离合式光纤微弯发生装置制造方法及图纸

技术编号:2568359 阅读:187 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种离合式光纤微弯发生装置,包括光纤绕线筒及其两侧设置的侧挡板,光纤绕线筒横向分割成两部分,在每部分绕线筒的分割端分别制成可以接插的插件和插口,在每部分光纤绕线筒的表面设置砂布,本实用新型专利技术使用方便,使用时不损伤光纤,能够使光纤微弯状态下衰减的测定顺利进行。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种光纤测试的辅助装置,尤其是测定光纤微弯状态下衰减的辅助装置。
技术介绍
为测定光纤微弯状态下的衰减,需要有一种使光纤发生微弯的装置,现有的光纤微弯 发生装置采用分别具有凸筋和凹槽的两块金属板组成,测试时光纤置于两块金属板之间使 其发生微弯,由于金属板较重,在操作时易折断被测试的光纤,导致测试无法进行。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种光纤微弯发生装置,操作简便而且不易将光纤折断,使 光纤在微弯状态下的衰减的测定能够顺利进行。本技术提供的离合式光纤微弯发生装置,包括光纤绕线筒及其两侧设置的侧挡板, 光纤绕线筒横向分割成两部分,在每部分光纤绕线筒的分割端分别制成可以接插的插件和 插口,在每部分光纤绕线筒的表面设置砂布。下面结合本技术的使用说明其有益效果。本技术使用时将光纤绕线筒的一部分的分割端上的插件插入另一部分的分割端的 插口内,使光纤绕线筒的两部分插合在一起,在绕线筒的砂布表面绕一层光纤,由于砂布 表面凹凸不平,此时光纤处于微弯状态,测定光纤的数据;然后将本技术的光纤绕线 筒的两部分分开,光纤松散,微弯状态消除,再测定光纤的数据。两者对比即可测出光纤 微弯状态下的衰本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种离合式光纤微弯发生装置,包括光纤绕线筒及其两侧设置的侧挡板,其特征在于光纤绕线筒横向分割成两部分,在每部分绕线筒的分割端分别制成可以接插的插件和插口,在每部分光纤绕线筒的表面设置砂布。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:高安敏尹红兵宋君孙贵林王利英
申请(专利权)人:江苏亨通光纤科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:32[中国|江苏]

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