元件检测成像装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于检测装置。一种元件检测成像装置，包括有一检测成像装置、一元件接承转盘及数个影像撷取装置；设置有由延伸管固定架、延伸管、反射镜伸缩架、反射镜固定架及锥形反射镜构成的检测成像装置，锥形反射镜内侧形成镜面部。待测元件置于元件接承转盘上，再依序转至检测成像装置下方，此时检测成像装置下降，罩于待测元件上，该待测元件头部的周围就会成像于锥形反射镜内部的镜面部上，此时检测成像装置上方的影像撷取装置即可由上而下取得待测元件头部的影像，如此即可快速判别元件的瑕疵。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种检测装置，尤指一种利用镜面成像原理，使元件 检测更为迅速确实的元件检测成像装置。技术背景习用的检测成像装置大多使用于螺丝头的质量检测，但是该检测成像 装置在实际使用上仍存在下列缺失-1. 请参阅图l、图2所示，习用的检测成像装置系将影像撷取装置20a 设置于待测元件10a的侧边，仅能撷取到待测元件10a —侧的影像，不能 确实辨别待测元件10a的好坏。2. 请再参阅图3、图4所示，又一习用的检测成像装置系将影像撷取装 置20b设置于待测元件10b的上方，如此，仅能取得待测元件10b头部表 面的影像，若待测元件10b头部的瑕疵出现于周围部份时，即无法辨别。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种元件检测成像装置，希藉此设计， 解决可全方位检测元件，提高检测的准确性及完整性的的技术问题。 为解决前述技术问题，本技术所运用的技术手段为 一种元件检测成像装置，包括一元件接承转盘及数个影像撷取装置；其 特征在于设置有检测成像装置，该检测成像装置置于元件接承转盘上方， 由环状光源、延伸管固定架、延伸管、反射镜伸縮架、反射镜固定架、锥形 反射镜、数支定位销及数个弹簧所构成；其中，环状光源设于延伸，的一侧， 并于周围设有延伸管固定架；而反射镜伸縮架的一侧连接延伸管另一側，其另一侧则设有锥形反射镜，并于周围设置具有顶柱的反射镜固定架；套筒设 置在反射镜伸縮架上，该定位销穿入套筒和弹簧后嵌插于反射镜固定架上； 该锥形反射镜的两端系夹设形成一夹角，且内侧设为镜面部。 进一步所述锥形反射镜两端夹设的最佳角度为45度。 进一步所述锥形反射镜两端夹设的最小角度为15度。 进一步所述锥形反射镜两端夹设的最大角度为55度。 进一步该影像撷取装置设置在检测成像装置上方，该影像撷取装置 设置在元件接承转盘侧边，该影像撷取装置设置在检测成像装置及元件接 承转盘下方。附图说明图l为习用的立体示意图。 图2为第1图的侧视示意图。 图3为另一习用的立体示意图。 图4为第3图的侧视示意图。 图5为本技术的立体示意图。 图6为本技术的动作示意图(一)。 图7为本技术的动作示意图(二)。 图8为本技术的动作示意图(三)。 图9为本技术检测成像装置的剖视图。 图IO为本技术检测成像装置的侧视示意图。 图11为本技术的成像示意图(一)。 图12为本技术的成像示意图(二)。图13为本技术的之锥形反射镜用于检测待测元件的鳔牙尾端的动 作示意图。具体实施方式请参阅图5、 6、 9所示，本技术包括一元件接承转盘40及影像撷 取装置20、 21、 22、 23，并设置有一检测成像装置30;该检测成像装置30 置于元件接承转盘40上方，影像撷取装置20设于检测成像装置30上方， 影像撷取装置21、 22设于元件接承转盘40的侧边，影像撷取装置23则设 于检测成像装置30及元件接承转盘40下方。该检测成像装置30由环状光 源31、延伸管固定架32、延伸管33、反射镜伸缩架34、反射镜固定架35、 锥形反射镜36、数支定位销37及数个弹簧38所构成；其中，该环状光源 31设于延伸管33的一侧，并于其周围设有延伸管固定架32;延伸管33的 另一侧则连接反射镜伸縮架34的一侧，反射镜伸縮架34的另一侧则连接 锥形反射镜36，并于其周围设有反射镜固定架35;而锥形反射镜36内侧 形成镜面部361,用于完整反射待测元件10的各个角度，且锥形反射镜36 两端夹设的角度可使内侧的镜面部361上反射的成像易于透过影像撷取装 置20或以直接目视来辨别，其最佳的夹设角度为45度，最小的夹设角度 为15度，最大的夹设角度为55度，且反射镜伸縮架34上设有套筒341， 并利用定位销37穿入套筒341后，再穿入弹簧38后嵌插于反射镜固定架 35上，且于反射镜固定架35下方设一顶柱351。请参阅图6、 7、 8所示，当欲检测待测元件10时，先将待测元件10 置于元件接承转盘40上，再依序转至检测成像装置30下方，此时检测成 像装置30下降，罩于欲检测的待测元件10上，而该锥形反射镜36与反射 镜固定架35下方的顶柱351会同时抵住检测平台41，以确认锥形反射镜 36确实罩于待测元件10之上，若检测成像装置30再继续下降，则仅有反 射镜伸縮架34下降，使得反射镜伸縮架34上的套筒341压缩弹簧38，不 会直接压迫到锥形反射镜36与检测平台41;其中，该待澜元件10可为嫘丝。请参阅图8、 9所示，当检测成像装置30罩于待测元件10上，锥形反 射镜36内侧所设的镜面部361会将待测元件IO头部11的周围会成像于锥 形反射镜36内部的镜面部361上，此时检测成像装置30上方的影像撷取 装置20即可由上而下取得整个待测元件10头部11的影像，且检测成像装 置30上端的环状光源31会将延伸管33及锥形反射镜36内照明，使得影 像撷取装置20所取得的待测元件10头部11及其周围的影像更加清晰。请参阅图13所示，当待测元件10的螺牙尾端14具特殊构造时，如 具割尾槽时，可将锥形反射镜39单独设于待测元件10的一侧，其位置与 检测成像装置30成垂直，并置于检测平台41的下方，且于锥形反射镜39 的一侧设一影像撷取装置23，如此，即可由影像撷取装置23取得待测元件 10的螺牙尾端14的影像。请参阅图ll、 12所示，检测成像装置30上方的影像擷取装置20可立 即取得待测元件10头部11表面的影像，故瑕疵12位于待测元件10头部 11的表面时，即可马上判别，但若瑕疵13位于待测元件10头部11的周围 时，可经由锥形反射镜36内侧所设的镜面部361反射而直接映于镜面部361 之上的成像362来判别，如此即可由检测成像装置30上方的影像擷取装置 20上判别整个待测元件10头部11的瑕疵12、 13所在。请参阅图10所示，当检测成像装置30上方的影像擷取装置20取得 整个待测元件10头部11的影像之后，检测成像装置30会再上升，使元件 接承转盘40将待测元件10旋转至另一方向，使置于元件接承转盘40 —侧 的影像擷取装置21、 22可以取得待测元件10侧面的影像；加上检测成像 装置30上方的影像擷取装置20所取得的待测元件10头部11的影像，即 可完整的判别整个待测元件10的好坏及瑕疵12、 13。-权利要求1、一种元件检测成像装置，包括一元件接承转盘(40)及数个影像撷取装置(20)、(21)、(22)、(23)；其特征在于设置有检测成像装置(30)，该检测成像装置(30)置于元件接承转盘(40)上方，由环状光源(31)、延伸管固定架(32)、延伸管(33)、反射镜伸缩架(34)、反射镜固定架(35)、锥形反射镜(36)、数支定位销(37)及数个弹簧(38)所构成；其中，环状光源(31)设于延伸管(33)的一侧，并于周围设有延伸管固定架(32)；而反射镜伸缩架(34)的一侧连接延伸管(33)另一侧，其另一侧则设有锥形反射镜(36)，并于周围设置具有顶柱(351)的反射镜固定架(35)；套筒(341)设置在反射镜伸缩架(34)上，该定位销(37)穿入套筒(341)和弹簧(38)后嵌插于反射镜固定架(35)上；该锥形反射镜(36)的两本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种元件检测成像装置，包括一元件接承转盘（４０）及数个影像撷取装置（２０）、（２１）、（２２）、（２３）；其特征在于：设置有检测成像装置（３０），该检测成像装置（３０）置于元件接承转盘（４０）上方，由环状光源（３１）、延伸管固定架（３２）、延伸管（３３）、反射镜伸缩架（３４）、反射镜固定架（３５）、锥形反射镜（３６）、数支定位销（３７）及数个弹簧（３８）所构成；其中，环状光源（３１）设于延伸管（３３）的一侧，并于周围设有延伸管固定架（３２）；而反射镜伸缩架（３４）的一侧连接延伸管（３３）另一侧，其另一侧则设有锥形反射镜（３６），并于周围设置具有顶柱（３５１）的反射镜固定架（３５）；套筒（３４１）设置在反射镜伸缩架（３４）上，该定位销（３７）穿入套筒（３４１）和弹簧（３８）后嵌插于反射镜固定架（３５）上；该锥形反射镜（３６）的两端系夹设形成一夹角，且内侧设为镜面部（３６１）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘明宗，林宜弘，
申请(专利权)人：吴俊男，
类型：实用新型
国别省市：71[]