射线照相设备制造技术

技术编号:2584977 阅读:126 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种FPD具有检测面,所述检测面具有排列在沿两个相交轴方向延伸的行(u轴)和列(v轴)中的检测单元。在进行主扫描时,FPD围绕截面轴运动,以便恒定地保持u轴与身体轴平行。因此,在重构处理中,在沿假想三维网格的身体轴A的一行中,通过网格点的X射线的检测面上的投影点组与u轴平行。因此,仅从其之间具有投影点组的两线检测单元所获取的检测信号中,可以推导应当投影回一行网格点的所有投影数据。因此,减少了获得投影数据所需的检测信号量,以便高速执行重构处理。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种射线照相设备,用于医学领域以及在工业领域中用于执行非破坏性试验、RI(放射性同位素)检查或光检查。
技术介绍
这种传统的设备包括彼此相对的X射线管和平板X射线检测器(下面适当地称为“FPD”),并通过围绕通过处于检查的对象的感兴趣点的截面轴(也称为主扫描轴)同时旋转X射线管和X射线检测器,执行主扫描,以及通过围绕实质上与截面轴垂直延伸的轴(也称为次扫描轴,下面称为“身体轴”)同时旋转X射线管和X射线检测器,执行次扫描。该设备根据在主扫描和次扫描期间在各个时间点处从FPD获得的投影数据组,获取三维截面图像(例如,如在日本未审专利公布No.2004-141656中所公开的)。然而,这种结构的传统设备具有下面的缺点。当执行重构处理时,虚拟地将三维网格(lattice)设置到处于检查的对象的感兴趣点。该三维网格的一侧与对象的身体轴平行地延伸。根据通过网格点的X射线落在FPD的检测面上的点(下面简称为“网格点的投影点”)处的投影数据,向三维网格的每一个网格点赋予信息。该处理被称为反向投影。FPD在检测平面上具有以矩阵形式排列的检测单元,并且从每一个检测单元中获取检测信号。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于获得三维截面图像的射线照相设备,包括:辐射源,用于向处于检查的对象发射电磁波;检测装置,横跨对象与辐射源相对,用于从透过对象的电磁波中获得对象的投影数据;主扫描装置,用于在使所述辐射轴关于所述截面轴以预定角度 倾斜的同时,通过至少移动所述辐射源,围绕通过对象感兴趣点的所述截面轴来旋转用于连结所述辐射源和所述检测装置的所述辐射轴,从而执行主扫描;以及图像处理装置,用于根据在主扫描中的每一个时间点处从所述检测装置获得的投影数据组,执行重构处理 ,以获取三维截面图;其中,所述检测装置具有平坦或弯曲的检测面,所述检测面具有排列在沿两个...

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:及川四郎森田尚孝
申请(专利权)人:株式会社岛津制作所
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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