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一种透镜焦距的测量装置及其测量方法和光学质量评估方法，该透镜焦距的测量装置由平面反射镜、待测透镜、点光源、竖直刀口、一维精密平移导轨、激光测距仪、ＣＣＤ探测器和显示器组成，透镜焦距的测量方法包括①调节点光源与待测透镜自准直；②调节平面反射镜...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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