负透镜焦距测试装置制造方法及图纸

技术编号:10087174 阅读:192 留言:0更新日期:2014-05-27 01:36
本实用新型专利技术涉及一种负透镜焦距测试装置,该负透镜焦距测试装置包括光源、目标模拟系统、监视系统以及数据采集及处理系统;目标模拟系统以及监视系统依次设置在光源的出射光路上;监视系统与数据采集及处理系统相连;待测负透镜设置在目标模拟系统与监视系统之间。本实用新型专利技术提供了一种误差小以及测量效率高的负透镜焦距测试装置。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术涉及一种负透镜焦距测试装置,该负透镜焦距测试装置包括光源、目标模拟系统、监视系统以及数据采集及处理系统;目标模拟系统以及监视系统依次设置在光源的出射光路上;监视系统与数据采集及处理系统相连;待测负透镜设置在目标模拟系统与监视系统之间。本技术提供了一种误差小以及测量效率高的负透镜焦距测试装置。【专利说明】负透镜焦距测试装置
本专利技术属光学测试领域,涉及一种负透镜焦距测试装置,尤其涉及一种长焦负透镜焦距测试装置。
技术介绍
负透镜是光测设备中的常用光学元件,其加工完成后,焦距是一项重要的参数,其焦距加工的准确与否,直接影响整个光路的对接。传统测试方法:对短焦负透镜焦距的测试,通常采用平行光管与长工作距显微镜组成的测试系统,用放大率法对其焦距进行测试;而对长焦负透镜焦距的测试,一般采用附加透镜法进行测试,采用一个焦距比负透镜焦距长的正透镜组成伽利略望远系统,使其离焦量为零,通过测试其视放大率,间接测量负透镜焦距,这种方法需要正负透镜对接,调整步骤复杂,且测量主要误差来源是正透镜的焦距误差,该测试方法耗时耗力,效率低下,精度也相对较低。
技术实现思路
为了解决
技术介绍
中存在的上述技术问题,本专利技术提供了一种误差小以及测量效率高的负透镜焦距测试装置。本专利技术的技术解决方案是:本专利技术提供了一种负透镜焦距测试装置,其特殊之处在于:所述负透镜焦距测试装置包括光源、目标模拟系统、监视系统以及数据采集及处理系统;所述目标模拟系统以及监视系统依次设置在光源的出射光路上;所述监视系统与数据采集及处理系统相连;待测负透镜设置在目标模拟系统与监视系统之间。上述目标模拟系统包括玻罗板以及平行光管;所述玻罗板以及平行光管依次设置在光源的出射光路上。上述玻罗板设置在平行光管的焦面上。上述监视系统包括变焦镜头以及图像传感器;待测负透镜、变焦镜头以及图像传感器设置在同一光路上;所述图像传感器与数据采集及处理系统相连。上述图像传感器是带有双线瞄准的图像传感器。上述数据采集及处理系统包括测长机构以及与测长机构相连的采集控制计算机;所述图像传感器与采集控制计算机相连。本专利技术的优点在于:本专利技术提供了一种负透镜焦距测试装置,利用平行光管、变焦镜头、图像传感器、采集控制计算机组合,采用放大率法实现对长焦负透镜焦距的测量;采用变焦镜头和图像传感器组成的监视系统,避免了人眼瞄准视觉疲劳引入的误差。采用该装置,自动化程度高,适合长焦负透镜焦距的测量,提高工作效率。采用该装置,无附加透镜的影响,测量精度进一步提高。本专利技术所提供的长焦负透镜焦距的测试方法,解决了附加透镜法测试的不足,极大地提高了工作效率和焦距测试精度。【专利附图】【附图说明】图1是本专利技术所提供的负透镜焦距测试装置的原理示意图;其中:1-光源;2_玻罗板;3_平行光管;4_待测负透镜;5_变焦镜头;6_图像传感器;7-测长机构;8_采集控制计算机。【具体实施方式】参见图1,本专利技术提供了一种负透镜焦距测试装置,其特殊之处在于:负透镜焦距测试装置包括光源1、目标模拟系统、监视系统以及数据采集及处理系统;目标模拟系统以及监视系统依次设置在光源I的出射光路上;监视系统与数据采集及处理系统相连;待测负透镜4设置在目标模拟系统与监视系统之间。目标模拟系统包括玻罗板2以及平行光管3;玻罗板2以及平行光管3依次设置在光源I的出射光路上。玻罗板2设置在平行光管3的焦面上。监视系统包括变焦镜头5以及图像传感器6 ;待测负透镜4、变焦镜头5以及图像传感器6设置在同一光路上;图像传感器6与数据采集及处理系统相连。图像传感器6是带有双线瞄准的图像传感器6。数据采集及处理系统包括测长机构7以及与测长机构7相连的采集控制计算机8 ;图像传感器6与采集控制计算机8相连。测长机构7是目前常用的各种能够测量长度的器件。工作时,开启光源1,照明焦面上装有玻罗板2的平行光管3,将待测负透镜4置于平行光管3前,待测负透镜4对玻罗板2成虚像,由变焦镜头5和图像传感器6组成的监视系统对其进行监视。调节变焦镜头5,使其监视面与玻罗板2经待测负透镜4所成像面重合,用带有双线瞄准的图像传感器6瞄准玻罗板像线对中的一条,使测长机构7清零,再用图像传感器6瞄准玻罗板像线对中的另一条,记录测长机构7所测长度,则负透镜的焦距f'为:【权利要求】1.一种负透镜焦距测试装置,其特征在于:所述负透镜焦距测试装置包括光源、目标模拟系统、监视系统以及数据采集及处理系统;所述目标模拟系统以及监视系统依次设置在光源的出射光路上;所述监视系统与数据采集及处理系统相连;待测负透镜设置在目标模拟系统与监视系统之间。2.根据权利要求1所述的负透镜焦距测试装置,其特征在于:所述目标模拟系统包括玻罗板以及平行光管;所述玻罗板以及平行光管依次设置在光源的出射光路上。3.根据权利要求2所述的负透镜焦距测试装置,其特征在于:所述玻罗板设置在平行光管的焦面上。4.根据权利要求1或2或3所述的负透镜焦距测试装置,其特征在于:所述监视系统包括变焦镜头以及图像传感器;待测负透镜、变焦镜头以及图像传感器设置在同一光路上;所述图像传感器与数据采集及处理系统相连。5.根据权利要求4所述的负透镜焦距测试装置,其特征在于:所述图像传感器是带有双线瞄准的图像传感器。6.根据权利要求5所述的负透镜焦距测试装置,其特征在于:所述数据采集及处理系统包括测长机构以及与测长机构相连的采集控制计算机;所述图像传感器与采集控制计算机相连。【文档编号】G01M11/02GK203606110SQ201320803416【公开日】2014年5月21日 申请日期:2013年12月6日 优先权日:2013年12月6日 【专利技术者】陈永权, 段亚轩, 袁湘兰, 李坤, 赵建科, 赛建刚, 胡丹丹, 龙江波, 昌明, 薛勋, 周艳, 张洁 申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种负透镜焦距测试装置,其特征在于:所述负透镜焦距测试装置包括光源、目标模拟系统、监视系统以及数据采集及处理系统;所述目标模拟系统以及监视系统依次设置在光源的出射光路上;所述监视系统与数据采集及处理系统相连;待测负透镜设置在目标模拟系统与监视系统之间。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈永权段亚轩袁湘兰李坤赵建科赛建刚胡丹丹龙江波昌明薛勋周艳张洁
申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
类型:实用新型
国别省市:

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