测量偏振模色散制造技术

本发明专利技术公开了一种用于测量受试器件（ＤＵＴ）内偏振模色散（ＰＭＤ）的装置，包括偏振光源，用于经ＤＵＴ发射测试光束；以及ＰＭＤ分析仪，它采用多种已知技术中的一种，如固定分析仪－傅立叶变换（ＦＡ－ＦＴ）或干涉仪式，以计算ＤＵＴ引起的ＰＭＤ。在光源与ＰＭＤ分析仪之间布置有由多个双折射元件组成的无源消偏器，以生成多个对应于双折射元件所施加时延的载波频率。ＤＵＴ的ＰＭＤ成分存在于每个载波周围，可以对多个ＰＭＤ测量值取平均来获得更为精确且可再现的ＰＭＤ测量值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量偏振模色散(PMD)的装置，具体而言，涉及一种包含消偏 器的PMD测量装置，该消偏器具有多个双折射元件。专利技术背景偏振模色散(尸MZ))是一种类似色散的畸变机制，它会导致单模光纤、光开关及 光隔离器等光学器件对透射光信号产生失真，这可能引起信号随机衰减、复合二次失 真增大以及误码率增加。作为透射光波长之函数的尸MD的相对严重度随着色散处理技 术的进步、传输距离的增大以及比特率的提高而增加。户MD是由光学器件传输路径中的几何不规则及其他双折射现象源引起的差分群时 延(DGD )所致。例如，单模光纤(SMF )在理想情况下是仅支持一种模式的均匀介质。 在实践中，它支持采用正交偏振的两种传输模式。当一光波源向SMF光纤中发送一个 脉沖时，脉冲能量将落在光纤的偏振主态(PSP)上。这两组脉沖能量以不同的速度传 播，因而到达的时间不同，由此导致脉冲展宽和信号失真。当光在其内部传播的光纤 芯部为非对称时，沿一个偏振轴传输的光将慢于沿另一轴偏振的光，这可能导致脉沖 展宽，从而与其他脉冲重叠，或者改变波形，而使接收端无法检测。确定已装光纤的PMD可用于确定光纤传输新的电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量光学受试器件ＤＵＴ的偏振模色散ＰＭＤ的装置，所述测量装置包括：偏振光源，其用于经所述ＤＵＴ发出具有偏振状态的光测试信号；光消偏振装置，其在所述偏振光源与所述光学器件之间，所述光消偏振装置包括：第一双折射元件，其具有与所述光测试信号的所述偏振状态成锐角的欧拉轴；以及第二双折射元件，其具有与所述第一双折射元件的所述欧拉轴及所述光测试信号的所述偏振状态均成锐角的欧拉轴；因此，所述光测试信号包含与所述第一和第二双折射元件所引发时延相关的多个载波分量；以及分析装置，其用于通过对所述多个载波分量取ＰＭＤ平均值的方式计算所述ＤＵＴ的平均ＰＭＤ。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：文森特勒科奇，
申请(专利权)人：安科特纳有限责任公司，
类型：发明
国别省市：US[]