【技术实现步骤摘要】
一种基于单粒子效应的故障注入方法
本专利技术属于装备测试性验证与评估的
,具体地说,涉及一种基于单粒子效应的故障注入方法。
技术介绍
故障注入是装备测试性验证与评估试验的重要支撑技术,也是新装备潜在故障特种获取的关键技术。目前,大规模集成电路故障注入主要采用两种方式,第一种是通过修改固件程序,改变输出信号来模拟故障,第二种是通过应力疲劳试验来造成试验器件失效,进而产生故障。相比而言,通过模拟仅能对已知状态下的故障进行模拟,故障模拟的主观性强,难以代表新研系统的客观情况;疲劳试验则更加接近实际,能够模拟出新研系统未来使用过程中可能出现的真实故障状态。但是,疲劳试验不仅所需时间长,而且对元试验器件造成的损伤是不可逆的,也造成了试验成本的提升。
技术实现思路
本专利技术提供具有试验时间短、成本低、可多次复现特点的一种基于单粒子效应的故障注入方法。为实现上述目的,本专利技术所采用的技术方案如下:一种基于单粒子效应的故障注入方法,包括如下步骤:S1、将试验电路板固定于三维移动台上,打开 ...
【技术保护点】
1.一种基于单粒子效应的故障注入方法,其特征在于,包括如下步骤:/nS1、将试验电路板固定于三维移动台上,打开皮秒脉冲激光器,设定激光脉冲频率,确定激光器稳定运行;/nS2、将激光聚焦到试验器件正面,测得试验器件长a、宽b,移动三维移动台使激光光斑定位于试验器件显微成像的一角处,并作为扫描原点;/nS3、试验器件加电,记录工作电压;/nS4、设定初始激光能量,设定三维移动台周期移动,使激光注量覆盖扫描试验器件;/nS5、采用最低激光能量最低时芯片发生单粒子锁定;/nS6、拆除试验电路板,更换试验器件,重复S2-S5试验步骤;/nS7、关闭皮秒脉冲激光器,试验结束。/n
【技术特征摘要】
1.一种基于单粒子效应的故障注入方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1、将试验电路板固定于三维移动台上,打开皮秒脉冲激光器,设定激光脉冲频率,确定激光器稳定运行;
S2、将激光聚焦到试验器件正面,测得试验器件长a、宽b,移动三维移动台使激光光斑定位于试验器件显微成像的一角处,并作为扫描原点;
S3、试验器件加电,记录工作电压;
S4、设定初始激光能量,设定三维移动台周期移动,使激光注量覆盖扫描试验器件;
S5、采用最低激光能量最低时芯片发生单粒子锁定;
S6、拆除试验电路板,更换试验器件,重复S2-S5试验步骤;
S7、关闭皮秒脉冲激光器,试验结束。
2.根据权利要求1所述的一种基于单粒子效应的故障注入方法,其特征在于:试验前,使试验器件的长a对应CCD成像的Y轴,宽b对应CCD成像的X轴,试验器件CCD成像的左下角作为扫描起点。
3.根据权利要求1所述的一种基于单粒子效应的故障注入方法,其特征在于,所述S4步骤中设定三维移动台按如下顺序作周期移动,共移动b/10个周期:
(1)、沿-Y轴移动距离(a+50)μm;
(2)、沿-X轴移动X轴步长;
(3)、沿+Y轴移动距离(a+50)μm;
(4)、沿-X轴移动X轴步长。
4.根据权利要求1所述的一种基于单粒...
【专利技术属性】
技术研发人员:连光耀,孙江生,张西山,闫鹏程,李会杰,吕艳梅,张连武,邱文昊,连云峰,代冬升,李雅峰,裴向前,王宁,袁祥波,谢大兵,
申请(专利权)人:中国人民解放军三二一八一部队,
类型:发明
国别省市:河北;13
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