一种基于单粒子效应的故障注入方法技术

技术编号:25754623 阅读:35 留言:0更新日期:2020-09-25 21:04
本发明专利技术公开了一种基于单粒子效应的故障注入方法,将试验电路板固定于三维移动台上,打开皮秒脉冲激光器,设定激光脉冲频率,确定激光器稳定运行;将激光聚焦到试验器件正面,测得试验器件长a、宽b,移动三维移动台使激光光斑定位于试验器件显微成像的一角处,并作为扫描原点;试验器件加电,记录工作电压;设定初始激光能量,设定三维移动台周期移动,使激光注量覆盖扫描试验器件;采用最低激光能量最低时芯片发生单粒子锁定;拆除试验电路板,更换试验器件,重复S2‑S5试验步骤;关闭皮秒脉冲激光器,试验结束。本发明专利技术具有的试验时间短、成本低、可多次复现等优势,是疲劳试验方法所无法实现的。本发明专利技术适用于装备测试性验证与评估技术领域。

【技术实现步骤摘要】
一种基于单粒子效应的故障注入方法
本专利技术属于装备测试性验证与评估的
,具体地说,涉及一种基于单粒子效应的故障注入方法。
技术介绍
故障注入是装备测试性验证与评估试验的重要支撑技术,也是新装备潜在故障特种获取的关键技术。目前,大规模集成电路故障注入主要采用两种方式,第一种是通过修改固件程序,改变输出信号来模拟故障,第二种是通过应力疲劳试验来造成试验器件失效,进而产生故障。相比而言,通过模拟仅能对已知状态下的故障进行模拟,故障模拟的主观性强,难以代表新研系统的客观情况;疲劳试验则更加接近实际,能够模拟出新研系统未来使用过程中可能出现的真实故障状态。但是,疲劳试验不仅所需时间长,而且对元试验器件造成的损伤是不可逆的,也造成了试验成本的提升。
技术实现思路
本专利技术提供具有试验时间短、成本低、可多次复现特点的一种基于单粒子效应的故障注入方法。为实现上述目的,本专利技术所采用的技术方案如下:一种基于单粒子效应的故障注入方法,包括如下步骤:S1、将试验电路板固定于三维移动台上,打开皮秒脉冲激光器,设定本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于单粒子效应的故障注入方法,其特征在于,包括如下步骤:/nS1、将试验电路板固定于三维移动台上,打开皮秒脉冲激光器,设定激光脉冲频率,确定激光器稳定运行;/nS2、将激光聚焦到试验器件正面,测得试验器件长a、宽b,移动三维移动台使激光光斑定位于试验器件显微成像的一角处,并作为扫描原点;/nS3、试验器件加电,记录工作电压;/nS4、设定初始激光能量,设定三维移动台周期移动,使激光注量覆盖扫描试验器件;/nS5、采用最低激光能量最低时芯片发生单粒子锁定;/nS6、拆除试验电路板,更换试验器件,重复S2-S5试验步骤;/nS7、关闭皮秒脉冲激光器,试验结束。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于单粒子效应的故障注入方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1、将试验电路板固定于三维移动台上,打开皮秒脉冲激光器,设定激光脉冲频率,确定激光器稳定运行;
S2、将激光聚焦到试验器件正面,测得试验器件长a、宽b,移动三维移动台使激光光斑定位于试验器件显微成像的一角处,并作为扫描原点;
S3、试验器件加电,记录工作电压;
S4、设定初始激光能量,设定三维移动台周期移动,使激光注量覆盖扫描试验器件;
S5、采用最低激光能量最低时芯片发生单粒子锁定;
S6、拆除试验电路板,更换试验器件,重复S2-S5试验步骤;
S7、关闭皮秒脉冲激光器,试验结束。


2.根据权利要求1所述的一种基于单粒子效应的故障注入方法,其特征在于:试验前,使试验器件的长a对应CCD成像的Y轴,宽b对应CCD成像的X轴,试验器件CCD成像的左下角作为扫描起点。


3.根据权利要求1所述的一种基于单粒子效应的故障注入方法,其特征在于,所述S4步骤中设定三维移动台按如下顺序作周期移动,共移动b/10个周期:
(1)、沿-Y轴移动距离(a+50)μm;
(2)、沿-X轴移动X轴步长;
(3)、沿+Y轴移动距离(a+50)μm;
(4)、沿-X轴移动X轴步长。


4.根据权利要求1所述的一种基于单粒...

【专利技术属性】
技术研发人员:连光耀孙江生张西山闫鹏程李会杰吕艳梅张连武邱文昊连云峰代冬升李雅峰裴向前王宁袁祥波谢大兵
申请(专利权)人:中国人民解放军三二一八一部队
类型:发明
国别省市:河北;13

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