高功率半导体激光器测试系统技术方案

高功率半导体激光器测试系统属于高功率半导体激光器测试装置领域，该系统包括噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、控制单元、制冷器驱动单元、RS232、PC机、温度控制器和温度采集单元；噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器分别与高功率半导体激光器相连，控制单元分别与噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、RS232、制冷器驱动单元相连，制冷器驱动单元与制冷器相连，PC机分别与RS232、温度控制器相连，温度采集单元分别与高功率半导体激光器、温度控制器相连。本实用新型专利技术的测试系统由于采用温度控制器，所以能够在激光器工作时温度变化的情况下，实时准确测出激光器的噪声、光谱、光功率等性能指标。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】高功率半导体激光器测试系统属于高功率半导体激光器测试装置领域，该系统包括噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、控制单元、制冷器驱动单元、RS232、PC机、温度控制器和温度采集单元；噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器分别与高功率半导体激光器相连，控制单元分别与噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、RS232、制冷器驱动单元相连，制冷器驱动单元与制冷器相连，PC机分别与RS232、温度控制器相连，温度采集单元分别与高功率半导体激光器、温度控制器相连。本技术的测试系统由于采用温度控制器，所以能够在激光器工作时温度变化的情况下，实时准确测出激光器的噪声、光谱、光功率等性能指标。【专利说明】高功率半导体激光器测试系统
本技术属于高功率半导体激光器测试装置领域，具体涉及一种高功率半导体激光器测试系统。
技术介绍
高功率半导体激光器的性能测试主要是指对正常工作状态下高功率半导体激光器的噪声、光谱、光功率指标测试。然而，现有的高功率半导体激光器可靠性检测方法通常仅局限于对激光器噪声、光谱、光功率指标等光电特性的测量，但其测试内容并不包含在温度控制系统正常工作时对激光器的影响。
技术实现思路
为了解决现有的高功率半导体激光器可靠性检测方法通常仅局限于对激光器噪声、光谱、光功率指标等光电特性的测量，但其测试内容并不包含在温度控制系统正常工作时对激光器的影响的技术问题，本技术提供一种高功率半导体激光器测试系统。本技术解决技术问题所采取的技术方案如下:高功率半导体激光器测试系统包括噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、控制单元、制冷器驱动单元、RS232、PC机、温度控制器和温度采集单元，其特征在于，所述噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器分别与高功率半导体激光器相连，所述控制单元分别与噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、RS232、制冷器驱动单元相连，所述制冷器驱动单元与制冷器相连，所述PC机分别与RS232、温度控制器相连，所述温度采集单元分别与高功率半导体激光器、温度控制器相连。本技术的有益效果是:该高功率半导体激光器测试系统由于采用温度控制器，所以能够在激光器工作时温度变化的情况下，实时准确测出激光器的噪声、光谱、光功率等性能指标。【专利附图】【附图说明】图1是本技术高功率半导体激光器测试系统的结构框图。【具体实施方式】下面结合附图对本技术做进一步详细说明。如图1所示，本技术的高功率半导体激光器测试系统包括噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、控制单元、制冷器驱动单元、RS232、PC机、温度控制器和温度采集单元，所述噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器分别与高功率半导体激光器相连，所述控制单元分别与噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、RS232、制冷器驱动单元相连，所述制冷器驱动单元与制冷器相连，所述PC机分别与RS232、温度控制器相连，所述温度采集单元分别与高功率半导体激光器、温度控制器相连。其中，噪声检测单元采用概伦电子科技有限公司推出的低频1/f噪声测试系统9812D，单色仪采用卓立汉光的SSM系列单色仪，光功率计采用青岛东方佳讯光电有限公司的TAM8712P0N型光功率计，LD驱动电源选用北京wante牌12v蓄电池，控制单元采用PIC16F59型PIC单片机，制冷器驱动单元采用TEC的专用MAX1968驱动芯片，RS232串口选用STD-60241型串口，制冷器采用海南北冰洋电子制冷技术有限公司生产的型号为TES1-4903P半导体制冷器；温度采集单元选用PtlOO热敏电阻，温度控制器采用PIC单片机。具体应用本技术的高功率半导体激光器测试系统时，首先给温度控制器设定一个参考温度数值；LD驱动电源在控制单元的控制下向高功率半导体激光器提供电能，光功率计、单色仪和噪声检测单元分别用于测量高功率半导体激光器的光功率、频谱和噪声，并将测量结果传给控制单元。温度采集单元用于测量高功率半导体激光器的实时温度值，并将实时温度值信号传给温度控制器，温度控制器将收到的实时温度值信号与设定的参考温度数值进行比较，并得出温度控制信号，温度控制器再顺次通过PC机和RS232串口将温度控制信号传给控制单元。控制单元根据温度控制器传来的温度控制信号控制制冷器驱动单元，制冷器根据制冷器驱动单元发来的驱动信号对高功率半导体激光器进行实时加热或制冷控制。PC机还能接收由控制单元发来的光功率值、频谱值、噪声值和温度值信号，并通过自身的显示器实时显示。【权利要求】1.高功率半导体激光器测试系统，包括噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、控制单元、制冷器驱动单元、RS232、PC机、温度控制器和温度采集单元，其特征在于，所述噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器分别与高功率半导体激光器相连，所述控制单元分别与噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、RS232、制冷器驱动单元相连，所述制冷器驱动单元与制冷器相连，所述PC机分别与RS232、温度控制器相连，所述温度采集单元分别与高功率半导体激光器、温度控制器相连。【文档编号】G01M11/02GK203606109SQ201320802774【公开日】2014年5月21日 申请日期:2013年12月9日 优先权日:2013年12月9日 【专利技术者】白端元, 高欣, 薄报学, 周路, 朱海忱 申请人:长春理工大学本文档来自技高网...

【技术保护点】
高功率半导体激光器测试系统，包括噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、控制单元、制冷器驱动单元、RS232、PC机、温度控制器和温度采集单元，其特征在于，所述噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器分别与高功率半导体激光器相连，所述控制单元分别与噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、RS232、制冷器驱动单元相连，所述制冷器驱动单元与制冷器相连，所述PC机分别与RS232、温度控制器相连，所述温度采集单元分别与高功率半导体激光器、温度控制器相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：白端元，高欣，薄报学，周路，朱海忱，
申请(专利权)人：长春理工大学，
类型：实用新型
国别省市：