可靠性综合验证试验方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及可靠性验证技术领域，具体公开一种可靠性综合验证试验方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括确定可靠性综合试验剖面；根据待验证的基本可靠性指标和预设的基本可靠性验证方案确定第一试验时长；根据待验证的任务可靠性指标、预设的任务可靠性验证方案以及第一试验时长确定第二试验时长；基于可靠性综合试验剖面进行第一试验时长的基本可靠性验证及第二试验时长的任务可靠性验证，且基本可靠性验证对应的时间段位于任务可靠性验证对应的时间段内。基于同一个可靠性综合试验剖面，在第二试验时长内全程进行任务可靠性验证，在第二试验时长中的第一试验时长内同时进行基本可靠性验证，由此实现基本可靠性验证和任务可靠性验证的结合。

【技术实现步骤摘要】
可靠性综合验证试验方法、装置、电子设备及存储介质
本专利技术涉及可靠性验证
，特别是涉及一种可靠性综合验证试验方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
可靠性是指装备产品在规定的条件下和规定的时间内，完成规定功能的能力，是产品重要的通用质量特性之一。产品的可靠性包括基本可靠性与任务可靠性两种，其中基本可靠性指产品在规定的条件下，规定的时间内，无故障工作的能力，反映产品对维修资源的要求，任务可靠性指产品在规定的任务剖面内完成规定功能的能力，反映完成任务的能力。相应地，装备的可靠性验证试验包括基本可靠性验证试验与任务可靠性验证试验两类。基本可靠性验证试验验证对象一般为装备的平均故障间隔时间MTBF，采用指数分布试验方案，任务可靠性验证试验验证对象一般为装备的任务可靠度RM，采用二项分布试验方案。由于两种不同参数验证试验的统计学原理和试验方法不同，往往单独开展，这将带来大量时间资源的浪费以及不可避免的重复性工作，同时对装备产品的交付以及投入使用造成延误。
技术实现思路
基于此，有必要针对任务可靠性和基本可靠性验证试验单独开展造成资源浪费的问题，提供一种可靠性综合验证试验方法、装置、电子设备及存储介质。一种可靠性综合验证试验方法，包括：确定可靠性综合试验剖面；根据待验证的基本可靠性指标和预设的基本可靠性验证方案确定第一试验时长；根据待验证的任务可靠性指标、预设的任务可靠性验证方案以及所述第一试验时长确定第二试验时长，其中，所述第二试验时长大于所述第一试验时长；基于所述可靠性综合试验剖面进行所述第一试验时长的基本可靠性验证以及所述第二试验时长的任务可靠性验证，且所述基本可靠性验证对应的时间段位于所述任务可靠性验证对应的时间段内。在其中一个实施例中，所述确定可靠性综合试验剖面的步骤包括：根据待测产品的使用条件确定若干任务剖面；获取与若干所述任务剖面对应的若干环境剖面；将若干所述环境剖面转化为若干可靠性试验剖面；将若干所述可靠性试验剖面加权合成可靠性综合试验剖面。在其中一个实施例中，所述方法还包括：根据预设的所述基本可靠性验证方案确定第一目标参数，所述第一目标参数为基本可靠性验证对应的目标参数。在其中一个实施例中，所述根据待验证的基本可靠性指标和预设的基本可靠性验证方案确定第一试验时长的步骤之后，所述方法还包括：根据所述第一试验时长和所述可靠性综合试验剖面的时长获取第一循环数；所述根据待验证的任务可靠性指标、预设的任务可靠性验证方案以及所述第一试验时长确定第二试验时长的步骤包括：根据待验证的任务可靠性指标和预设的任务可靠性验证方案之间的预设条件，确定循环数与第二目标参数的数组；从所述数组中获取大于等于所述第一循环数的循环数的最小值，以所述数组中大于等于所述第一循环数的循环数的最小值作为第二循环数，所述第二循环数为所述任务可靠性验证中循环验证的次数；根据所述第二循环数以及所述可靠性综合试验剖面的时长确定第二试验时长。在其中一个实施例中，在从所述数组中获取大于等于所述第一循环数的循环数的最小值，以所述数组中大于等于所述第一循环数的循环数的最小值作为第二循环数的步骤之后，所述方法还包括：从所述数组中获取与所述第二循环数对应的第二目标参数，以与所述第二循环数对应的第二目标参数作为任务可靠性验证对应的目标参数。在其中一个实施例中，在基于所述可靠性综合试验剖面进行所述第一试验时长的基本可靠性验证的步骤之后，所述方法还包括：结合所述第一目标参数判断基本可靠性验证是否通过。在其中一个实施例中，在基于所述可靠性综合试验剖面进行所述第二试验时长的任务可靠性验证的步骤之后，所述方法还包括：结合所述任务可靠性验证的目标参数判断任务可靠性验证是否通过。在其中一个实施例中，在基于所述可靠性综合试验剖面进行所述第一试验时长的基本可靠性验证以及所述第二试验时长的任务可靠性验证的步骤之后，所述方法还包括：根据基本可靠性验证结果对所述待验证的基本可靠性指标进行评估，以及根据任务可靠性验证结果对所述待验证的任务可靠性指标进行评估。一种可靠性综合验证试验装置，包括：第一确定单元，用于确定可靠性综合试验剖面；第二确定单元，用于根据待验证的基本可靠性指标和预设的基本可靠性验证方案确定第一试验时长；第三确定单元，用于根据待验证的任务可靠性指标、预设的任务可靠性验证方案以及所述第一试验时长确定第二试验时长，其中，所述第二试验时长大于所述第一试验时长；验证单元，用于基于所述可靠性综合试验剖面进行所述第一试验时长的基本可靠性验证以及所述第二试验时长的任务可靠性验证，其中，所述基本可靠性验证对应的时间段位于所述任务可靠性验证对应的时间段内。一种电子设备，包括：存储器和处理器，所述存储器和所述处理器互相通信连接，所述存储器中存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而执行上述的可靠性综合验证试验方法。一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机指令，所述计算机指令被处理器执行时实现如上述的可靠性综合验证试验方法。上述可靠性综合验证试验方法，首先确定可靠性综合试验剖面，该可靠性综合试验剖面同时适用于基本可靠性验证和任务可靠性验证；然后根据待验证的基本可靠性指标和预设的基本可靠性验证方案确定第一试验时长；再根据待验证的任务可靠性指标、预设的任务可靠性验证方案以及第一试验时长确定第二试验时长，并且，第二试验时长大于所述第一试验时长；最后基于确定好的可靠性综合试验剖面进行第一试验时长的基本可靠性验证以及第二试验时长的任务可靠性验证，且基本可靠性验证对应的时间段位于任务可靠性验证对应的时间段内。即是说，基于同一个可靠性综合试验剖面，在第二试验时长内全程进行任务可靠性验证，在第二试验时长中的第一试验时长内同时进行基本可靠性验证，由此实现基本可靠性验证和任务可靠性验证的结合，无需单独开展基本可靠性验证和任务可靠性验证，节约了大量的试验时间，避免了资源成本的浪费。另外，第一试验时长和第二试验时长均是根据待验证的可靠性指标和预设的验证方案来确定的，因此同时保障了该综合验证验证方法的验证结果的准确性。附图说明图1为本申请一种实施例提供的可靠性综合验证试验方法的流程示意图；图2为本申请提供的可靠性综合验证试验方法中步骤S20一种实施方式的流程示意图；图3为本申请提供的可靠性综合验证试验方法中步骤S20一种实施方式对应的结构示意图；图4为本申请提供的可靠性综合验证试验方法中形成的可靠性综合验证试验剖面的一个具体示例；图5为本申请另一种实施例提供的可靠性综合验证试验方法的流程示意图；图6为本申请一种实施例提供的可靠性综合验证试验方法的流程示意图；图7为本申请一种实施例提供的可靠性综合验证试验方法的流程示意图；图8为本申请一种实施例提供的可靠性综合验证试验装置的结本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可靠性综合验证试验方法，其特征在于，所述方法包括：/n确定可靠性综合试验剖面；/n根据待验证的基本可靠性指标和预设的基本可靠性验证方案确定第一试验时长；/n根据待验证的任务可靠性指标、预设的任务可靠性验证方案以及所述第一试验时长确定第二试验时长，其中，所述第二试验时长大于所述第一试验时长；/n基于所述可靠性综合试验剖面进行所述第一试验时长的基本可靠性验证以及所述第二试验时长的任务可靠性验证，且所述基本可靠性验证对应的时间段位于所述任务可靠性验证对应的时间段内。/n

【技术特征摘要】
1.一种可靠性综合验证试验方法，其特征在于，所述方法包括：
确定可靠性综合试验剖面；
根据待验证的基本可靠性指标和预设的基本可靠性验证方案确定第一试验时长；
根据待验证的任务可靠性指标、预设的任务可靠性验证方案以及所述第一试验时长确定第二试验时长，其中，所述第二试验时长大于所述第一试验时长；
基于所述可靠性综合试验剖面进行所述第一试验时长的基本可靠性验证以及所述第二试验时长的任务可靠性验证，且所述基本可靠性验证对应的时间段位于所述任务可靠性验证对应的时间段内。


2.根据权利要求1所述的可靠性综合验证试验方法，其特征在于，所述确定可靠性综合试验剖面的步骤包括：
根据待测产品的使用条件确定若干任务剖面；
获取与若干所述任务剖面对应的若干环境剖面；
将若干所述环境剖面转化为若干可靠性试验剖面；
将若干所述可靠性试验剖面加权合成可靠性综合试验剖面。


3.根据权利要求1所述的可靠性综合验证试验方法，其特征在于，所述方法还包括：根据预设的所述基本可靠性验证方案确定第一目标参数，所述第一目标参数为基本可靠性验证对应的目标参数。


4.根据权利要求1所述的可靠性综合验证试验方法，其特征在于，所述根据待验证的基本可靠性指标和预设的基本可靠性验证方案确定第一试验时长的步骤之后，所述方法还包括：
根据所述第一试验时长和所述可靠性综合试验剖面的时长获取第一循环数；
所述根据待验证的任务可靠性指标、预设的任务可靠性验证方案以及所述第一试验时长确定第二试验时长的步骤包括：
根据待验证的任务可靠性指标和预设的任务可靠性验证方案之间的预设条件，确定循环数与第二目标参数的数组；
从所述数组中获取大于等于所述第一循环数的循环数的最小值，以所述数组中大于等于所述第一循环数的循环数的最小值作为第二循环数，所述第二循环数为所述任务可靠性验证中循环验证的次数；
根据所述第二循环数以及所述可靠性综合试验剖面的时长确定第二试验时长。


5.根据权利要求4所述的可靠性综合验证试验方法，其特征在于，在从所述数组中获取大于等于所述第一循环数的循环数的最小值，以所述数组中大于等于所述第一循环数的循环数的最小值作为第二循环数的...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴栋，胡湘洪，孙思琦，方娜，赵靖，邝志礼，张蕊，时钟，王春辉，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：广东;44