二极管35最好选用不同波长的发光二极管以形成不同波长的集束单色光，以方便多样品的测试；每一组超高亮发光二极管35也可以选用不同波长的发光二极管组合，通过控制开关单一使用以形成单色光源。可选用的超高亮发光二极管35有日本日亚和丰田公司生产的超高亮发光二极管，亮度参数在1000mcd以上，波长分别为400nm、405nm、408nm、410nm、412nm、420nm、430nm、440nm、450nm、460nm、470nm、480nm、490nm、500nm、510nm、520nm、530nm、540nm、550nm、560nm、570nm、580nm、590nm、600nm、610nm、620nm、630nm、640nm、650nm、660nm、830nm、860nm、910nm、925nm、940nm、950nm、960nm、980nm、1006nm。该实施方式中，光电检测器32一面可以只设一个，可选用美国TI公司生产集成光电传感器，型号为TSL201、TSL202、TSL203、TSL204、TSL205、TSL206、TSL207、TSL208、TSL209、TSL220、TSL230、TSL235、TSL245、TSL250、TSL251、TSL250、TSL253、TSL254、TSL255、TSL256、TSL257、TSL258、TSL259、TSL260、TSL261、或TSL262，也可以采用其它具有同等功效本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有集束式光源单色器的比色装置，其特征在于，包括下部器体和螺纹连接在器体上的固定环两部分，所述器体为底端封闭的中空对称柱体，所述柱体壁面嵌装一组超高亮发光二极管，同时在柱体相对壁面相对位置嵌装一光电检测器。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：于爱民，王振德，
申请(专利权)人：长春吉大小天鹅仪器有限公司，
类型：实用新型
国别省市：82[中国|长春]