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锥度限位接收狭缝制造技术

技术编号:2600771 阅读:255 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种锥度限位接收狭缝,属于X射线分析装置中的部件。本发明专利技术在锥度限位接收狭缝的内套上套有外形与该狭缝相同且端口有连接限位片的活动外套,由狭缝相对外套的滑动来改变狭缝的有效长度。在狭缝外套的连接限位片上加工有与狭缝端口匹配的通孔,在空心锥形内套内沿锥度方向嵌入多层单晶片,在狭缝上装有复位机构。本发明专利技术狭缝长度可调,能消除干扰谱线,从而提高测量精度。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属X射线分析装置的部件。专利号为97101150.8的专利技术专利“X射线残余应力测定装置和方法”中的锥度限位接收狭缝,包括空心锥体,均匀排布在该锥体内的且由钼、钽等材料制成的薄片,装在空心锥体下端的光圈,光圈的孔径由步进电机调节。空心锥体的上端开口,并与位敏探测器配用,只允许被测点的衍射信息进入位敏探测器,而将来自其他部位的衍射线和散射线排除在位敏探测器之外,从而实现无损测定残余应力沿层深的分布。这种锥度狭缝有以下不足值得改进锥度狭缝的长度不可调,使校正测角仪园半径(即X射线管焦点至被测点的距离)的操作受到妨碍;锥度限位接收狭缝内限制X射线发散度所用的薄片,由钼、钽等多晶材料制成,部份进入锥度狭缝的衍射线,在狭缝的出口端(即与探测器靠近的一端)因碰到钼、钽薄片而产生衍射,钼、钽薄片的衍射线叠加在被测点的衍射线上,形成干扰谱线,严重影响了测量精度;设置的光圈虽然可以调节进入狭缝的入射光束的大小,但与狭缝内限制发散度的钼、钽薄片并无有机的匹配关系。本专利技术的目的,是针对上述锥度限位接收狭缝的不足,提供一种长度可调的,能消除干扰谱线从而提高测量精度的锥度限位接收狭缝。为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种锥度限位接收狭缝,包括空心锥形内套,均匀排布在该内套内限制X射线发散度的薄片,其特征在于在锥度限位接收狭缝上套有外形与该狭缝相同的、端口有连接限位片的活动外套,由狭缝相对外套的滑动来改变狭缝的有效长度,在狭缝所对的外套连接限位片上加工有与狭缝端口匹配的通孔,在空心锥形内套内沿锥度方向嵌入多层单晶薄片,在锥度限位接收狭缝上装有狭缝复位机构。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:周上祺任勤
申请(专利权)人:重庆大学
类型:发明
国别省市:85[中国|重庆]

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