复杂电子系统可靠性量化方法、装置和计算机设备制造方法及图纸

技术编号:25690660 阅读:33 留言:0更新日期:2020-09-18 21:02
本申请涉及一种复杂电子系统可靠性量化方法、装置和计算机设备。本方法包括:计算机设备通过根据预设的紧缩系统确定规则,构建全系统对应的紧缩系统;根据紧缩系统的设备参数和全系统的设备参数,确定紧缩系统的试验方案;根据紧缩系统的试验方案对紧缩系统进行可靠性试验,并根据可靠性试验的试验结果计算得到紧缩系统的量化值,以表征紧缩系统对应的全系统的可靠性。在本方法中,由于计算机设备根据紧缩系统的确定规则构建全系统的紧缩系统,得到的紧缩系统保留了全系统中进行可靠性量化试验必要的组成结构,从而使得紧缩系统的可靠性试验结果更加贴合全系统的可靠性试验结果,提高了可靠性试验结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
复杂电子系统可靠性量化方法、装置和计算机设备
本申请涉及可靠性试验
,特别是涉及一种复杂电子系统可靠性量化方法、装置和计算机设备。
技术介绍
随着科学技术的发展,对于有可靠性指标要求的任务系统,特别是任务关键的或新技术含量较高的大型复杂的任务系统进行可靠性量化试验,验证其设计是否达到规定的可靠性要求,成为了本领域技术人员的热门研究课题。可靠性量化试验应尽可能在大型复杂的任务系统上进行,以充分考核该任务系统中各设备的测试端口的情况,提高大型复杂的任务系统的可靠性量化结果的准确性。现有技术中,一般通过对大型复杂的任务系统的各个设备依次进行可靠性量化试验,得到各个设备的可靠性量化结果,再由各个设备的可靠性量化结果反映大型复杂的任务系统的可靠性。但是,由于大型复杂的任务系统由多个设备组成,各个设备之间存在交互影响,因此,上述技术中由各个设备的可靠性量化结果反映大型复杂的任务系统的可靠性并不准确。
技术实现思路
基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够准确反映大型复杂的任务系统的可靠性的复杂电子系统可本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种复杂电子系统可靠性量化方法,其特征在于,所述方法包括:/n根据预设的紧缩系统确定规则,构建全系统对应的紧缩系统;所述紧缩系统指的是对所述全系统的组成规模进行缩减,构成的能够保持所述全系统功能的新系统;/n根据所述紧缩系统的设备参数和所述全系统的设备参数,确定所述紧缩系统的试验方案;/n根据所述紧缩系统的试验方案对所述紧缩系统进行可靠性试验,并根据所述可靠性试验的试验结果,计算得到所述紧缩系统的量化值;所述量化值用于表征所述紧缩系统对应的全系统的可靠性。/n

【技术特征摘要】
1.一种复杂电子系统可靠性量化方法,其特征在于,所述方法包括:
根据预设的紧缩系统确定规则,构建全系统对应的紧缩系统;所述紧缩系统指的是对所述全系统的组成规模进行缩减,构成的能够保持所述全系统功能的新系统;
根据所述紧缩系统的设备参数和所述全系统的设备参数,确定所述紧缩系统的试验方案;
根据所述紧缩系统的试验方案对所述紧缩系统进行可靠性试验,并根据所述可靠性试验的试验结果,计算得到所述紧缩系统的量化值;所述量化值用于表征所述紧缩系统对应的全系统的可靠性。


2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设的紧缩系统确定规则包括:性能等效、可检测性、硬件全面性、最大紧缩比、保留测试端口、应用软件一致以及具备自检测BIT功能;
所述性能等效指的是所述紧缩系统应满足与所述全系统的功能、性能等效的基本原则;
所述可检测性指的是所述紧缩系统应满足进行性能检测的要求;
所述硬件全面性指的是所述紧缩系统紧缩应包括所述全系统的所有类型的硬件;
所述最大紧缩比指的是所述紧缩系统中的设备构成与所述全系统中的设备构成之比,应达到最大值;
所述保留测试端口指的是所述紧缩系统中应保留所述全系统中的所有的测试端口;
所述应用软件一致指的是所述紧缩系统的应用软件应与所述全系统的应用软件应保持一致;
所述具备自检测BIT功能指的是所述紧缩系统应具备BIT功能。


3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述设备参数包括设备数量、失效率预计值以及失效率分配值;所述根据所述紧缩系统的设备参数和所述全系统的设备参数,确定所述紧缩系统的试验方案,包括:
根据所述紧缩系统的设备参数和所述全系统的设备参数,计算所述紧缩系统的试验指标;所述紧缩系统的试验指标用于表征所述紧缩系统的试验规模;
根据所述紧缩系统的试验指标,确定所述紧缩系统的试验时间,并根据所述试验时间确定所述紧缩系统的试验方案。


4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述紧缩系统的设备参数和所述全系统的设备参数,计算所述紧缩系统的试验指标,包括:
根据所述紧缩系统的设备数量和所述紧缩系统中各个设备的失效率预计值,计算得到所述紧缩系统的设备失效率;
根据所述全系统的设备数量和各所述全系统中各个设备的失效率预计值,计算得到所述全系统的设备失效率;
根据所述紧缩系统的设备失效率、所述全系统的设备失效率和所述紧缩系统中各个设备的失效率分配值之和,计算所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:沈峥嵘张蕊黄永华李劲何宗科时钟张玄
申请(专利权)人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室
类型:发明
国别省市:广东;44

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