一种测量单分子DNA电导率的实验技术方法技术

一种测量单分子ＤＮＡ电导率的实验技术方法，其特征是：用改进的动力分子梳将ＤＮＡ单分子拉直在经ＡＰＳ修饰的云母上，用挡板紧贴住云母的一边，在另一边镀上银膜。把银膜和原子力显微镜的导电针尖分别充当连接ＤＮＡ单分子两端的两个电极，外接一由可变压电源、滑动变阻器、灵敏电压表和微电流测试仪组成的附加检测器件，由此构成一检测回路系统。本实验技术改进后可以借助原子力显微镜（ＡＦＭ）测定单分子ＤＮＡ的电导率，尤其是在实现了ＤＮＡ分子与金属电极间的欧姆接触的同时，对ＤＮＡ分子无损伤，与现有的测量方法比较具有操作简单，误差小等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种实验检测技术，尤其是一种测量单分子DNA电导率的实验技术方法。
技术介绍
目前，DNA分子的导电性能问题已成为单分子导电性质研究领域的一个亮点。DNA分子是导体、半导体、还是绝缘体至今还未达成共识，而其电导率之所以难以确定，主要是没有同时解决好以下几个问题一是DNA分子与金属电极间没有实现欧姆接触，造成接触点电阻过大；二是实验中采用的电子束刻蚀法制造纳米缺口的电极时，会导致DNA分子链被损坏；三是利用电泳法拉直的DNA分子链上会附有较多的杂质离子，不能体现DNA的真实导电性能。 因此，如何寻找一种既能实现DNA单分子与金属电极实现欧姆连接，又能不损坏DNA分子链的检测DNA单分子的导电率的方法，是解决DNA单分子实验检测技术的一个关键。
技术实现思路
本专利技术的目的旨在提出一种既能实现DNA与金属电极间的欧姆接触，避免损坏DNA分子链，同时尽可能减少DNA分子链上吸附的杂质离子的一种改进的实验技术。 这种测量单分子DNA电导率的实验技术方法，其特征是用改进的动力分子梳将单分子DNA拉直在经APS修饰的云母上，用挡板紧贴住云母的一边，在另一边镀上银膜。把银膜和本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量单分子ＤＮＡ电导率的实验技术方法，其特征是：用改进的动力分子梳将ＤＮＡ单分子拉直在经ＡＰＳ修饰的云母上，用挡板紧贴住云母的一边，在另一边镀上银膜，把银膜和原子力显微镜的导针尖分别充当连接ＤＮＡ单分子两端的两个电极，外接一由可变压电源、滑动变阻器、灵敏电压表和微电流测试仪组成的附加检测器件，由此构成一检测回路系统。

【技术特征摘要】
1.一种测量单分子DNA电导率的实验技术方法，其特征是用改进的动力分子梳将DNA单分子拉直在经APS修饰的云母上，用挡板紧贴住云母的一边，在另一边镀上银膜，把银膜和原子力显微镜的导针尖分别充当连接DNA单分子两端的两个电极，外接一由可变压电源、滑动变阻器、灵敏电压表和微电流测试仪组成的附加检测器件，由此构成一检测回路系统。2.如权利要求1所述的一种测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈勇华，董亚明，
申请(专利权)人：上海师范大学，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]