一种铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试装置，属于微波元器件测试领域，其装置包括样品杆（1）、谐振器（2）、模拟信号发生器（3）、扫场电源（4）和示波器（5）；其中，所述样品杆（1）置于谐振器（2）中，所述谐振器（2）分别通过数据线与模拟信号发生器（3）和扫场电源（4）连接；所述扫场电源（4）通过数据线与示波器（5）连接，本发明专利技术还公开了采用上述装置进行铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试的方法；本发明专利技术可实现30秒内快速测试出样品的饱和磁化强度，测试准确性良好，能够满足批量化产品分选测试的需求，有利于提高测试及工作效率，具有很强的实用价值。

【技术实现步骤摘要】
一种铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试装置及测试方法
本专利技术涉及微波元器件测试领域，尤其涉及一种铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试装置及测试方法。
技术介绍
随着微波磁性器件的快速发展和广泛应用，对磁性材料产品主要微波特性参数的快速测试不可或缺。微波铁氧体单晶谐振子是YIG磁调谐器件的核心材料；利用微波铁氧体单晶小球谐振子实现的YIG器件在5G通信、电子对抗技术及频谱综合分析仪等高档测试仪器设备中都有重要应用。目前，对微波铁氧体单晶材料的饱和磁化强度性能测试是根据国家军用标准GJB4410-2002进行，采用环秤法或振动样品测量法完成测量。这些现有的测试方法存在以下问题：(1)测试时间较长：环秤法或振动样品磁强计测量饱和磁化强度测试时间一般需要3-5min；(2)对测试样品的尺寸有一定要求：对于直径小于1mm的低饱和磁化强度球形样品很难得到合适的信噪比，实际测试误差可达到±50Gs，远超出YIG器件对谐振子饱和磁化强度偏差的一般要求(≤±25Gs)；(3)难以实现批量检测：目前常用本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试装置，其特征在于：包括样品杆(1)、谐振器(2)、模拟信号发生器(3)、扫场电源(4)和示波器(5)；其中，所述样品杆(1)置于谐振器(2)中，所述谐振器(2)分别通过数据线与模拟信号发生器(3)和扫场电源(4)连接；所述扫场电源(4)通过数据线与示波器(5)连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试装置，其特征在于：包括样品杆(1)、谐振器(2)、模拟信号发生器(3)、扫场电源(4)和示波器(5)；其中，所述样品杆(1)置于谐振器(2)中，所述谐振器(2)分别通过数据线与模拟信号发生器(3)和扫场电源(4)连接；所述扫场电源(4)通过数据线与示波器(5)连接。


2.根据权利要求1所述的铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试装置，其特征在于：所述样品杆(1)中与待测样品球连接部分为耐高温陶瓷材料。


3.根据权利要求1所述的铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试装置，其特征在于：所述谐振器(2)为YIG单级带阻滤波器。


4.采用权利要求1-3任意一项的装置进行铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试方法，其特征在于，包括以下步骤...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏占涛，游斌，姜帆，何志强，张平川，蓝江河，杨陆，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第九研究所，
类型：发明
国别省市：四川;51