自动分析装置和探头清洗方法制造方法及图纸

技术编号:2581699 阅读:171 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
通过探头(8a、8b)对检测体(4)依次采样,根据基于探头(8a、8b)的检测体(4)的采样次数或检测体(4)的采样量中至少一方,变更清洗探头(8a、8b)时的清洗次数或清洗时间中的至少一方。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种自动分析装置,具备:    对检测体采样的探头;    对由探头采样出的所述检测体进行分析的分析单元;    清洗所述探头的清洗机构;以及    根据由所述探头对所述检测体的采样次数或所述检测体的采样量中至少一方,变更由清洗机构对所述探头的清洗次数或清洗时间中的至少一方的探头清洗变更部。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:大沼武彦高山博子
申请(专利权)人:株式会社东芝东芝医疗系统株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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