【技术实现步骤摘要】
本技术涉及实验设备领域,尤其涉及一种用于测量温度与电阻率关系的温控式电导率测试装置。
技术介绍
现在实验室对于样品检测面临着一个重要的问题就是无法实现温度和电阻率的同时测试,这就使得一些实验样品,需要测定其电阻率和温度关系时,没有有效的办法得到需要的实验数据,因此对于现在的实验研究造成了一定的限制。同时对于加热到一定温度的样品的电阻率测试,也面临着一个急需解决的问题,也就是对于检测样品在加热时检测,无法消除外界温度以及流动空气对其的影响。所以有必要研究一种能专用于测试温度与电阻率关系的测试装置。
技术实现思路
为克服现有电导率测试仪无法准确测量温度与电阻率的关系或温度控制不稳定等不足,本技术所要解决的技术问题是:提供一种能够稳定控制加热温度,便于测量温度与电阻率关系的测试装置。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是:温控式电导率测试装置,包括四探针电阻率测试仪、温控器和接触式测温计,还包括一个温控箱,所述温控器位于温控箱的底部,温控箱顶部设有两个开口,四探针电阻率测试仪的探针和接触式测温计的探头分别从两个开口内穿入到温控箱中。进一步的是,所述温控箱的内壁上设有玻璃纤维棉。进一步的是,所述温控箱的侧面设有箱门。本技术的有益效果是:通过设置一个温控箱,将温控器放置在温控箱底部,在温控箱顶部开两个开口用于放入四探针电阻率测试仪和接触式测温计的探针,当需要对测试件进行加热测量时,温控箱能隔绝外界因素对测试件的温度影响,从而保证了测量的准确性,同时,整个装置结构紧凑,占用空间小,特别适合实验室应用。附图说明图1是本技术结构示意图。图中标记为,1-四探针电阻率测试仪,2-温 ...
【技术保护点】
温控式电导率测试装置,包括四探针电阻率测试仪(1)、温控器(2)和接触式测温计(3),其特征是:还包括一个温控箱(4),所述温控器(2)位于温控箱(4)的底部,温控箱(4)顶部设有两个开口(41),四探针电阻率测试仪(1)的探针(11)和接触式测温计(3)的探头(31)分别从两个开口(41)内穿入到温控箱(4)中。
【技术特征摘要】
1.温控式电导率测试装置,包括四探针电阻率测试仪(1)、温控器(2)和接触式测温计(3),其特征是:还包括一个温控箱(4),所述温控器(2)位于温控箱(4)的底部,温控箱(4)顶部设有两个开口(41),四探针电阻率测试仪(1)的探针(11)和接触式测温计(...
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