【技术实现步骤摘要】
设备寿命量化方法、装置、计算机设备和存储介质
本申请涉及可靠性评估
，特别是涉及一种设备寿命量化方法、装置、计算机设备和存储介质。
技术介绍
随着微电子技术的发展，微电子设备已经广泛应用于各行各业中，为提高微电子器件的高效运行，微电子设备的可靠性评估受到了关注，其中微电子设备中的电路板产品的可靠性评估尤为突出。电路板产品的可靠性评估通常是针对电路板产品的互连失效进行的可靠性评估，互连失效指的是因为热循环疲劳、振动疲劳而导致的电路板上器件的管脚断裂、焊点开裂、通孔失效等失效模式引起的电路板失效。现有技术中，通常是利用CalcePWA软件对电路板产品的互连失效分布开展仿真分析，得到电路板上每个元器件的焊点失效寿命仿真值。然而，通过每个元器件的焊点失效寿命仿真值，无法准确地反映整个电路板的综合可靠性。
技术实现思路
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种设备寿命量化方法、装置、计算机设备和存储介质。第一方面，提供一种设备寿命量化方法，该方法包括：分别对设备中各器件的热疲劳失效时刻数据和振...
【技术保护点】
1.一种设备寿命量化方法，其特征在于，所述方法包括：/n分别对设备中各器件的热疲劳失效时刻数据和振动疲劳失效时刻数据进行累积损伤分析，得到累积后的热疲劳失效时刻数据和累积后的振动疲劳失效时刻数据；/n对各所述器件的所述累积后的热疲劳失效时刻数据和所述累积后的振动疲劳失效时刻数据进行故障分布拟合，得到各所述器件的热疲劳寿命分布函数和振动疲劳寿命分布函数；/n对各所述器件的热疲劳寿命分布函数和振动疲劳寿命分布函数进行故障融合，得到各所述器件的寿命概率密度函数；/n对所述设备中所有器件的寿命概率密度函数进行故障融合，得到所述设备的寿命概率密度函数；所述设备的寿命概率密度函数用于获...
【技术特征摘要】
1.一种设备寿命量化方法，其特征在于，所述方法包括：
分别对设备中各器件的热疲劳失效时刻数据和振动疲劳失效时刻数据进行累积损伤分析，得到累积后的热疲劳失效时刻数据和累积后的振动疲劳失效时刻数据；
对各所述器件的所述累积后的热疲劳失效时刻数据和所述累积后的振动疲劳失效时刻数据进行故障分布拟合，得到各所述器件的热疲劳寿命分布函数和振动疲劳寿命分布函数；
对各所述器件的热疲劳寿命分布函数和振动疲劳寿命分布函数进行故障融合，得到各所述器件的寿命概率密度函数；
对所述设备中所有器件的寿命概率密度函数进行故障融合，得到所述设备的寿命概率密度函数；所述设备的寿命概率密度函数用于获取所述设备的寿命量化结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
获取所述设备各器件在多个温度段下的热疲劳失效时刻数据，和，在多个振动量下的振动疲劳失效时刻数据。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述分别对设备中各器件的热疲劳失效时刻数据进行累积损伤分析，得到累积后的热疲劳失效时刻数据，包括：
针对所述设备的第i个器件，计算各温度段占所有温度段的温度时间比例；每个所述温度段均包括Q个热疲劳失效时刻数据，且不同的热疲劳失效时刻数据对应不同的标识；
将各所述温度段的每个热疲劳失效时刻数据均乘以对应的温度时间比例，得到各所述温度段的Q个目标热疲劳失效时刻数据；
将相同标识对应的各所述温度段的目标热疲劳失效时刻数据进行累加，得到Q个所述累积后的热疲劳失效时刻数据。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述分别对设备中各器件的振动疲劳失效时刻数据进行累积损伤分析，得到累积后的振动疲劳失效时刻数据，包括：
针对所述设备的第i个器件，计算各振动量占所有振动量的振动时间比例；每个所述振动量均包括Q个振动疲劳失效时刻数据，且不同的振动疲劳失效时刻数据对应不同的标识；
将各所述振动量的每个振动疲劳失效时刻数据均乘以对应的振动时间比例，得到各所述振动量的Q个目标振动疲劳失效时刻数据；
将相同标识对应的各所述振动量的目标振动疲劳失效时刻数据进行累加，得到Q个所述累积后的振动疲劳失效时刻数据。
5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述对各所述器件的所述累积后的热疲劳失效时刻数据和所述累积后的振动疲劳失效时刻数据进行故障分布拟合，得到各所述器件的热疲劳寿命分布函数和振动疲劳寿命分布函数，包括：
采用指数分布拟合算法，对各所述器件的所述累积后的热疲劳失效时刻数据进行分布拟合，得到所述设备中各器件的热疲劳寿命分布函数；
采用指数分布拟合算法，对各所述器件的所述累积后的振动疲劳失效时刻数...
【专利技术属性】
技术研发人员：汪凯蔚，沈峥嵘，何宗科，胡湘洪，吴栋，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：广东;44
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。