【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于借助于测定材料的物理、化学或同位素性质来测试或分析材料领域，具体涉及一种。
技术介绍
在环境样品分析中，微粒的元素和同位素组成分析是其重要手段之一。分析过程一般分为两步进行，一是，利用扫描电镜寻找和定位感兴趣微粒，如含铀或含钚微粒；二是，在二次离子质谱仪中对感兴趣微粒进行再定位之后，对其进行同位素组成分析。在定位和再定位之间，定位标记在两台仪器中起着桥梁作用，所以，定位标记的建立在微粒定位中起着关键作用。现有的微粒分析定位标记制作方法，主要采用蒸发镀膜法，该制作方法的步骤是，首先用激光加工或其它方式制作一个大的模具，用普通胶水将定位网栅粘贴在大模具上，然后将大模具扣在直径1英寸的石墨样品垫上，放入蒸发镀膜仪里蒸镀铜或金，蒸镀完毕后将大模具和定位网栅取下，在石墨样品垫上就留下了一层薄而均匀的膜。这层膜中含有定位网栅上的字母、阿拉伯数字和附近的“十”等图案，这些字母、阿拉伯数字及附近的“十”图案均可以作为微粒分析的定位标记。这种方法制作的微粒分析定位标记厚度薄而均匀，有助于保证感兴趣微粒的定位精度，但镀膜的微粒定位标记耐二次离子质谱仪离子束轰击能力差...
【技术保护点】
一种微粒分析的定位标记制作方法，其特征在于：所述的制作方法是把涂有导电银胶的定位网栅（１）沿倒扣在石墨样品垫（３）上的定位模具（４）的内径粘贴在石墨样品垫（３）上，再用挤压模具（２）固定定位网栅（１）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘国荣，李井怀，李静，赵永刚，李安利，王林博，郭士伦，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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