用于在光学系统中测量反射模式显示器的绝对光产出量的方法技术方案

技术编号:2567223 阅读:239 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种在具有折返光径的光学系统中测量偏振调制反射型显示器绝对产出量的方法。其步骤包括在具有第一偏振光束分离器,和反射型显示器的折返光径中测量第一光强度,L#-[R]。第二光强度,L0,是通过采用以第二正交转动的偏振光束分离器来代替反射型显示器的非折返光径来测量的。计算了绝对产出量T#-[M]此处T#-[M]=L#-[R]/L#-[0]。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

技术介绍
本专利技术涉及在给定的光学系统中测量偏振调制的反射型显示系统的绝对光产生量的一种新方法。在本案例中的光学系统规定为调制光以获得所要求光学图像的一个系统。术语光学系统的意思包括诸如装在顶部的显示器和电子投影显示器的显示系统。在光学系统中的每个光学元件都有元件都有光产出量,即效率。透射型光学元件的光产出量是该元件透射的入射光的份额,即不被该元件反射,吸收,或散射的光的百分率。反射型光学元件的光产出量定义为该元件反射的入射光的份额,即不被该元件透射,吸收,或散射的光的百分率。在评定和设计诸如电子投影仪的光学显示系统中,光输出是一个重要因子。在会议和展示中,报告人经常使用连接到个人计算机的电子投影仪来提供电子显示(例如Microsoft Power TM显示仪)。系统的光输出帮助决定所投影图像的亮度,所以希望有高的光输出。光输出受每个元件的影响,正比于该元件的产出量。一般,光学显示系统不是采用透射模式就是采用反射模式的显示器。在透射模式的系统中,光经显示器或成像器通过。在反射模式的系统中,显示器反射光。许多公司集中于开发反射模式显示器以寻求较低成本和较高的分辨率。有前途的新的反射模式本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用在具有折返光径的光学系统中,测量偏振调制的反射型显示器的绝对光产出量的方法,其特征在于,该方法包括的步骤为:a)测量在折返光径中传递的第一光强度,L↓[R],其中由光学系统调制的光束第一偏振分量被第一偏振光束分离器折返,以及光束第 二偏振分量被第一偏振光束分离器透射,其中偏振分量中的一个分量被反射出反射型显示器;b)测量在非折返光径中被光学系统传递的第二光强度,L↓[O],在该光径中反射型显示器已被移走,该光径具有第一偏振光束分离器以及具有等效光学性能特性的第二正 交转动偏振光束分离器,其中,光束是由PBS中的一个透射而由另一个反射,以及c)计算绝对产出量T↓[H],此处[T...

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:DJW奥斯图恩CL布鲁索内
申请(专利权)人:三M创新有限公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

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