透镜焦距的测量装置及其测量方法和光学质量评估方法制造方法及图纸

一种透镜焦距的测量装置及其测量方法和光学质量评估方法，该透镜焦距的测量装置由平面反射镜、待测透镜、点光源、竖直刀口、一维精密平移导轨、激光测距仪、ＣＣＤ探测器和显示器组成，透镜焦距的测量方法包括①调节点光源与待测透镜自准直；②调节平面反射镜使透反会聚光束进入所述的ＣＣＤ探测器；③测量待测透镜的焦深；④测量点光源到待测透镜的几何主面的距离Ｌ；⑤计算待测透镜的焦距：ｆ＝Ｌ＋ｄ，该ｄ为透镜几何主面和光学主平面的距离。通过观察远场焦斑形状，定性地评估待测透镜的光学加工质量。该装置和方法适用于小口径短焦距和大口径长焦距透镜的测量和评估，具有直观、测量精度高、机构简单等特点。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种透镜焦距的测量装置，特征在于其构成包括：平面反射镜（５）、待测透镜（４）、点光源（１）、竖直刀口（２）、一维精密平移导轨（３）、激光测距仪（６）、ＣＣＤ探测器（７）和显示器（８），其位置关系如下：平面反射镜（５）和待测透镜（４）竖直地安装在一个平台上，点光源（１）、竖直刀口（２）、激光测距仪（６）和ＣＣＤ探测器（７）都固定在光学调整架上，该调整架又安装在所述的一维精密平移导轨（３）上，该一维精密平移导轨（３）沿所述的待测透镜（４）主轴线方向并在其焦点的下方设置，该一维精密平移导轨（３）的移动方向与待测透镜（４）主轴线平行，所述的点光源（１）、竖直刀口（２）和激光测距仪（６）的测量零点保证在...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：庞向阳，沈卫星，王聪瑜，林尊琪，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]