用于相关光谱法的交叉干扰校正的方法技术

技术编号:2582729 阅读:220 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种方法,用于在材料的光谱测量中,通过原始测量信号的分析,自动补偿背景干扰物的存在,所述原始测量信号通过在信号中人为地引入负交叉干扰的操作产生。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于在光学过滤器相关性中更特别地在校正光谱测量中校正或减少交叉干扰的方法和设备。
技术介绍
光学吸收测量很长以来用于测量混合物中成分的浓度。所述吸收行为能够通过Beer-Lambert定律描述。吸收光谱仪的简单形式由光源、选择相关波长范围的装置、样品室和检测器组成。当吸收成分存在时,透射光强度的减少使所测量的在混合物中的成分的浓度减少。同时基于吸收强度和路径长度,可以给出所关心成分的灵敏读数,如果存在在波长通带内也能被吸收的其它成分,由于光源强度和交叉干扰的变化,所述读数可能存在零位误差和灵敏度误差(测量误差)。
技术实现思路
因为没有对所述光源的强度随时间的变化的参考,零位误差和灵敏度误差能够发生。通过使用参考测量此影响能够被补偿,所述参考测量与所关心的测量同时监视所述源输出信号。通过使用选择性的检测系统,调到所关心成分的吸收比,交叉干扰能够被最小化。另一个方法是通过使用单光路气体光学过滤器相关测量。图1中图示了其基本布置。在此方法中,使用轮2机械地调制来自宽频带源1的光,所述轮2包含填充有例如氮的不显著吸收气体的试管(或小容器)3和含有所关心气体的另一个试管(或本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:詹姆斯·霍比马丁·洛佩兹
申请(专利权)人:仕富梅集团公司
类型:发明
国别省市:

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