PCB检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种PCB检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，该方法包括步骤：获取PCB的待检测数据，基于预设目标检测模型，通过所述待检测数据对所述PCB进行缺陷检测处理，获得初始检测结果；基于预设缺陷过滤规则，通过所述初始检测结果确定所述PCB的品质。实现了PCB在通过预设目标检测模型进行缺陷检测处理后，得到PCB的初始检测结果，之后，根据预设缺陷过滤规则和该初始检测结果来确定PCB的品质，从而使得PCB的待检测数据在经过预设目标检测模型和预设缺陷过滤规则的双重处理后，PCB才被确定其品质，进而提高了确定PCB的品质的准确性。

【技术实现步骤摘要】
PCB检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质
本专利技术涉及数据检测
，尤其涉及一种PCB检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
目前PCB(PrintedCircuitBoards，印制电路板)行业大多采用AVI(AutomatedVisualInspection，自动视觉检测)和AOI(AutomatedOpticalInspection，自动光学检测)进行检测，但是采用上述检测方法进行算法检测时，存在很多的问题，仅仅对规则性缺陷的PCB进行缺陷(如重复、缺失)检测时检测准确，而对于非规则性缺陷(如开路、短路、漏铜、缺口、偏孔、氧化、毛边、锡粉、锡渣、塞孔、假性漏洞或擦花等)的PCB，对该PCB进行缺陷检测时容易出现检测错误，具体为检测设备在检测到非规则性缺陷时，缺陷检测结果不够准确，如缺陷检测结果包括开路，而该PCB不存在开路的情况，从而导致通过该缺陷检测结果确定PCB的品质时不够准确，也就是通过该缺陷检测结果确定PCB的品质时，容易将良品误判为不良品。由此可知，目前检测PCB的品质的准确性低。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种PCB检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，旨在解决现有的确定PCB的品质的准确性低的技术问题。为实现上述目的，本专利技术提供一种PCB检测方法，所述PCB检测方法包括步骤：获取PCB的待检测数据，基于预设目标检测模型，通过所述待检测数据对所述PCB进行缺陷检测处理，获得初始检测结果；基于预设缺陷过滤规则，通过所述初始检测结果确定所述PCB的品质。优选地，所述初始检测结果至少包括PCB的缺陷类型和缺陷程度，所述基于预设缺陷过滤规则，通过所述初始检测结果确定所述PCB的品质的步骤包括：判断所述缺陷类型和/或缺陷程度是否满足预设缺陷过滤规则；若所述缺陷类型和/或缺陷程度满足预设缺陷过滤规则，则确定所述PCB为良品。优选地，所述若所述缺陷类型和/或缺陷程度满足预设缺陷过滤规则，则确定所述PCB为良品的步骤之后包括：丢弃所述良品对应的良品数据，以避免所述良品数据进入人工检测工站被人工重复检测。优选地，所述获得初始检测结果的步骤之后包括：若所述缺陷类型和/或缺陷程度符合预设缺陷条件，则输出预设提示信息。优选地，所述获得初始检测结果的步骤之后还包括：统计预设时间区间内所述缺陷类型和缺陷程度不满足预设缺陷过滤规则时对应的PCB的出现次数；若所述出现次数大于或等于预设阈值，则输出预设报警信息。优选地，所述获取待PCB的检测数据的步骤之前包括：获取训练数据集和待训练模型；基于所述训练数据集对所述待训练模型进行迭代训练，得到更新后的待训练模型，并确定所述更新后的待训练模型是否满足预设迭代结束条件；若所述更新后的待训练模型满足所述预设迭代结束条件，则将所述更新后的待训练模型作为所述预设目标检测模型；若所述更新后的待训练模型未满足所述迭代结束条件，则继续对所述更新后的待训练模型进行迭代训练更新，直至所述更新后的待训练模型满足所述迭代结束条件。优选地，所述训练数据集包括一个或多个训练样本和各所述训练样本对应的标准检测结果，所述获取训练数据集的步骤包括：获取训练样本；接收标注指令，并基于所述标注指令，对所述训练样本进行标注，获得标准检测结果。此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种PCB检测装置，所述PCB检测装置包括：第一获取模块，用于获取PCB的待检测数据；处理模块，用于基于所述预设目标检测模型，通过所述待检测数据对所述PCB进行缺陷检测处理，获得初始检测结果；第一确定模块，用于基于预设缺陷过滤规则，通过所述初始检测结果确定所述PCB的品质。此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种PCB检测设备，所述PCB检测设备包括存储器、处理器和存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的PCB检测程序，所述PCB检测程序被所述处理器执行时实现如上所述的PCB检测方法的步骤。此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有PCB检测程序，所述PCB检测程序被处理器执行时实现如上所述的PCB检测方法的步骤。本专利技术通过获取PCB的待检测数据，基于预设目标检测模型，通过所述待检测数据对所述PCB进行缺陷检测处理，获得初始检测结果；基于预设缺陷过滤规则，通过所述初始检测结果确定所述PCB的品质。实现了PCB在通过预设目标检测模型进行缺陷检测处理后，得到PCB的初始检测结果，之后，根据预设缺陷过滤规则和该初始检测结果来确定PCB的品质，从而使得PCB的待检测数据在经过预设目标检测模型和预设缺陷过滤规则的双重处理后，PCB才被确定其品质，进而提高了确定PCB的品质的准确性。附图说明图1是本专利技术PCB检测方法第一实施例的流程示意图；图2是本专利技术PCB检测方法第一实施例中预设缺陷过滤规则的过滤结果示意图；图3是本专利技术PCB检测方法第二实施例中预设缺陷条件的标记结果示意图；图4是本专利技术PCB检测装置较佳实施例的功能模块示意图；图5是本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的结构示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术提供一种PCB检测方法，参照图1，图1为本专利技术PCB检测方法第一实施例的流程示意图。本专利技术实施例提供了PCB检测方法的实施例，需要说明的是，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。为了便于描述，以下省略执行主体描述PCB检测方法的各个步骤。PCB检测方法包括：步骤S10，获取PCB的待检测数据，基于预设目标检测模型，通过所述待检测数据对所述PCB进行缺陷检测处理，获得初始检测结果。具体地，在PCB的生产过程中，需要通过一系列的工艺才能得到成品PCB，而这些工艺对应的加工过程会使PCB出现或多或少的缺陷，PCB的缺陷会影响PCB的品质，因此，在PCB的生产过程中，需要对PCB的缺陷进行检测。具体的缺陷检测流程可包括获取PCB的待检测数据，并基于预设目标检测模型，通过待检测数据对PCB进行缺陷检测处理，以获得初始检测结果。其中，待检测数据一般为图像数据，该图像数据可由CCD(ChargeCoupledDevice，电荷藕合器件图像传感器)获取；预设目标检测模型通过大量的PCB的相关数据(如待检测数据)训练而来，通过待检测数据对PCB的缺陷进行检测处理，也就是识别时，其识别准确度高。需要说明的是，在本实施例中，待检测数据包括良品数据和不良品数据，该待检测数据为PCB的图像，一个PCB对应多张图像。具体地，对于待检测数据，可以有两种来源，一种是经过检测设备检测后的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种印制电路板PCB检测方法，其特征在于，所述PCB检测方法包括以下步骤：/n获取PCB的待检测数据，基于预设目标检测模型，通过所述待检测数据对所述PCB进行缺陷检测处理，获得初始检测结果；/n基于预设缺陷过滤规则，通过所述初始检测结果确定所述PCB的品质。/n

【技术特征摘要】
1.一种印制电路板PCB检测方法，其特征在于，所述PCB检测方法包括以下步骤：
获取PCB的待检测数据，基于预设目标检测模型，通过所述待检测数据对所述PCB进行缺陷检测处理，获得初始检测结果；
基于预设缺陷过滤规则，通过所述初始检测结果确定所述PCB的品质。


2.如权利要求1所述的PCB检测方法，其特征在于，所述初始检测结果至少包括PCB的缺陷类型和缺陷程度，所述基于预设缺陷过滤规则，通过所述初始检测结果确定所述PCB的品质的步骤包括：
判断所述缺陷类型和/或缺陷程度是否满足预设缺陷过滤规则；
若所述缺陷类型和/或缺陷程度满足预设缺陷过滤规则，则确定所述PCB为良品。


3.如权利要求2所述的PCB检测方法，其特征在于，所述若所述缺陷类型和/或缺陷程度满足预设缺陷过滤规则，则确定所述PCB为良品的步骤之后包括：
丢弃所述良品对应的良品数据，以避免所述良品数据进入人工检测工站被人工重复检测。


4.如权利要求2所述的PCB检测方法，其特征在于，所述获得初始检测结果的步骤之后包括：
若所述缺陷类型和/或缺陷程度符合预设缺陷条件，则输出预设提示信息。


5.如权利要求2所述的PCB检测方法，其特征在于，所述获得初始检测结果的步骤之后还包括：
统计预设时间区间内所述缺陷类型和缺陷程度不满足预设缺陷过滤规则时对应的PCB的出现次数；
若所述出现次数大于或等于预设阈值，则输出预设报警信息。


6.如权利要求1所述的PCB检测方法，其特征在于，所述获取PCB的待检测数据的步骤之前包括：
获取训练数据集和待训...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄耀，张辉，陈维标，白元仑，罗娜娜，张峰，
申请(专利权)人：阿丘机器人科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32