利用时分复用测试信号测试光放大链路制造技术

一种时分复用测量技术被用于有源波分复用负载光学链路中的光谱测量，并提供该链路的性能和光谱参数的瞬时实时相关性，这对于在瞬时效应或偏振模式色散波动期间的链路性能的动态特性是重要的。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种在传输具有多个波长信道的波分复用ＷＤＭ信号时，用于测试光链路的系统，包括：　　　　用于产生探针信号的探针信号发生器；　　　　第一时分复用ＴＤＭ光学开关，用于将所述探针信号和所述ＷＤＭ信号时分复用，以形成ＴＤＭ信号；　　　　第二时分复用ＴＤＭ光学开关，用于在所述ＴＤＭ信号通过该光链路之后将所述探针信号与所述ＷＤＭ信号分离；以及　　　　分析仪，用于从所述第二ＴＤＭ光学开关接收所述探针信号并对所述探针信号实施测试。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：亚历克斯特汝肯，恩里科冈泽尔斯，
申请(专利权)人：安科特纳有限责任公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]