【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光学计量与测量领域中的光学材料折射率测试装置，尤 其涉及一种紫外全波段光学材料折射率测量装置。
技术介绍
折射率是光学材料最基本的光学性能参数之一，同时也是光学系统设计 的基础，为了满足光学设计、光学材料生产等的需要，必须准确测量光学材 料的折射率值。目前，光学材料折射率测量方法主要有阿贝法、V棱镜法和精密测角法等。 前两种测量方法测量精度较低，如阿贝法折射率测量准确度只能达到10—2， v 棱镜测量法折射率测量准确度只能达到10—4，而在高精密光学设计中，通常对 光学材料折射率值的精度要求很高，需要折射率的准确度达到10—5，因此釆用这两种方法测量光学材料的折射率值无法满足高精密光学设计的需求。此外， 这两种测量方法都是用人眼来观察经过被测量材料折射后的折射光线，进而 获得折射角来推算出材料折射率值，因此，这两种方法只能测量可见光波段 光学材料的折射率，无法实现紫外等非可见光波段材料折射率测量。而精密 测角法则是将被测量的光学材料按要求加工成一定角度的楔形棱镜，将光电 探测处理系统的光电探测器以及聚焦光学系统安装在大型测角仪的转台上， 光电探...
【技术保护点】
一种紫外光学材料折射率测量装置，包括单色光源系统［１］、准直光学系统［２］、测角仪［３］、聚焦光学系统［４］、光电探测处理系统［５］、有采集卡和折射率测量软件包的计算机处理系统［６］，其特征在于：所述的单色光源系统［１］含有紫外光源［１－１］和紫外单色仪［１－３］，所述的光电探测处理系统［５］含有紫外探测器［５－２］和探测信号处理电路；所述测角仪［３］含有由第一步进电机带动的工作台［３－１］、由第二步进电机带动的转台［３－２］、含有角度编码器和显示屏的角度数显箱［３－４］，工作台［３－１］与转台［３－２］同轴转动；所述准直光学系统［２］的焦点位于紫外单色仪［１－３］的出射狭...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王雷，黎高平，杨照金，张博妮，徐荣国，辛舟，
申请(专利权)人：中国兵器工业第二〇五研究所，
类型：发明
国别省市：87[中国|西安]
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