【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光电检测
，具体是一种紫外线强度荧光差分检测方法与装置。
技术介绍
随着科学技术的发展，人们对光谱的研究与利用已经深入了紫外波段。无论是日常紫外 强度的监测，还是实验、医学或军事目的上紫外强度的检测，都突出了紫外线强度计的重要 性。普通的光电池和光电二极管等光电器件的光谱响应在可见光范围，不适合于直接对紫外 线进行检测；光电倍增管虽可以用于紫外线的检测，但其体积较大，并采用高稳定度的高压 电源供电，耗电量大，使用不方便；光热探测器对紫外线的响应度较低，难以检测弱的紫外 线，且不易实用化。近十几年发展起来的以GaP、 GaAsP、 SiC和TK)2等为材料的紫外光探测器在可见光仍 有一定的响应。如G12119、 G1126型紫外光电二极管，其光谱响应范围在190 680"m，峰 值在610"M处。因此，常常在其前面加上滤光玻璃，这会引起紫外线探测灵敏度的降低。在进行太阳光紫外线测量时，往往存在较强的可见光(或称本底光)，这会影响测量的准确度。
技术实现思路
本专利技术的目的在于针对现有紫外线强度检测技术的不足，提供一种简单、实用的紫外线 强度荧...
【技术保护点】
一种紫外线强度荧光差分检测方法，其特征在于采用两个可见光探测器，其中第一可见光探测器的受光表面涂有一层透明均匀的紫外荧光材料薄层，所述紫外荧光材料在紫外线的照射下发射出可见光波段的荧光，第一可见光探测器产生的电信号反映紫外线产生的荧光与可见光的强度之和，第二可见光探测器产生的电信号反映可见光强度，两路电信号经差分放大后得到反映紫外线强度的电信号，该电信号经ＡＤ转换后由单片机换算成紫外线强度。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄佐华，郑永驹，陈宏林，邓小敏，许曼宜，李灶华，
申请(专利权)人：华南师范大学，
类型：发明
国别省市：81
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