用于测量物体质心、形心和质心偏移量的测量机构制造技术

技术编号:2566077 阅读:278 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种用于测量物体质心、形心和质心偏移量的测量机构,其特征在于:该测量机构包括设置在测试台上的旋转托盘(3)、环绕旋转托盘圆心以均布方式设置在旋转托盘上的三个用于测量质心的称重传感器(4)、以及通过竖直设置的导向立柱(1)以水平方式安装在测试台上的用于测量形心的测量尺;所述测量尺的尺杆(2)为伸缩式结构,尺杆以上、下位移的动配合方式安装在导向立柱(1)上。由于本发明专利技术采用了在同一个测试台上对物体的质心、形心进行测量,使二者有一个共同的测量基准,通过在二者之间建立直接的数学关系,来解决质心、形心和质心偏移量的测量问题,实现质心相对于形心偏移量的准确计算。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于测量物体质心、形心和质心偏移量的测量机构
技术介绍
物体的质心、形心及其质心偏移量(质心偏移量即质心相对于形心的距离,在垂直轴线的平面上投影)的测量多用在军品上,比如各类弹头的质量特性参数测量等,这些参数的准确测量对于提高产品质量,提高发射精度是必不可少的。目前测量质心多数采用三个(或多个)称重传感器或采用天平原理。由于传感器灵敏度不断的提高,其质心的位置测量已经比较准确。形心测量采用位移传感器,当旋转体旋转时,由位移传感器测量距旋转中心的距离变化量,将距离的变化量采用数学处理方法,即可得出旋转体在该截面的几何形心。采用上述方法虽然分别解决了质心和形心的测量问题,但对于质心偏移量的计算还存在一个关键的问题,即质心与形心的基准不同,无法精确得到质心偏移量的数值。质心的基准是通过三个传感器中心的重力轴,形心的基准是旋转轴,如果分别测量将无法保证二者的基准一致,也难以在二者之间建立直接的数学关系,这样就无法准确地计算质心相对于形心的偏移量。为改进上述不足,提出了新的结构,将质心测量和形心测量组合在一个测量台上,在转台下方固定称重传感器,通过可升降柱销穿过转台放置本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量物体质心、形心和质心偏移量的测量机构,其特征在于:该测量机构包括设置在测试台上的旋转托盘(3)、环绕旋转托盘圆心以均布方式设置在旋转托盘上的三个用于测量质心的称重传感器(4)、以及通过竖直设置的导向立柱(1)以水平方式安装在测试台上的用于测量形心的测量尺;所述测量尺的尺杆(2)为伸缩式结构,尺杆以上、下位移的动配合方式安装在导向立柱(1)上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李祥云费星如卢志辉孙志扬葛静薄悦乔永强游广飞陈超
申请(专利权)人:郑州机械研究所
类型:发明
国别省市:41[中国|河南]

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