分析装置制造方法及图纸

在进行与试剂（２５）反应的试料的分析的分析装置中，具备分析用具（１０）、红外线传感器（１）、及温度控制部（５）；在分析用具（１０）的内部，具备使试料和试剂（２５）反应的反应室（２４）、及通过通电而发热的发热体（３３）。红外线传感器（１）在分析用具（１０）的外部配置成接收从反应室（２４）辐射的红外线（９），并将与接收的红外线（９）的量对应的信号输出给温度控制部（５）。根据来自红外线传感器（１）的信号，由温度控制部（５）来调节发热体（３３）的发热量。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及进行与试剂反应的试料的分析的装置，特别是涉及利用微装置等的分析用具的分析装置。
技术介绍
近些年来，为了能够对微量的试料进行分析，被称为微装置的分析用具的开发很盛行。微装置例如在玻璃基板及树脂基板的一个面上，利用集成电路的微加工技术，形成微小的槽(宽度为数μm～数百μm)或凹部来制作(例如参照专利文献1)。图7是表示现有的微装置的一例的分解立体图。如图7所示，微装置将基板51和上盖52相接合形成。基板51和上盖52由透明的树脂或玻璃那样的透光性材料形成。另外，如图7所示，在上盖52上形成有在厚度方向贯通它的导入口53。导入口53用于将血液等试料导入微装置的内部。在基板51的一个面上设有截面为圆形的凹部54、截面积比凹部54大的凹部56、及连接凹部54和凹部56的槽55。凹部54形成为与基板51的导入口53相匹配。凹部54具有暂时贮留导入的试料的贮留部的功能。在凹部56内配置有固态的试剂57。凹部56具有反应室的功能。槽55具有将贮留在凹部54中的试料传送给凹部56的流路的功能。另外，在将基板51和上盖52接合时，为了确保凹部56和外部的透气，在基板51上还形成有作为透气路的槽58。通过这样的结构，在图7所示的微装置中，从凹部54到凹部56的试料移动通过毛细管现象进行。另外，试剂57与试料中的特定成分反应而显色。从而，如果从上盖52一侧向成为反应室的凹部56照射光，接收透射光而测量吸光度，则可以知道试料中的特定成分的浓度。在使用图7的例中代表的微装置的化学分析中，为了使反应条件一定，微装置的反应室的温度管理很重要。作为进行微装置的反应室的温度管理方法中的一种是采用加热部件的方法。通过这一方法，可以均匀加热微装置全体。但是，当使用加热部件时，需要使加热部件的热容量相对于微装置的热容量足够大。另外，加热部件的大小与热容量的大小成比例。因此，采用加热部件的温度管理具有测量装置大型化的问题及不能实现省电的问题。另外，由于从微装置的外部进行加热，所以微装置内部的反应室的温度，只能根据加热块的升温时间及温调精度来预测，很难严密地管理反应室的温度。另一方面，已知在微装置内部预先设置成为发热体的金属薄膜、及热电偶和热敏电阻元件等温度传感器(温度测量元件)并通过这些元件进行微装置内部的加热和温度测量来进行温度管理的方法(例如参照专利文献2)。根据该温度管理方法，可以使测量装置小型化，而且也可以实现省电。还可以从内部加热微装置，由于在内部可以测量温度，所以与采用加热部件时相比，可以严密地进行反应室的温度管理。专利文献1国际公开第03/093836号小册子(第1图-第40图、第45图-第48图)专利文献2(日本)特开2002-90357号公报(第1图)但是，在微装置内部设置了温度传感器时，由于来自温度传感器的电线从微装置内部向外部延伸，所以微装置内部的热量在电线中传递而向外部放出。从而，由温度传感器测量的反应室的温度比实际的反应室的温度低。因此，在上述采用了发热体和温度传感器的温度管理方法中，也存在很难准确测量反应室内的温度，温度管理不充分的问题。另外，为了对一个试料进行多种的检测，有时设置多个反应室，这时，需要对每个反应室设置温度传感器。但是，通常在温度传感器中有偏差，所以采用了温度传感器时，为了准确测量各反应室内的温度，需要对由各温度传感器所测量的温度进行准确的校正。另外，要求反应室的容积减小，但是温度传感器的小型化是有限的。因此，有时温度传感器的容积，与反应室的容积一样或者是其以上。这时，温度传感器吸收热量，产生对测量对象的温度造成影响的问题。另外，微装置从容易处理方面看，要求可任意使用。但是，在微装置的内部设置温度传感器时，微装置的成本会上升，可任意使用很困难。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提供一种分析装置，可消除上述问题，可准确测量在分析用具内部设置的反应室的温度，与现有技术相比可进行严密的温度管理。为了达到上述目的，本专利技术的分析装置进行与试剂反应的试料的分析，其特征在于，具备分析用具、红外线传感器、及温度控制部；上述分析用具在其内部具备使上述试料和上述试剂反应的反应室及通过通电而发热的发热体；上述红外线传感器在上述分析用具的外部配置成接收从上述反应室辐射的红外线，并将与接收的上述红外线量对应的信号输出给上述温度控制部；上述温度控制部根据来自上述红外线传感器的信号来调节上述发热体的发热量。专利技术的效果如上所述，本专利技术的分析装置，通过由红外线传感器接收从反应室辐射的红外线来测量反应室的温度，因此，与现有技术相比，可以准确地测量反应室内的温度。其结果，如果采用本专利技术的分析装置，与现有技术相比可以进行严密的温度管理。另外，由于不需要在分析用具内设置温度传感器，所以可以容易地任意使用分析用具。附图说明图1是表示本专利技术的实施方式1的分析装置中使用的分析用具的一例的截面图。图2是表示构成图1所示的分析用具的基板的上面图。图3是表示构成图1所示的分析用具的上盖的下面图。图4是图1所示的分析用具的分解立体图。图5是概略表示本专利技术的实施方式1的分析装置的结构的结构图。图6是概略表示本专利技术的实施方式2中的分析装置结构的结构图。图7是表示现有的微装置的一例的分解立体图。具体实施例方式本专利技术的分析装置，进行与试剂反应的试料的分析，其特征在于，具备分析用具、红外线传感器、及温度控制部；上述分析用具在其内部具备使上述试料和上述试剂反应的反应室、及通过通电而发热的发热体；上述红外线传感器在上述分析用具的外部配置成接收从上述反应室辐射的红外线，并将与接受的上述红外线的量对应的信号输出给上述温度控制部；上述温度控制部根据来自上述红外线传感器的信号，来调节上述发热体的发热量。在上述本专利技术的分析装置中，最好的方式是上述分析用具由透光性材料形成，还具备将上述试料导入上述分析用具的内部的导入口、暂时贮留所导入的上述试料的贮留部、及使所贮留的上述试料移动到上述反应室的流路。另外，在该方式中，最好是上述分析用具形成圆板状，上述导入口及上述贮留部配置成位于上述圆板的中心，上述反应室设有多个，各反应室在上述贮留部的周围沿着上述圆板的圆周方向配置，上述流路放射状地设有多条。这时，对一个试料，一次可以进行多个分析。另外，在上述本专利技术的分析装置中，上述红外线传感器在使其受光面朝向上述反应室的状态下，配置在上述分析用具的厚度方向上与上述反应室相对的位置；上述分析用具的设置上述反应室的部分的上述红外线传感器侧的壁厚设定为0.01mm～5mm。另外，在该方式中，上述红外线传感器的受光面和上述分析用具的距离设定为0.1mm～30mm。通过采用这样的方式，可以提高温度的测量精度。上述红外线传感器可以采用热电堆型红外线传感器。另外，上述本专利技术的分析装置，还具备对在上述反应室中与上述试剂反应的上述试料的反应度进行测量的测量装置；上述温度控制部根据上述红外线传感器输出给上述温度控制部的信号来确定上述反应室的温度，并将确定的温度通知给上述测量装置；上述测量装置根据上述温度控制部通知的温度，对所测量的反应度进行校正。根据上述的方式，可以得到更准确的测量结果。另外，在上述方式中，上述测量装置具备存储按每个温度设定的校正系数群的存储部，根据上述温度控制部通知的温度，从本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种分析装置，进行与试剂反应的试料的分析，其特征在于，具备分析用具、红外线传感器、及温度控制部；上述分析用具在其内部具备使上述试料和上述试剂反应的反应室、及通过通电而发热的发热体；上述红外线传感器在上述分析用具的外部配置成接收从上述反应室辐射的红外线，并将与接受的上述红外线的量对应的信号输出给上述温度控制部；上述温度控制部根据来自上述红外线传感器的信号，来调节上述发热体的发热量。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：藤本浩司，
申请(专利权)人：爱科来株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]