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本发明公开了一种紫外光学材料折射率测量装置，包括单色光源系统、准直光学系统、测角仪、聚焦光学系统、光电探测处理系统、置有折射率测量软件包的计算机处理系统。主要特点是，单色光源系统提供连续可变的紫外单色光，光电探测处理系统在测角仪的带动下探测...
该专利属于中国兵器工业第二〇五研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国兵器工业第二〇五研究所授权不得商用。

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